[發明專利]一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法在審
| 申請號： | 201810949195.2 | 申請日： | 2018-08-20 |
| 公開（公告）號： | CN109191439A | 公開（公告）日： | 2019-01-11 |
| 發明（設計）人： | 張寶;溫志慶;尹穆楠;張鼎;王瑩 | 申請（專利權）人： | 寧波市智能制造產業研究院 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 315400 浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 工件表面 靶材 刀紋 缺陷檢測 變化曲線 特征數據 像素 圖像 工件表面缺陷 檢測技術領域 缺陷判斷 統計分析 不均勻 檢測 統計 | ||
1.一種靶材工件表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：
(1)獲取靶材工件表面圖像；
(2)統計所述靶材工件表面圖像的像素亮度平均值；
(3)根據步驟(2)的像素亮度平均值，獲得亮度平均值變化曲線；
(4)提取所述亮度平均值變化曲線上的特征數據；
(5)設置閾值，對所述特征數據進行統計分析，進行刀紋缺陷判斷。
2.根據權利要求1所述的靶材表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：在步驟(1)和步驟(2)間，還包括以下步驟：對所述靶材工件表面圖像進行預處理。
3.根據權利要求2所述的靶材表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：所述預處理具體為濾波、去噪。
4.根據權利要求1所述的靶材表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：步驟(2)中統計所述靶材工件表面圖像的像素亮度平均值的方法為：
(1)以所述靶材工件表面的中心為原點，建立極坐標系；
(2)以所述靶材工件表面的中心為圓心、1個像素為半徑，均勻采集對應半徑所在圓周上的所有像素亮度，并計算出平均值；
(3)以1個像素為步長增加半徑，繼續統計圓周上的像素亮度平均值，直至半徑達至所述靶材工件表面半徑大小。
5.根據權利要求1所述的靶材表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：步驟(3)中，所述亮度平均值變化曲線為所述像素亮度平均值隨半徑變化的曲線。
6.根據權利要求1所述的靶材表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：步驟(4)中，所述特征數據具體為：所述亮度平均值變化曲線上的峰值與周圍數據的相對變化量、峰寬度。
7.根據權利要求6所述的靶材表面刀紋缺陷檢測方法，其特征在于：步驟(5)中，所述閾值具體為：所述相對變化量的最低值為0.05；所述峰寬度的最高值為3。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于寧波市智能制造產業研究院，未經寧波市智能制造產業研究院許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810949195.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
