[發明專利]磁浮F軌左右偏移檢測裝置和方法在審
| 申請號: | 201810988794.5 | 申請日: | 2018-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN108759619A | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發明(設計)人: | 劉毅;楊富煒;黃鵬飛 | 申請(專利權)人: | 廣州大鐵銳威科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/02 | 分類號: | G01B5/02 |
| 代理公司: | 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245 | 代理人: | 黃磊;陳宏升 |
| 地址: | 510600 廣東省廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 定位柱 環狀擋板 檢測裝置 左右偏移 定位孔 磁鐵吸引力 定位孔位置 非拉伸狀態 可靠性保障 千分表讀數 通孔橫截面 邊緣橫向 從上到下 環形擋板 位置偏差 頂蓋 擠壓力 上開口 下開口 支持力 中空處 檢測 變小 彈簧 通孔 匹配 鋪設 穿過 | ||
本發明公開了磁浮F軌左右偏移檢測裝置,包括骨架的形狀與磁浮F軌相匹配;通孔的上開口設置有頂蓋,下開口邊緣橫向設置有環狀擋板,其中通孔橫截面的直徑為D1,環狀擋板中空處的直徑為D2;定位柱的下部部分穿過環形擋板,定位柱的橫截面直徑從上到下依次線性變小,彈簧處于非拉伸狀態,本發明的裝置受到向上的擠壓力與待檢測磁浮F軌對本裝置的支持力之和等于本裝置向下的自重和向下的磁鐵吸引力之和,使得定位柱正好定位到定位孔內,通過千分表讀數差值,能夠精確檢測出待測磁浮F軌定位孔位置與標準磁浮F軌定位孔的位置偏差,為后續磁浮F軌精確定位鋪設提供了精確依據和可靠性保障。
技術領域
本發明涉及磁浮軌道檢測技術領域,具體涉及磁浮F軌左右偏移檢測裝置和方法。
背景技術
中低速磁浮F軌在進行精確定位鋪設時,需要控制磁浮F軌左右偏移,確保磁浮F軌整體鋪設后的平順度,使磁浮列車能夠安全、舒適的運行。磁浮F軌精確定位鋪設時,需要借助定位孔確定鋪設的磁浮F軌是否左右偏移。因此,磁浮F軌定位孔的實際位置與設計位置的偏差,直接影響到磁浮F軌精確定位鋪設的精度,從而直接影響到磁浮列車的運行安全和舒適度。因此,為了確保磁浮F軌整體鋪設后的平順度,使磁浮列車能夠安全、舒適的運行,行業內急需一種能夠檢測磁浮F軌定位孔位置的裝置或者儀器。
發明內容
本發明的目的是為了克服以上現有技術存在的不足,提供了磁浮F軌左右偏移檢測裝置。
本發明的另一目的為了克服以上現有技術存在的不足,提供了磁浮F軌左右偏移檢測方法。
本發明的目的通過以下的技術方案實現:
磁浮F軌左右偏移檢測裝置,包括骨架、用于吸附磁浮F軌的磁鐵和能夠伸縮的測距儀本體;其中所述骨架包括定位塊、橫桿和豎桿,橫桿的一端連接定位塊,另一端連接豎桿;所述豎桿用于固定能夠伸縮的測距儀本體;所述骨架的形狀與磁浮F軌相匹配;所述定位塊包括豎直方向上設置的通孔、頂蓋、定位柱、彈簧;所述通孔的上開口設置有頂蓋,下開口邊緣橫向設置有環狀擋板,其中通孔橫截面的直徑為D1,環狀擋板中空處的直徑為D2;所述定位柱的下部部分穿過環形擋板,定位柱的橫截面直徑從上到下依次線性變小,定位柱的橫截面直徑最大值為D3,最小值為D4;同時滿足D1>D3>D2>D4;所述彈簧處于非拉伸狀態,其上端與頂蓋接觸,下端與定位柱的頂部接觸;所述磁鐵設置在骨架的下部。
優選地,所述定位柱為錐形定位柱,錐形定位柱的頂部開有一個凹槽,彈簧的底部置于凹槽中。
優選地,所述測距儀本體為千分表;所述千分表包括軸套、刻度盤和伸縮的觸頭;所述軸套穿過豎桿,所述觸頭的一端設置在軸套內。
優選地,所述磁浮F軌左右偏移檢測裝置還包括:嵌套;所述嵌套設置在通孔內壁和定位柱的上端之間。當定位柱與通孔之間的間隙較大時,為了使定位柱不發生橫向偏移,可設置嵌套;若定位柱與通孔之間的間隙非常小且不影響裝配,則可以不設置嵌套。同時嵌套也可以與通孔一體成型。
優選地,所述磁鐵設置在通孔下開口附近。
本發明的另一目的通過以下的技術方案實現:
磁浮F軌左右偏移檢測方法,包括:
S11,將定位塊貼合在待檢測磁浮F軌上,且定位柱伸入到待檢測磁浮F軌的定位孔內,豎桿放置在待檢測磁浮F軌的側壁外;
S12,轉動千分表使觸頭伸長至待檢測磁浮F軌的外側壁,讀取千分表的讀數X1;
S13,將讀數X1和預先讀取的標定讀數X進行比較,得到位置偏差△X;
S14,根據所述位置偏差△X修正待檢測磁浮F軌的定位孔的位置。
優選地,預先讀取標定讀數X包括:
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