[發(fā)明專利]一種加壓條件下液體折射率的測定方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810916076.7 | 申請日: | 2018-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN108872179B | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊坤;李海寧;王世卓;程學(xué)瑞;王東琳;蘇玉玲 | 申請(專利權(quán))人: | 鄭州輕工業(yè)學(xué)院 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/43 |
| 代理公司: | 北京元本知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 秦力軍 |
| 地址: | 450001 河南省鄭州*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 加壓 條件下 液體 折射率 測定 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種測定壓力條件下的液體折射率的方法,通過測量常壓下不同溫度時待測液體中分子轉(zhuǎn)子熒光探針特征峰強(qiáng)度和待測液體的折射率,建立分子轉(zhuǎn)子熒光探針特征峰強(qiáng)度與待測液體折射率之間的關(guān)系公式,再通過測量某一溫度下壓力條件下待測液體中分子轉(zhuǎn)子熒光探針特征峰強(qiáng)度,代入得到的關(guān)系公式,即可計算獲得待測液體在壓力下的折射率。本發(fā)明方法不需搭建復(fù)雜的光學(xué)測量裝置,使用常見的熒光光譜儀和變溫變壓樣品腔,即可用于測定高壓條件下的液體的折射率,不僅測定方法簡單,便于實施,而且測定結(jié)果準(zhǔn)確,可信。
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于熒光光譜測定高壓下液體折射率的方法。
背景技術(shù):
折射率是液體的一個基本物理性能參數(shù),可定義為光在真空中的傳播速度與光在該液體中的傳播速度之比。對于液體,其成分、濃度、密度、環(huán)境溫度和環(huán)境壓力等均會引起折射率的變化。反過來,通過測定液體的折射率,也可分析或確定其他物理量。因此,對于液體折射率的測量具有重要的應(yīng)用意義。
同溫度一樣,壓力也是影響物質(zhì)結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的重要熱力學(xué)參數(shù)之一。增大壓力,可使物質(zhì)表現(xiàn)出與常壓完全不同的物理性質(zhì)。通過測定高壓下物質(zhì)的折射率,可以分析物質(zhì)的電子特性。發(fā)明專利(高壓下透明流體折射率測量裝置,CN 102590139 A)利用透過率測量的方法實現(xiàn)高壓下不同波長透明流體折射率的測量,其局限性在于需要預(yù)先知道不同溫度和壓力下窗口材料和真空的折射率;發(fā)明專利(一種檢測金剛石對頂砧中物質(zhì)體積和折射率的裝置及方法,CN 104990500 A)利用光學(xué)層析技術(shù)結(jié)合共聚焦原理實現(xiàn)金剛石對頂砧液體高壓折射率的測量,其局限性在于金剛石對頂砧在小于1GPa下壓力難于精確控制。
液體高壓下折射率測量現(xiàn)在沒有商業(yè)儀器,測定儀器不僅復(fù)雜而且測定方法繁瑣,也沒辦法找到高壓下的物理性質(zhì)數(shù)據(jù)相比較。
針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提出一種基于熒光光譜的高壓下液體折射率的測定方法,該方法操作簡單,便于實施。
發(fā)明內(nèi)容:
本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有高壓條件下液體折射率測定過程中存在的技術(shù)缺陷,提供一種加壓條件下液體折射率的測定方法,本發(fā)明方法通過測量壓力條件下的待測液體中分子轉(zhuǎn)子熒光探針的特征峰強(qiáng)度,根據(jù)建立熒光探針特征峰強(qiáng)度與待測液體折射率之間的對應(yīng)關(guān)系得出高壓下液體折射率,本發(fā)明方法不需搭建復(fù)雜的光學(xué)測量裝置,使用常見的熒光光譜儀和變溫變壓樣品腔,即可用于測定高壓條件下的液體的折射率,不僅測定方法簡單,便于實施,而且測定結(jié)果準(zhǔn)確,可信。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的目的,本發(fā)明一方面提供一種液體折射率的測定方法,包括測定常壓下不同溫度的待測液體中熒光探針特征峰強(qiáng)度;和測定常壓下所述不同溫度所對應(yīng)的溫度下待測液體的折射率;建立熒光探針特征峰強(qiáng)度與待測液體折射率之間的對應(yīng)關(guān)系;測定加壓壓力條件下的待測液體中熒光探針特征峰強(qiáng)度,根據(jù)建立的熒光探針特征峰強(qiáng)度與待測液體折射率的對應(yīng)關(guān)系,獲得待測液體在壓力條件下的折射率。
其中,所述壓力條件為絕對壓力0.1MPa,優(yōu)選為0.1-400MPa;所述常壓為室壓,通常為0.1MPa(即相對壓力為0MPa)。
特別是,所述的熒光探針選擇分子轉(zhuǎn)子熒光探針。
尤其是,所述熒光分子轉(zhuǎn)子探針為基于扭轉(zhuǎn)分子內(nèi)電荷轉(zhuǎn)移機(jī)理的熒光分子轉(zhuǎn)子探針。
特別是,所述熒光分子轉(zhuǎn)子探針選擇為9-(2-羧基-2-氰基乙烯基)久洛啶(CCVJ)、9-(2,2-二氰乙烯基)久洛啶(DCVJ)、硫磺素T(ThT)、二甲胺基苯甲腈(DMABN)、二吡咯氟硼甲川(BODIPY)類衍生物等。
其中,所述熒光探針特征峰強(qiáng)度與待測液體折射率之間的對應(yīng)關(guān)系按照如下方法建立:
A)根據(jù)測定的待測液體的折射率,計算常壓下所述不同溫度所對應(yīng)的溫度下的待測液體的折射率參數(shù);
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





