[發明專利]一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法在審
| 申請號: | 201810949195.2 | 申請日: | 2018-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN109191439A | 公開(公告)日: | 2019-01-11 |
| 發明(設計)人: | 張寶;溫志慶;尹穆楠;張鼎;王瑩 | 申請(專利權)人: | 寧波市智能制造產業研究院 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 315400 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 工件表面 靶材 刀紋 缺陷檢測 變化曲線 特征數據 像素 圖像 工件表面缺陷 檢測技術領域 缺陷判斷 統計分析 不均勻 檢測 統計 | ||
本發明涉及工件表面缺陷檢測技術領域,尤其涉及一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法。本方法包括以下步驟:(1)獲取靶材工件表面圖像;(2)統計靶材工件表面圖像的像素亮度平均值;(3)根據步驟(2)的像素亮度平均值,獲得亮度平均值變化曲線;(4)提取亮度平均值變化曲線上的特征數據;(5)設置閾值,對特征數據進行統計分析,進行刀紋缺陷判斷。本發明提供的一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法,其能夠更有效、更準確的檢測出靶材工件表面的不均勻刀紋缺陷。
技術領域
本發明涉及工件表面缺陷檢測技術領域,尤其涉及一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法。
背景技術
在傳統的工件生產過程中,一般情況下對于工件表面的缺陷檢測是采用人工檢測的方法。隨著科學技術不斷的發展,出現了機器視覺檢測技術。利用這種新技術設計出的檢測系統及方法不受外界環境和主觀因素的干擾,能有效地對工件進行檢測。
但對于高純度靶材來說,由于靶材工件極軟,表面存在很多加工造成均勻細刀紋。雖然這些刀紋是合格的,但容易造成輪廓提取等方法誤檢。而生產過程中,不均勻刀紋缺陷出現數量少,且無重復規律,這導致缺陷特征無法很好的分類,頻域特性不明顯。現有的模板匹配等方法,不僅檢測速度慢,針對不同情況還缺乏魯棒性,漏檢誤檢率高,對于不均勻刀紋缺陷不能有效地檢測出。
發明內容
針對現有技術的缺陷或技術需求,本發明的目的在于提供一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法,其能夠更有效、更準確的檢測出靶材工件表面的不均勻刀紋缺陷。
為實現上述目的,本發明提供以下技術方案:一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法,包括以下步驟:
(1)獲取靶材工件表面圖像;
(2)統計靶材工件表面圖像的像素亮度平均值;
(3)根據步驟(2)的像素亮度平均值,獲得亮度平均值變化曲線;
(4)提取亮度平均值變化曲線上的特征數據;
(5)設置閾值,對特征數據進行統計分析,進行刀紋缺陷判斷。
進一步地,在步驟(1)和步驟(2)間,還包括以下步驟:對靶材工件表面圖像進行預處理。
進一步地,預處理具體為濾波、去噪。
進一步地,步驟(2)中統計靶材工件表面圖像的像素亮度平均值的方法為:
(1)以靶材工件表面的中心為原點,建立極坐標系;
(2)以靶材工件表面的中心為圓心、1個像素為半徑,均勻采集對應半徑所在圓周上的所有像素亮度,并計算出平均值;
(3)以1個像素為步長增加半徑,繼續統計圓周上的像素亮度平均值,直至半徑達至靶材工件表面半徑大小。
進一步地,步驟(3)中,亮度平均值變化曲線為像素亮度平均值隨半徑變化的曲線。
進一步地,步驟(4)中,特征數據具體為:亮度平均值變化曲線上的峰值與周圍數據的相對變化量、峰寬度。
進一步地,步驟(5)中,閾值具體為:相對變化量最低值為0.05,峰寬度的最高值為3。
本發明與現有技術相比,有益效果在于:本發明提供的一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法,可有效檢測出高純度靶材工件表面不均勻刀紋缺陷,并且可以量化不均勻刀紋缺陷信息,如個數、位置等,有效避免檢測過程中出現漏檢、誤檢等情況。
附圖說明
圖1為本發明實施例提供的一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法的流程圖。
具體實施方式
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于寧波市智能制造產業研究院,未經寧波市智能制造產業研究院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810949195.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





