[發明專利]一種加壓條件下液體折射率的測定方法有效
| 申請號: | 201810916076.7 | 申請日: | 2018-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN108872179B | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發明(設計)人: | 楊坤;李海寧;王世卓;程學瑞;王東琳;蘇玉玲 | 申請(專利權)人: | 鄭州輕工業學院 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/43 |
| 代理公司: | 北京元本知識產權代理事務所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 秦力軍 |
| 地址: | 450001 河南省鄭州*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 加壓 條件下 液體 折射率 測定 方法 | ||
1.一種加壓條件下液體折射率的測定方法,其特征是,包括:
測定常壓下不同溫度的待測液體中熒光探針特征峰強度;
測定常壓下所述不同溫度所對應的溫度下待測液體的折射率;
建立熒光探針特征峰強度與待測液體折射率之間的對應關系,其中,所述熒光探針特征峰強度與待測液體折射率之間的對應關系按照如下方法建立:
A)根據測定的待測液體的折射率,計算常壓下所述不同溫度下的待測液的折射率參數;
B)以測定的熒光探針特征峰強度的對數為縱坐標、以待測液體的折射率參數為橫坐標,利用線性回歸法,進行數據擬合,建立待測液體中熒光分子轉子探針的熒光特征峰強度與待測液體折射率參數的工作曲線,工作曲線如公式A所示:
logI=aR+b (A)
其中,式中I為測定的常壓下不同溫度的待測液體中熒光探針特征峰強度a.u.;R為待測液的折射率參數;
測定加壓壓力條件下的待測液體中熒光探針特征峰強度,根據建立的熒光探針特征峰強度與待測液體折射率的對應關系,獲得待測液體在壓力條件下的折射率。
2.如權利要求1所述的測定方法,其特征是,所述壓力條件為絕對壓力≥0.1MPa。
3.如權利要求1所述的測定方法,其特征是,所述的熒光探針選擇分子轉子熒光探針。
4.如權利要求1所述的測定方法,其特征是,步驟A)中所述待測液體折射率參數按照公式B計算:
R=(n2+2)/(n2-1) (B)
式中:n為待測液體的折射率。
5.一種加壓條件下液體折射率的測定方法,其特征是,包括如下步驟:
1)將熒光分子轉子探針與待測液體混合均勻,配制熒光分子轉子探針-待測液體混合液;
2)于常壓下分別測定不同溫度條件下待測液體中熒光分子轉子探針的熒光特征峰強度I;
3)于常壓下分別測定與步驟2)中所述不同溫度相對應的溫度條件下的待測液體的折射率n;然后按照公式B計算相應溫度條件下待測液體的折射率參數R,公式如下:
R=(n2+2)/(n2-1) (B)
式中:n為待測液體的折射率;
4)根據測定的待測液體中熒光分子轉子探針的熒光特征峰強度與所述不同溫度對應溫度條件下的待測液體折射率參數,以熒光特征峰強度的對數為縱坐標、以待測液體的折射率參數為橫坐標,利用線性回歸法,進行數據擬合,建立待測液體中熒光分子轉子探針的熒光特征峰強度與待測液體折射率參數的工作曲線,工作曲線如式A所示:
logI=aR+b (A)
其中,式中I為步驟2)中測定的待測液體中熒光分子轉子探針的熒光特征峰強度,a.u.;R為折射率參數:
5)在壓力條件下測定熒光分子轉子探針-待測液體混合液中熒光分子轉子探針的特征峰強度;
6)將步驟5)測定的熒光分子轉子探針-待測液體混合液中熒光分子轉子探針的特征峰強度代入公式A,計算得到待測液體的折射率參數,然后根據折射率參數代入公式B,計算得到待測液體在壓力條件下的折射率。
6.如權利要求5所述的測定方法,其特征是,步驟1)中所述熒光分子轉子探針選擇基于扭轉分子內電荷轉移機理的熒光分子轉子探針。
7.如權利要求5或6所述的測定方法,其特征是,步驟1)中所述熒光分子轉子探針-待測液體混合液中熒光分子轉子探針的濃度為1×10-6~1×10-5mM/L。
8.如權利要求5或6所述的測定方法,其特征是,步驟5)中所述壓力條件為待測液體測定過程中的壓力0.1MPa
9.如權利要求5或6所述的測定方法,其特征是,步驟2)中所述不同溫度條件為溫度高于待測液體的凝固點溫度且低于待測液體氣化點溫度。
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