[發明專利]半導體清洗裝置及方法在審
| 申請號: | 201810970875.2 | 申請日: | 2018-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN110858551A | 公開(公告)日: | 2020-03-03 |
| 發明(設計)人: | 林芝帆 | 申請(專利權)人: | 禾宬科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京維澳專利代理有限公司 11252 | 代理人: | 王立民;張應 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 清洗 裝置 方法 | ||
1.一種半導體清洗裝置,其包括有一承載平臺(100)、及一設于所述承載平臺(100)頂端的清潔組件(200),所述承載平臺(100)能供承載半導體芯片(10)用,所述清潔組件(200)能供對所述半導體芯片(10)進行高壓沖洗和吹氣干燥用,其特征在于:
所述承載平臺(100),其包括有一承載臺(1)、以及一主要驅動裝置(2);
所述承載臺(1),其能供承載定位所述半導體芯片(10)用;
所述主要驅動裝置(2),其包括有一位于底端的主要縱向驅動裝置(21)、及一設于所述主要縱向驅動裝置(21)與所述承載臺(1)間的主要橫向驅動裝置(22);
所述主要縱向驅動裝置(21),能帶動所述主要縱向驅動裝置(21),使其上的所述承載臺(1)在水平面(A)上做縱向移動;
所述主要橫向驅動裝置(22),能帶動所述承載臺(1)在水平面(A)上做橫向移動。
2.根據權利要求1所述的半導體清洗裝置,其特征在于:所述承載平臺(100),其還包括有一次要驅動裝置(3),其包括有設于所述承載臺(1)與所述主要驅動裝置(2)間的一旋轉馬達(31)、及一支架(32),所述旋轉馬達(31)能帶動所述承載臺(1)旋轉,所述支架(32)為位于所述旋轉馬達(31)外;
所述支架(32),其還包括有以三腳架型態設置于所述承載臺(1)與所述主要驅動裝置(2)間的三支可動伸縮單元(321),所述可動伸縮單元(321)能配合帶動所述承載臺(1)以水平面(A)為基準,做至少一方向的面偏轉。
3.根據權利要求2所述的半導體清洗裝置,其特征在于:所述清潔組件(200),其包括有驅動裝置(4)、一高壓噴頭組(5)、以及一取像裝置(6);
所述驅動裝置(4),其能供承載帶動所述高壓噴頭組(5)用;
所述高壓噴頭組(5),其設置于所述驅動裝置(4)上,能被所述驅動裝置(4)帶動做至少一方向的立體移動,并能對所述半導體芯片(10)進行高壓沖洗、吹氣干燥其中之一的動作,且包括有至少一可調整角度的噴頭(51);
所述取像裝置(6),其設于所述承載平臺(100)上方,能對所述承載平臺(100)上所承載的所述半導體芯片(10)取像,以計算流道后設定出沖洗運行路徑(R),使所述高壓噴頭組(5)能依據前述沖洗運行路徑(R)進行沖洗。
4.根據權利要求3所述的半導體清洗裝置,其特征在于:所述驅動裝置(4),其還包括有一縱向驅動裝置(41)、一設于所述縱向驅動裝置(41)底端的橫向驅動裝置(42)、及一設于所述橫向驅動裝置(42)上的垂直驅動裝置(43),所述垂直驅動裝置(43)能供承載帶動所述高壓噴頭組(5)用。
5.一種半導體清洗裝置,其包括有一承載平臺(100)、及一設于所述承載平臺(100)頂端的清潔組件(200),所述承載平臺(100)能供承載半導體芯片(10)用,所述清潔組件(200)能供對所述半導體芯片(10)進行高壓沖洗和吹氣干燥用,其特征在于:
所述清潔組件(200),其包括有驅動裝置(4)、一高壓噴頭組(5)、以及一取像裝置(6);
所述驅動裝置(4),其能供承載帶動所述高壓噴頭組(5)用;
所述高壓噴頭組(5),其設置于所述驅動裝置(4)上,能被所述驅動裝置(4)帶動做至少一方向的立體移動,并能對所述半導體芯片(10)進行高壓沖洗、吹氣干燥其中之一的動作,且包括有至少一可調整角度的噴頭(51);
所述取像裝置(6),其設于所述承載平臺(100)上方,能對所述承載平臺(100)上所承載的所述半導體芯片(10)取像,以計算流道后設定出沖洗運行路徑(R),使所述高壓噴頭組(5)能依據前述沖洗運行路徑(R)進行沖洗。
6.根據權利要求5所述的半導體清洗裝置,其特征在于:所述驅動裝置(4),其還包括有一縱向驅動裝置(41)、一設于所述縱向驅動裝置(41)底端的橫向驅動裝置(42)、及一設于所述橫向驅動裝置(42)上的垂直驅動裝置(43),所述垂直驅動裝置(43)能供承載帶動所述高壓噴頭組(5)用。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





