[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件的制造方法、襯底處理裝置及記錄介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810909958.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109473338A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尾崎貴志 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社國(guó)際電氣 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/02 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 楊宏軍;李文嶼 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理容器 排氣部 半導(dǎo)體器件 排氣管 清潔 襯底處理裝置 清潔氣體 襯底 制造 處理氣體 供給端口 直接供給 排氣 維護(hù) | ||
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件的制造方法、襯底處理裝置及記錄介質(zhì)。要解決的課題為降低排氣部的維護(hù)頻率。半導(dǎo)體器件的制造方法具有下述工序:對(duì)處理容器內(nèi)的襯底供給處理氣體,并從包括排氣管以及泵的排氣部進(jìn)行排氣,從而對(duì)襯底進(jìn)行處理的工序;從設(shè)置于排氣管的供給端口向排氣管內(nèi)直接供給第一清潔氣體,從而對(duì)排氣部?jī)?nèi)進(jìn)行清潔的工序;和向處理容器內(nèi)供給第二清潔氣體,從而對(duì)處理容器內(nèi)進(jìn)行清潔的工序,其中,使實(shí)施對(duì)排氣部?jī)?nèi)進(jìn)行清潔的工序的頻率高于實(shí)施對(duì)處理容器內(nèi)進(jìn)行清潔的工序的頻率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件的制造方法、襯底處理裝置及記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)
作為半導(dǎo)體器件的制造工序的一個(gè)工序,有時(shí)進(jìn)行下述工序:對(duì)處理容器內(nèi)的襯底供給處理氣體,從包括排氣管及泵的排氣部進(jìn)行排氣,從而處理襯底。若通過(guò)進(jìn)行該工序而在處理容器內(nèi)等附著了規(guī)定量的副產(chǎn)物,則有時(shí)于規(guī)定的時(shí)機(jī)(timing)進(jìn)行處理容器內(nèi)等的清潔(例如,參見(jiàn)專利文獻(xiàn)1)。另外,若在排氣部?jī)?nèi)附著了規(guī)定量的副產(chǎn)物,則有時(shí)于規(guī)定的時(shí)機(jī)進(jìn)行排氣部的維護(hù)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2002-222805號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題
本發(fā)明的目的在于,提供能夠降低排氣部的維護(hù)頻率的技術(shù)。
用于解決課題的手段
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方式,提供下述技術(shù),其具有下述工序:
對(duì)處理容器內(nèi)的襯底供給處理氣體,并從包括排氣管以及泵的排氣部進(jìn)行排氣,從而對(duì)所述襯底進(jìn)行處理的工序;
從設(shè)置于所述排氣管的供給端口向所述排氣管內(nèi)直接供給第一清潔氣體,從而對(duì)所述排氣部?jī)?nèi)進(jìn)行清潔的工序;和
向所述處理容器內(nèi)供給第二清潔氣體,從而對(duì)所述處理容器內(nèi)進(jìn)行清潔的工序,
其中,使實(shí)施對(duì)所述排氣部?jī)?nèi)進(jìn)行清潔的工序的頻率高于實(shí)施對(duì)所述處理容器內(nèi)進(jìn)行清潔的工序的頻率。
發(fā)明效果
根據(jù)本發(fā)明,能夠降低排氣部的維護(hù)頻率。
附圖說(shuō)明
[圖1]為本發(fā)明的一實(shí)施方式中適合使用的襯底處理裝置的立式處理爐的概略構(gòu)成圖,并且是以縱剖面圖示出處理爐部分的圖。
[圖2]為本發(fā)明的一實(shí)施方式中適合使用的襯底處理裝置的立式處理爐的概略構(gòu)成圖,并且是以圖1的A-A線剖面圖示出處理爐部分的圖。
[圖3]為本發(fā)明的一實(shí)施方式中適合使用的襯底處理裝置的控制器的概略構(gòu)成圖,并且是以框圖示出控制器的控制系統(tǒng)的圖。
[圖4]為示出本發(fā)明的一實(shí)施方式的襯底處理順序的圖。
[圖5](a)為示出不實(shí)施第一清潔處理的情況下的排氣部的維護(hù)頻率的圖,(b)為示出實(shí)施第一清潔處理的情況下的排氣部的維護(hù)頻率的圖。
[圖6]為示出附著于排氣部?jī)?nèi)的副產(chǎn)物、與供給至排氣部?jī)?nèi)的HF氣體的反應(yīng)的情形的圖。
[附圖標(biāo)記說(shuō)明]
200 晶片(襯底)
具體實(shí)施方式
<本發(fā)明的一實(shí)施方式>
以下,參照?qǐng)D1~圖4,說(shuō)明本發(fā)明的一實(shí)施方式。
(1)襯底處理裝置的構(gòu)成
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





