[發(fā)明專利]快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810955877.4
• 申請(qǐng)日: 2018-08-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109270105B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 原園;楊繼進(jìn)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
• 主分類號(hào): G01N23/2273
• 分類號(hào): G01N23/2273;G01N23/2251;G01N23/203
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 楊澤;劉芳

本發(fā)明屬于顆粒定位分析技術(shù)領(lǐng)域，具體提供一種快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法。本發(fā)明旨在解決現(xiàn)有的大視域中特定礦物顆粒的識(shí)別和定位困難導(dǎo)致的測(cè)試實(shí)驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)、效率低的問(wèn)題。本發(fā)明的方法包括：選擇目標(biāo)視域并采集樣品在目標(biāo)視域中的背散射信號(hào)圖像；根據(jù)背散射信號(hào)圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對(duì)應(yīng)關(guān)系，調(diào)整目標(biāo)視域內(nèi)背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù)，以使至少包含目標(biāo)礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現(xiàn)；對(duì)部分礦物顆粒進(jìn)行成分測(cè)試，確定目標(biāo)顆粒在目標(biāo)視域內(nèi)的位置信息。這種方法能夠大幅減少測(cè)試時(shí)間，對(duì)目標(biāo)礦物顆粒進(jìn)行快速的定位，為后期分析測(cè)試提供極大的便利。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于顆粒定位分析技術(shù)領(lǐng)域，具體提供一種快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法。

背景技術(shù)

類似多種礦物顆粒U-Th-Pb定年以及穩(wěn)定/非傳統(tǒng)穩(wěn)定同位素分析實(shí)驗(yàn)是在一個(gè)較大面積的視域中選區(qū)特定的礦物顆粒進(jìn)行測(cè)試，特定礦物顆粒可能為鋯石、金紅石、榍石、磷灰石、石英和方解石等。這些礦物顆粒較小，多為微米級(jí)別。在對(duì)視域中特定礦物顆粒進(jìn)行選取和識(shí)別時(shí)，由于很多不同礦物顆粒形態(tài)、亮度和灰度近似，同時(shí)在觀測(cè)視域中分散分布，使特定礦物顆粒的識(shí)別變得非常困難，導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)過(guò)程中無(wú)法準(zhǔn)確確定特定礦物顆粒的位置，測(cè)試只能盲目進(jìn)行。

現(xiàn)有的顆粒成分分析技術(shù)，雖然可以提供測(cè)試視域內(nèi)的顆粒成分分布信息，但其需要一次性分析全部顆粒，無(wú)法只對(duì)所有目標(biāo)礦物顆粒進(jìn)行有針對(duì)性的測(cè)試。如果測(cè)試視域比較大，而目標(biāo)礦物顆粒占比又比較少時(shí)，這種測(cè)試方法將極大的降低工作效率、浪費(fèi)時(shí)間及實(shí)驗(yàn)耗材。

相應(yīng)地，本領(lǐng)域需要一種快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法來(lái)解決上述問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述問(wèn)題，即為了解決現(xiàn)有的大視域中特定礦物顆粒的識(shí)別和定位困難導(dǎo)致的測(cè)試實(shí)驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)、效率低的問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法，所述方法包括以下步驟：選擇目標(biāo)視域并采集樣品在所述目標(biāo)視域中的背散射信號(hào)圖像；根據(jù)背散射信號(hào)圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對(duì)應(yīng)關(guān)系，調(diào)整所述目標(biāo)視域內(nèi)背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù)，以使至少包含目標(biāo)礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現(xiàn)；對(duì)所述部分礦物顆粒進(jìn)行成分測(cè)試，確定所述目標(biāo)顆粒在所述目標(biāo)視域內(nèi)的位置信息；其中，背散射信號(hào)圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對(duì)應(yīng)關(guān)系提前獲得。

在上述方法的優(yōu)選技術(shù)方案中，“根據(jù)背散射信號(hào)圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對(duì)應(yīng)關(guān)系，調(diào)整所述目標(biāo)視域內(nèi)背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù)，以使至少包含目標(biāo)礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現(xiàn)”的步驟進(jìn)一步包括：根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù)，以剔除所述目標(biāo)視域中全部或者部分非目標(biāo)礦物顆粒，以確定顯示礦物顆粒群。

在上述方法的優(yōu)選技術(shù)方案中，“根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù)，以剔除所述目標(biāo)視域中全部或者部分非目標(biāo)礦物顆粒，以確定顯示礦物顆粒群”的步驟進(jìn)一步包括：根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù)，使所述目標(biāo)礦物顆粒且灰度閾值區(qū)間與所述目標(biāo)礦物顆粒有重疊的所述非目標(biāo)礦物顆粒組合成的所述顯示礦物顆粒群得以顯示。

在上述方法的優(yōu)選技術(shù)方案中，所述圖像參數(shù)為所述背散射信號(hào)圖像的背景灰度、亮度和對(duì)比度中的一種或者幾種。

在上述方法的優(yōu)選技術(shù)方案中，“根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像，使所述目標(biāo)礦物顆粒且灰度閾值區(qū)間與所述目標(biāo)礦物顆粒有重疊的所述非目標(biāo)礦物顆粒組合成的所述顯示礦物顆粒群得以顯示”的步驟進(jìn)一步包括：在所述目標(biāo)礦物顆粒為亮色顆粒的情形下，選擇調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的背景灰度，使所述非目標(biāo)礦物顆粒轉(zhuǎn)換為測(cè)試背景，以顯示所述顯示礦物顆粒群。