[發明專利]磁浮F軌左右偏移檢測裝置和方法

在審

• 申請號: 201810988794.5
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN108759619A
• 公開（公告）日: 2018-11-06
• 發明（設計）人: 劉毅;楊富煒;黃鵬飛
• 申請（專利權）人: 廣州大鐵銳威科技有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 黃磊;陳宏升

1.磁浮F軌左右偏移檢測裝置，其特征在于：包括骨架、用于吸附磁浮F軌的磁鐵和能夠伸縮的測距儀本體；其中

所述骨架包括定位塊、橫桿和豎桿，橫桿的一端連接定位塊，另一端連接豎桿；所述豎桿用于固定能夠伸縮的測距儀本體；所述骨架的形狀與磁浮F軌相匹配；

所述定位塊包括豎直方向上設置的通孔、頂蓋、定位柱、彈簧；所述通孔的上開口設置有頂蓋，下開口邊緣橫向設置有環狀擋板，其中通孔橫截面的直徑為D1，環狀擋板中空處的直徑為D2；所述定位柱的下部部分穿過環形擋板，定位柱的橫截面直徑從上到下依次線性變小，定位柱的橫截面直徑最大值為D3，最小值為D4；同時滿足D1＞D3＞D2＞D4；所述彈簧處于非拉伸狀態，其上端與頂蓋接觸，下端與定位柱的頂部接觸；

所述磁鐵設置在骨架的下部。

2.根據權利要求1所述的磁浮F軌左右偏移檢測裝置，其特征在于：所述定位柱為錐形定位柱，錐形定位柱的頂部開有一個凹槽，彈簧的底部置于凹槽中。

3.根據權利要求1所述的磁浮F軌左右偏移檢測裝置，其特征在于，所述測距儀本體為千分表；所述千分表包括軸套、刻度盤和伸縮的觸頭；

所述軸套穿過豎桿，所述觸頭的一端設置在軸套內。

4.根據權利要求1所述的磁浮F軌左右偏移檢測裝置，其特征在于，還包括：嵌套；

所述嵌套設置在通孔內壁和定位柱的上端之間。

5.根據權利要求1所述的磁浮F軌左右偏移檢測裝置，其特征在于，所述磁鐵設置在通孔下開口附近。

6.磁浮F軌左右偏移檢測方法，其特征在于，包括：

S11，將定位塊貼合在待檢測磁浮F軌上，且定位柱伸入到待檢測磁浮F軌的定位孔內，豎桿放置在待檢測磁浮F軌的側壁外；

S12，轉動千分表使觸頭伸長至待檢測磁浮F軌的外側壁，讀取千分表的讀數X1；

S13，將讀數X1和預先讀取的標定讀數X進行比較，得到位置偏差△X；

S14，根據所述位置偏差△X修正待檢測磁浮F軌的定位孔的位置。

7.根據權利要求6所述的磁浮F軌左右偏移檢測方法，其特征在于，預先讀取標定讀數X包括：

S21，將定位塊貼合在標準檢測磁浮F軌上，且定位柱伸入到標準檢測磁浮F軌的定位孔內，豎桿放置在標準磁浮F軌的側壁外；

S22，轉動千分表使觸頭伸長至標準磁浮F軌的外側壁，讀取千分表的標定讀數X。

8.根據權利要求6所述的磁浮F軌左右偏移檢測方法，其特征在于，所述位置偏差△X＝X1-X。

9.根據權利要求8所述的磁浮F軌左右偏移檢測方法，其特征在于，所述根據所述位置偏差△X修正待檢測磁浮F軌的定位孔的位置包括：

若位置偏差△X大于零，待檢測磁浮F軌的定位孔右偏，則將檢測磁浮F軌的定位孔左移△X；

若位置偏差△X小于零，待檢測磁浮F軌的定位孔左偏，則將檢測磁浮F軌的定位孔右移|△X|。