[發(fā)明專利]快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810955877.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109270105B | 公開(公告)日: | 2020-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 原園;楊繼進(jìn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N23/2273 | 分類號(hào): | G01N23/2273;G01N23/2251;G01N23/203 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 楊澤;劉芳 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 快速 識(shí)別 定位 視域 目標(biāo) 礦物 顆粒 方法 | ||
1.一種快速識(shí)別并定位大視域中目標(biāo)礦物顆粒的方法,應(yīng)用于礦物顆粒測(cè)試過(guò)程中,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
S1、選擇目標(biāo)視域并采集樣品在所述目標(biāo)視域中的背散射信號(hào)圖像;
S2、根據(jù)背散射信號(hào)圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對(duì)應(yīng)關(guān)系,調(diào)整所述目標(biāo)視域內(nèi)背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù),以使至少包含目標(biāo)礦物顆粒的部分礦物顆粒顯現(xiàn),該步驟具體為:
根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù),以剔除所述目標(biāo)視域中全部或者部分非目標(biāo)礦物顆粒,以確定顯示礦物顆粒群;
S3、對(duì)所述顯示礦物顆粒群進(jìn)行成分測(cè)試,以不同的礦物顆粒作為目標(biāo)礦物顆粒,確定所述目標(biāo)礦物顆粒在所述目標(biāo)視域內(nèi)的位置信息;
其中,背散射信號(hào)圖像中的灰度與樣品包含的礦物顆粒的對(duì)應(yīng)關(guān)系提前獲得;
在步驟S2之前,所述方法還包括:
隨機(jī)采集樣品某一視域的背散射信號(hào)圖像;
獲取樣品在所述視域中的X射線能譜信息;
比對(duì)X射線能譜信息與礦物數(shù)據(jù)庫(kù),確定所述視域中所述樣品包含的所有礦物顆粒成分;
賦予不同的所述礦物顆粒以不同的顏色,獲得所述視域中的所有礦物顆粒的分布圖像;
對(duì)比所述分布圖像與所述背散射信號(hào)圖像,確定每種所述礦物顆粒對(duì)應(yīng)的灰度閾值區(qū)間;
其中,“根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù),以剔除所述目標(biāo)視域中全部或者部分非目標(biāo)礦物顆粒,以確定顯示礦物顆粒群”的步驟進(jìn)一步包括:
根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的圖像參數(shù),使所述目標(biāo)礦物顆粒且灰度閾值區(qū)間與所述目標(biāo)礦物顆粒有重疊的所述非目標(biāo)礦物顆粒組合成的所述顯示礦物顆粒群得以顯示,所述目標(biāo)礦物顆粒包括鋯石、金紅石、榍石、磷灰石、石英和方解石中的一種;
其中,“根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像,使所述目標(biāo)礦物顆粒且灰度閾值區(qū)間與所述目標(biāo)礦物顆粒有重疊的所述非目標(biāo)礦物顆粒組合成的所述顯示礦物顆粒群得以顯示”的步驟進(jìn)一步包括:
在所述目標(biāo)礦物顆粒為亮色顆粒的情形下,選擇調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的背景灰度,使所述非目標(biāo)礦物顆粒轉(zhuǎn)換為測(cè)試背景,以顯示所述顯示礦物顆粒群;
在所述目標(biāo)礦物顆粒為暗色顆粒的情形下,選擇調(diào)整所述背散射信號(hào)圖像的亮度和對(duì)比度,使所述非目標(biāo)礦物顆粒在所述背散射信號(hào)圖像上形成曝光,以顯示所述顯示礦物顆粒群;
在所述目標(biāo)礦物顆粒為淺色顆粒的情形下,根據(jù)亮色顆粒和暗色顆粒的占比選擇占比小的一方的測(cè)試方法與所述目標(biāo)礦物顆粒合并測(cè)試,以顯示所述顯示礦物顆粒群。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,“對(duì)所述部分礦物顆粒進(jìn)行成分測(cè)試,確定所述目標(biāo)顆粒在所述目標(biāo)視域內(nèi)的位置信息”的步驟進(jìn)一步包括:
獲取所述顯示礦物顆粒群在所述目標(biāo)視域中的X射線能譜信息;
比對(duì)X射線能譜信息與礦物數(shù)據(jù)庫(kù),確定目標(biāo)視域中所述顯示礦物顆粒群所包含的礦物顆粒成分;
賦予不同的所述礦物顆粒以不同的顏色,獲得所述顯示礦物顆粒群的分布圖像;
確定所述目標(biāo)礦物顆粒在所述目標(biāo)視域內(nèi)的定位信息。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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