[發明專利]X射線衍射測量中的測量結果的顯示方法

有效

• 申請號: 201810996814.3
• 申請日: 2018-08-29
• 公開（公告）號: CN109425626B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發明（設計）人: 佐佐木明登;姬田章宏;池田由紀子;長尾圭悟
• 申請（專利權）人: 株式會社理學
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 朱美紅;劉林華

1.一種X射線衍射測量中的測量結果的顯示方法，所述X射線衍射測量是向試樣照射X射線并用X射線檢測器檢測由該試樣衍射的X射線的測量，所述X射線衍射測量中的測量結果的顯示方法的特征在于，

基于前述X射線檢測器的輸出數據，在坐標內，顯示2θ－I分布圖，從而形成一維衍射分布圖，所述坐標在正交坐標軸的一個取衍射角度2θ值，在正交坐標軸的另一個取X射線強度I值；

在二維圖像用坐標內，顯示多個德拜環的各自的周向上的X射線強度數據，從而形成二維衍射圖案，所述二維圖像用坐標在正交坐標軸的一個取衍射角度2θ值，在正交坐標軸的另一個取德拜環的周向的角度β值，所述多個德拜環是由試樣衍射的X射線在各衍射角度2θ形成的；

前述德拜環的周向上的X射線強度數據在前述二維圖像用坐標內被以直線狀顯示；

前述二維衍射圖案和前述一維衍射分布圖以兩者的衍射角度2θ值相互一致的方式排列顯示。

2.如權利要求1所述的X射線衍射測量中的測量結果的顯示方法，其特征在于，

當在前述二維衍射圖案上或前述一維衍射分布圖上被指定了希望放大范圍時，將該被指定的范圍的二維衍射圖案及一維衍射分布圖在相互排列的狀態下以相同的比率進行放大顯示。

3.如權利要求1或2所述的X射線衍射測量中的測量結果的顯示方法，其特征在于，

前述X射線衍射測量是具有下述工序的測量：考慮到德拜環的周向的均勻性而進行晶相候選的檢索。

4.如權利要求3所述的X射線衍射測量中的測量結果的顯示方法，其特征在于，具有：

求出β－I數據的工序；

基于前述β－I數據將與前述德拜環對應的衍射圖案分類到各群組的工序；以及

在相同的群組內進行晶相候選的檢索的工序。