[發明專利]快速識別并定位大視域中目標礦物顆粒的方法

有效

• 申請號: 201810955877.4
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN109270105B
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 原園;楊繼進
• 申請（專利權）人: 中國科學院地質與地球物理研究所
• 主分類號: G01N23/2273
• 分類號: G01N23/2273;G01N23/2251;G01N23/203
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊澤;劉芳

本發明屬于顆粒定位分析技術領域，具體提供一種快速識別并定位大視域中目標礦物顆粒的方法。本發明旨在解決現有的大視域中特定礦物顆粒的識別和定位困難導致的測試實驗時間長、效率低的問題。本發明的方法包括：選擇目標視域并采集樣品在目標視域中的背散射信號圖像；根據背散射信號圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對應關系，調整目標視域內背散射信號圖像的圖像參數，以使至少包含目標礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現；對部分礦物顆粒進行成分測試，確定目標顆粒在目標視域內的位置信息。這種方法能夠大幅減少測試時間，對目標礦物顆粒進行快速的定位，為后期分析測試提供極大的便利。

技術領域

本發明屬于顆粒定位分析技術領域，具體提供一種快速識別并定位大視域中目標礦物顆粒的方法。

背景技術

類似多種礦物顆粒U-Th-Pb定年以及穩定/非傳統穩定同位素分析實驗是在一個較大面積的視域中選區特定的礦物顆粒進行測試，特定礦物顆粒可能為鋯石、金紅石、榍石、磷灰石、石英和方解石等。這些礦物顆粒較小，多為微米級別。在對視域中特定礦物顆粒進行選取和識別時，由于很多不同礦物顆粒形態、亮度和灰度近似，同時在觀測視域中分散分布，使特定礦物顆粒的識別變得非常困難，導致實驗過程中無法準確確定特定礦物顆粒的位置，測試只能盲目進行。

現有的顆粒成分分析技術，雖然可以提供測試視域內的顆粒成分分布信息，但其需要一次性分析全部顆粒，無法只對所有目標礦物顆粒進行有針對性的測試。如果測試視域比較大，而目標礦物顆粒占比又比較少時，這種測試方法將極大的降低工作效率、浪費時間及實驗耗材。

相應地，本領域需要一種快速識別并定位大視域中目標礦物顆粒的方法來解決上述問題。

發明內容

為了解決現有技術中的上述問題，即為了解決現有的大視域中特定礦物顆粒的識別和定位困難導致的測試實驗時間長、效率低的問題，本發明提供了一種快速識別并定位大視域中目標礦物顆粒的方法，所述方法包括以下步驟：選擇目標視域并采集樣品在所述目標視域中的背散射信號圖像；根據背散射信號圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對應關系，調整所述目標視域內背散射信號圖像的圖像參數，以使至少包含目標礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現；對所述部分礦物顆粒進行成分測試，確定所述目標顆粒在所述目標視域內的位置信息；其中，背散射信號圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對應關系提前獲得。

在上述方法的優選技術方案中，“根據背散射信號圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對應關系，調整所述目標視域內背散射信號圖像的圖像參數，以使至少包含目標礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現”的步驟進一步包括：根據所述對應關系調整所述背散射信號圖像的圖像參數，以剔除所述目標視域中全部或者部分非目標礦物顆粒，以確定顯示礦物顆粒群。

在上述方法的優選技術方案中，“根據所述對應關系調整所述背散射信號圖像的圖像參數，以剔除所述目標視域中全部或者部分非目標礦物顆粒，以確定顯示礦物顆粒群”的步驟進一步包括：根據所述對應關系調整所述背散射信號圖像的圖像參數，使所述目標礦物顆粒且灰度閾值區間與所述目標礦物顆粒有重疊的所述非目標礦物顆粒組合成的所述顯示礦物顆粒群得以顯示。

在上述方法的優選技術方案中，所述圖像參數為所述背散射信號圖像的背景灰度、亮度和對比度中的一種或者幾種。

在上述方法的優選技術方案中，“根據所述對應關系調整所述背散射信號圖像，使所述目標礦物顆粒且灰度閾值區間與所述目標礦物顆粒有重疊的所述非目標礦物顆粒組合成的所述顯示礦物顆粒群得以顯示”的步驟進一步包括：在所述目標礦物顆粒為亮色顆粒的情形下，選擇調整所述背散射信號圖像的背景灰度，使所述非目標礦物顆粒轉換為測試背景，以顯示所述顯示礦物顆粒群。