[發明專利]熱插拔測試裝置在審
| 申請號: | 201810996898.0 | 申請日: | 2018-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN110874293A | 公開(公告)日: | 2020-03-10 |
| 發明(設計)人: | 趙言濤;倪勇 | 申請(專利權)人: | 北京憶恒創源科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司: | 北京卓特專利代理事務所(普通合伙) 11572 | 代理人: | 段宇 |
| 地址: | 100192 北京市海淀區西小口*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 熱插拔 測試 裝置 | ||
1.一種熱插拔測試裝置,包括:信號開關、電源開關和控制器;
所述控制器耦合于所述信號開關和所述電源開關,通過執行測試命令控制所述信號開關和/或所述電源開關的閉合與斷開;
所述信號開關用于耦合主機和被測試的電子設備,通過所述信號開關的閉合與斷開控制主機和電子設備之間信號的連通與斷開;
所述電源開關用于耦合主機和被測試的電子設備,通過所述電源開關的閉合與斷開控制主機和電子設備之間電源的連通與斷開。
2.根據權利要求1所述的熱插拔測試裝置,其中,還包括:繼電器,所述控制器通過所述繼電器耦合于主機的電源針腳或復位針腳。
3.根據權利要求1或2所述的熱插拔測試裝置,其中,所述信號開關用于耦合于主機的PCIe插槽的用于傳輸數據的信號針腳和電子設備的PCIe信號針腳;所述電源開關用于耦合主機的PCIe插槽提供電源的針腳和電子設備的電源針腳。
4.根據權利要求1或2所述的熱插拔測試裝置,其中,所述測試命令包括測試目標和測試模式,所述測試目標指示測試命令要操作的對象,所述測試模式指示對測試目標的操作模式。
5.根據權利要求1或2所述的熱插拔測試裝置,其中,所述測試命令包括設置模式和模式碼,所述設置模式指示所述控制器根據所述模式碼獲取對應的測試模式,并將獲取的測試模式設置為所述測試命令指示的對測試目標的操作模式。
6.根據權利要求5所述的熱插拔測試設備,其中,所述模式碼指示的操作模式為在上電過程中,先閉合電源開關,在指定的時間后,再閉合信號開關;以及在下電過程中,先斷開信號開關,在指定的時間后,再斷開電源開關。
7.根據權利要求1或2所述的熱插拔測試裝置,還包括:第一連接器與第二連接器,所述第一連接器用于連接被測試的所述電子設備的PCIe針腳,所述第二連接器用于連接所述主機的PCIe插槽;
所述信號開關通過所述第一連接器耦合所述電子設備的PCIe信號針腳,通過所述第二連接器耦合所述主機的PCIe信號針腳;
所述電源開關通過所述第一連接器耦合所述電子設備的電源針腳,通過所述第二連接器耦合所述主機的電源針腳。
8.一種熱插拔測試系統,包括:測試控制單元、主機和權利要求1至7任一項所述的熱插拔測試裝置,其中,所述主機通過所述熱插拔測試裝置操作被測試的電子設備,所述測試控制單元耦合于所述熱插拔測試裝置的控制器,并且所述測試控制單元向所述熱插拔測試裝置的控制器提供測試命令。
9.根據權利要求8所述的熱插拔測試系統,其中,所述測試控制單元耦合于所述主機,所述測試控制單元根據所述主機的指示,向所述熱插拔測試設備提供測試命令。
10.根據權利要求8或9任一項所述的熱插拔測試系統,其中,所述主機響應于無法訪問所述電子設備,指示所述測試控制單元獲取所述電子設備的調試信息或執行日志。
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