[發明專利]熱插拔測試裝置

在審

• 申請號: 201810996898.0
• 申請日: 2018-08-29
• 公開（公告）號: CN110874293A
• 公開（公告）日: 2020-03-10
• 發明（設計）人: 趙言濤;倪勇
• 申請（專利權）人: 北京憶恒創源科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/273
• 代理公司: 北京卓特專利代理事務所(普通合伙) 11572
• 代理人: 段宇

本申請涉及測試技術，更具體地，涉及用于對電子設備的熱插拔功能進行測試的測試裝置，包括：信號開關、電源開關和控制器；所述控制器耦合于所述信號開關和所述電源開關，通過執行測試命令控制所述信號開關和/或所述電源開關的閉合與斷開；所述信號開關用于耦合主機和被測試的電子設備，通過所述信號開關的閉合與斷開控制主機和電子設備之間信號的連通與斷開；所述電源開關用于耦合主機和被測試的電子設備，通過所述電源開關的閉合與斷開控制主機和電子設備之間電源的連通與斷開。通過本申請提供的熱插拔測試裝置可以在電子設備的研發及生產過程中，對其熱插拔功能進行測試，檢驗熱插拔功能是否正確。

技術領域

本申請涉及測試技術，更具體地，涉及用于對電子設備的熱插拔功能進行測試的測試裝置。

背景技術

計算機系統中的多種電子設備支持熱插拔功能。例如，連接到計算機USB(Universal Serial Bus，通用串行總線)端口的諸如鼠標、U盤等設備，連接到PCIe(Peripheral Component Interconnect Express,PCIe，高速外圍組件互聯)總線的板卡等，支持熱插拔功能。連接到PCIe總線的固態硬盤，也提供熱插拔功能。

在支持熱插拔功能的設備的研發及生產過程中，需要對其熱插拔功能進行測試。以檢驗熱插拔功能是否正確。為確保可靠性，熱插拔測試要進行數百乃至上千次。需要專用的測試裝置來實施熱插拔測試。

發明內容

本申請提供的熱插拔測試裝置可以在電子設備的研發及生產過程中，對其熱插拔功能進行測試，檢驗熱插拔功能是否正確。

根據本申請的第一方面，提供了根據本申請第一方面的第一熱插拔測試裝置，包括：信號開關、電源開關和控制器；所述控制器耦合于所述信號開關和所述電源開關，通過執行測試命令控制所述信號開關和/或所述電源開關的閉合與斷開；所述信號開關用于耦合主機和被測試的電子設備，通過所述信號開關的閉合與斷開控制主機和電子設備之間信號的連通與斷開；所述電源開關用于耦合主機和被測試的電子設備，通過所述電源開關的閉合與斷開控制主機和電子設備之間電源的連通與斷開。

根據本申請的第一方面的第一熱插拔測試裝置，其中，所述控制器耦合于主機的電源針腳，通過測試命令控制主機開機或關機。

根據本申請的第一方面的第一或第二熱插拔測試裝置，其中，所述控制器耦合于主機的復位針腳，通過測試命令控制主機重啟。

根據本申請的第一方面的第二或第三熱插拔測試裝置，其中，還包括：繼電器，所述控制器通過所述繼電器耦合于主機的電源針腳或復位針腳。

根據本申請的第一方面的第一至第四熱插拔測試裝置之一，其中，所述信號開關為PCLe信號開關，所述信號開關用于耦合于主機的PCIe插槽的用于傳輸數據的信號針腳和電子設備的PCIe信號針腳；所述電源開關用于耦合主機的PCIe插槽提供電源的針腳和電子設備的電源針腳。

根據本申請的第一方面的第一至第五熱插拔測試裝置之一，其中，所述測試命令包括測試目標和測試模式，所述測試目標指示測試命令要操作的對象，所述測試模式指示對測試目標的操作模式。

根據本申請的第一方面的第六熱插拔測試裝置，其中，所述測試命令包括時間，所述時間指示所述操作模式執行的時間長度。

根據本申請的第一方面的第六或第七熱插拔測試裝置，其中，所述操作模式為閉合、斷開的執行順序。

根據本申請的第一方面的第六或第七熱插拔測試裝置，其中，所述測試命令包括執行次數，所述執行次數指示所述操作模式執行的次數。

根據本申請的第一方面的第六至第九熱插拔測試裝置之一，其中，所述測試命令包括設置模式和模式碼，所述設置模式指示所述控制器根據所述模式碼獲取對應的測試模式，并將獲取的測試模式設置為所述測試命令指示的對測試目標的操作模式。