[發明專利]烹飪器具及其烹飪控制方法

有效

• 申請號: 201810976037.6
• 申請日: 2018-08-24
• 公開（公告）號: CN110856601B
• 公開（公告）日: 2022-01-28
• 發明（設計）人: 任祥喜;王志鋒;黃庶鋒;羅飛龍;劉文華;劉化勇;瞿月紅
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區美的電熱電器制造有限公司
• 主分類號: A47J27/00
• 分類號: A47J27/00;A47J36/00;A47J36/32;A47J36/24
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤

1.一種烹飪器具的烹飪控制方法，其特征在于，所述烹飪器具包括鍋體、蓋體、真空裝置和加熱裝置，所述蓋體可活動地安裝于所述鍋體，在所述蓋體處于關閉位置時所述鍋體和所述蓋體之間形成密封的烹飪腔，所述真空裝置在所述烹飪腔密閉時對所述烹飪腔進行抽真空，所述方法包括以下步驟：

在所述烹飪器具的烹飪過程中，檢測所述烹飪腔內的溫度和所述烹飪腔內的壓力，其中，所述烹飪過程包括吸水階段、升溫沸騰階段、高溫沸騰階段和燜飯階段；

當所述烹飪器具處于吸水階段時，控制所述加熱裝置進行加熱工作，并在所述烹飪腔內的溫度達到第一預設溫度時，控制所述真空裝置對所述烹飪腔進行抽真空；

當所述烹飪器具處于升溫沸騰階段時，控制所述加熱裝置進行加熱工作，并控制所述真空裝置對所述烹飪腔進行抽真空，以使所述烹飪腔在第二預設溫度下產生氣泡，其中，所述第二預設溫度根據米的糊化溫度確定，所述第二預設溫度小于或等于米的糊化溫度；

當所述烹飪器具處于燜飯階段時，所述烹飪腔內處于非負壓狀態，烹飪腔能夠維持在燜飯溫度，所述燜飯溫度低于高溫沸騰階段的溫度。

2.根據權利要求1所述的烹飪器具的烹飪控制方法，其特征在于，所述第一預設溫度為30～65℃。

3.根據權利要求1所述的烹飪器具的烹飪控制方法，其特征在于，在所述吸水階段控制所述真空裝置對所述烹飪腔進行抽真空之后，還包括：

當所述烹飪腔內的壓力達到第一預設壓力時，控制所述真空裝置停止抽真空，并通過控制所述真空裝置以使所述烹飪腔內的壓力維持所述第一預設壓力，其中，所述第一預設壓力小于大氣壓。

4.根據權利要求3所述的烹飪器具的烹飪控制方法，其特征在于，所述第一預設壓力為20～60KPa。

5.根據權利要求1所述的烹飪器具的烹飪控制方法，其特征在于，其中，所述烹飪器具處于吸水階段時，控制所述加熱裝置以預設功率持續加熱，或通過控制所述加熱裝置間歇加熱以使所述烹飪腔內的溫度維持所述第一預設溫度。

6.根據權利要求3所述的烹飪器具的烹飪控制方法，其特征在于，所述真空裝置包括真空泵、連接管和電磁閥，所述真空泵通過連接管連通抽氣孔，所述電磁閥設置在所述真空泵與所述抽氣孔之間，其中，

通過控制所述真空泵和所述電磁閥開啟以控制所述真空裝置進行抽真空，并通過控制所述真空泵和所述電磁閥關閉以控制所述真空裝置停止抽真空。

7.一種烹飪器具，其特征在于，包括：

鍋體；

蓋體，所述蓋體可活動地安裝于所述鍋體，其中，在所述蓋體處于關閉位置時所述鍋體和所述蓋體之間形成密封的烹飪腔；

真空裝置，所述真空裝置用于在所述烹飪腔密閉時對所述烹飪腔進行抽真空；

加熱裝置，所述加熱裝置用于對所述烹飪器具進行加熱；

溫度檢測單元，所述溫度檢測單元用于在所述烹飪器具的烹飪過程中檢測所述烹飪腔內的溫度，其中，所述烹飪過程包括吸水階段、升溫沸騰階段和高溫沸騰階段；

壓力檢測單元，所述壓力檢測單元用于在所述烹飪器具的烹飪過程中檢測所述烹飪腔內的壓力；

控制單元，所述控制單元與所述溫度檢測單元和所述壓力檢測單元相連，所述控制單元用于在所述烹飪器具處于吸水階段時，控制所述加熱裝置進行加熱工作，并在所述烹飪腔內的溫度達到第一預設溫度時，控制所述真空裝置對所述烹飪腔進行抽真空，以及在所述烹飪器具處于升溫沸騰階段時，控制所述加熱裝置進行加熱工作，并控制所述真空裝置對所述烹飪腔進行抽真空，以使所述烹飪腔在第二預設溫度下產生氣泡，其中，所述第二預設溫度根據米的糊化溫度確定，所述第二預設溫度小于或等于米的糊化溫度。

8.根據權利要求7所述的烹飪器具，其特征在于，所述第一預設溫度為30～65℃。