[發明專利]一種元素檢測裝置、標樣及元素檢測裝置校準方法

在審

• 申請號: 201810975879.X
• 申請日: 2018-08-24
• 公開（公告）號: CN110857915A
• 公開（公告）日: 2020-03-03
• 發明（設計）人: 任曉艷
• 申請（專利權）人: 北京鉑陽頂榮光伏科技有限公司
• 主分類號: G01N21/67
• 分類號: G01N21/67;G01N21/01;G01N1/28
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

1.一種元素檢測裝置，其特征在于，所述元素檢測裝置的測試臺面上設置有檢測口，所述測試臺面上還設有距離標識，所述距離標識用于標識所述測試臺面上的目標點距所述檢測口的中心的距離。

2.根據權利要求1所述的元素檢測裝置，其特征在于，所述距離標識為沿所述檢測口的中心指向所述測試臺面的邊緣方向的標識。

3.根據權利要求1所述的元素檢測裝置，其特征在于，所述距離標識采用刻度尺、弧線、直線、圓點或顏色進行標識。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的元素檢測裝置，其特征在于，所述檢測口的直徑為2.5mm，所述距離標識上標識有距所述檢測口的中心的距離為3jmm的目標點所在位置，其中，j為大于或等于1的整數。

5.一種標樣，其特征在于，用于對權利要求1至4中任一項所述的元素檢測裝置進行校準，所述標樣的非測試面上設有角度標識，所述角度標識用于標識所述標樣上的目標點轉動至所述標樣上的基準點的角度。

6.根據權利要求5所述的標樣，其特征在于，所述角度標識分布在所述標樣的非測試面的邊緣。

7.根據權利要求5所述的標樣，其特征在于，所述角度標識采用刻度尺、直線、圓點或顏色進行標識。

8.根據權利要求5至7中任一項所述的標樣，其特征在于，所述標樣的直徑為32mm，所述角度標識上標識有轉動至所述基準點的角度分別為15k°和18k°的目標點所在位置，其中，k為大于或等于1的整數，15k°<360°，18k°<360°。

9.根據權利要求5至7中任一項所述的標樣，其特征在于，所述標樣的非測試面上還設有環線標識，所述環線標識用于標識所述標樣上各校準環線所在的位置，其中，相鄰校準環線之間的間距大于所述元素檢測裝置的檢測口的直徑。

10.一種標樣，其特征在于，用于對元素檢測裝置進行校準，所述標樣的非測試面上設有校準點標識，所述校準點標識用于標識所述標樣上各目標校準點所在的位置，其中，各目標校準點之間均無重疊。

11.一種元素檢測裝置校準方法，其特征在于，采用權利要求5至9中任一項所述的標樣對權利要求1至4中任一項所述的元素檢測裝置進行校準，所述方法包括：

根據所述標樣的尺寸和所述檢測口的大小，確定所述標樣的測試面上的目標校準點；

利用所述測試臺面上的距離標識和所述標樣的非測試面上的角度標識，依次將所述目標校準點移動至與所述檢測口對準的位置，以對所述元素檢測裝置進行校準測試。

12.根據權利要求11所述的方法，其特征在于，所述根據所述標樣的尺寸和所述檢測口的大小，確定所述標樣的測試面上的目標校準點，包括：

根據所述標樣的直徑D₁和所述檢測口的直徑D₂，確定所述標樣的測試面上距標樣邊緣的距離分別為S₁、S₂、…、S_n的校準環線，得到每個校準環線的直徑R_n，其中，S_n＝S_edge+D₂/2+(n-1)d，R_n＝D₁-2S_n，S_n<D₁/2-d，d>D₂，S_edge為標樣邊緣排除距離，d為校準環線之間的間距；

確定每個校準環線上的各目標校準點之間的角度間隔A_n，得到每個校準環線上的目標校準點所在位置。