[發(fā)明專利]協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810961562.0 | 申請日: | 2018-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN110857924A | 公開(公告)日: | 2020-03-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邱詩彰 | 申請(專利權(quán))人: | 皓琪科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;安利霞 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 協(xié)助 陣列 排版 電路板 辨識 記錄 缺陷 位置 系統(tǒng) | ||
1.一種協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),該電路板是由多個重復(fù)的單元電路所構(gòu)成,該系統(tǒng)包括:
一工作平臺,包括一移動載臺,該移動載臺表面具有一辨識圖像及至少一定位治具,該定位治具供該電路板靠置定位;
一觀察單元,位于該工作平臺上方,能放大觀察該電路板;
一光學讀取單元,位于該工作平臺上方,能拍攝該辨識圖像,且定義該移動載臺承載該電路板的初始狀態(tài)所拍攝圖像為基準位置圖像;
一接收單元,接收該電路板的基本數(shù)據(jù);
一顯示單元,依據(jù)該基本數(shù)據(jù)顯示該電路板的多個該單元電路的位置分布型態(tài);
一輸入單元,輸入點選訊息;
一運算控制單元,連接該光學讀取單元、該接收單元、該顯示單元以及該輸入單元,該運算控制單元在接收到該點選訊息時,定義該光學讀取單元此時所拍攝圖像為點選位置圖像,比較該基準位置圖像與該點選位置圖像中的該辨識圖像差異,換算出該電路板移動的距離及角度,依據(jù)該基本數(shù)據(jù)定義此時在該觀察單元正下方的該單元電路為缺陷并予以記錄。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中移動載臺表面的該辨識圖像與該定位治具間隔一段距離,該距離供該移動載臺承載該電路板任意移動后,該光學讀取單元仍能拍攝到該辨識圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中該辨識圖像不會與該移動載臺表面顏色相同,且在該辨識圖像旋轉(zhuǎn)角度在90度內(nèi),仍必須能辨識出前后狀態(tài)的差異。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中是比較該基準位置圖像與該點選位置圖像的該辨識圖像之間的偏移距離及角度,進行圖像單位轉(zhuǎn)換尺寸單位且計算出該電路板實際移動的角度及距離。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中該基本數(shù)據(jù)包括該電路板圖像及尺寸、該單元電路的分布位置、尺寸及數(shù)量。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中該移動載臺能進行水平任意方向的移動,且不會有縱向的偏移。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中該觀察單元為光學顯微鏡或電子顯微鏡。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的協(xié)助陣列排版的電路板辨識且記錄缺陷位置的系統(tǒng),其中該輸入單元為鼠標或腳踏板輸入器。
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G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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