[發明專利]一種大米籽粒破碎情況的檢測方法有效
| 申請號: | 201810909306.7 | 申請日: | 2018-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN109085132B | 公開(公告)日: | 2020-09-18 |
| 發明(設計)人: | 李興軍;陳治天;邵漢良;吳軍;王若蘭 | 申請(專利權)人: | 國家糧食和物資儲備局科學研究院;蘇州海唐智能裝備有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/33 | 分類號: | G01N21/33 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 李遠思 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 大米 籽粒 破碎 情況 檢測 方法 | ||
本發明公開一種大米籽粒破碎情況的檢測方法,包括:對待測大米樣品依次進行染色、洗滌和洗脫,得到洗脫液;分別測定洗脫液在610nm和690nm波長處的吸光值OD610和OD690;將△OD=OD610?OD690定義為待測大米樣品的大米籽粒破碎指數。本發明可快速精確地檢測大米籽粒的破碎情況。
技術領域
本發明涉及食品科學技術領域。更具體地,涉及一種大米籽粒破碎情況的檢測方法。
背景技術
糧食的破碎率是評價糧食儲藏、加工環節品質的一項重要指標。我國糧食質量指標中規定,秈稻谷的1、2、3、4、5級整精米率的標準為分別不低于50%、47%、44%、41%、38%,粳稻谷的1、2、3、4、5級整精米率的標準為61%、58%、55%、52%、49%。碎米指米粒大小僅是完整米粒的1/4~3/4之間的精米。大米籽粒的破碎率越高,其質量等級越低,直接導致在運輸和儲藏的過程中,其品質劣變加快。由于破碎的大米籽粒的吸濕性強,易于引起發熱和遭受害蟲及霉菌的侵襲,使糧食儲藏的穩定性顯著降低,貨架期變短。
進一步,現有的多種大米加工工藝需要進行大米籽粒破碎率的檢測,例如:一、將大米加工成精米的加工工藝中,整精米率受稻谷類型、收獲后干燥及儲藏方式、含水率、精米機及研磨時間、研磨重量、研磨過程中大米的高溫等因素的影響。通常采用的精米機使用150克大米,研磨30秒。減少研磨時間或減少研磨重量(壓強)則增加整精米率,但是研磨程度降低。因此,研磨過程的控制需要以大米籽粒破碎率的檢測作為依據。二、冷等離子技術是食品行業近年新興的加工技術,對谷物和薯類淀粉具有刻蝕、聚合、嫁接作用,具有顯著減少米飯蒸煮時間的效果,但這項技術的應用需要準確評價其對處理后大米的品質影響,即,也需要大米籽粒破碎率的檢測作為依據。
因此,如何快速精確的檢測大米籽粒的破碎率是當前的一個重要課題。
目前,大米籽粒的破碎率檢測主要存在以下兩種方法:
第一種是過篩法:將一定數量的精米在條形孔徑(長度和寬度各是2和1.7mm)的直徑20cm、高度4cm的圓形鋁篩過篩,篩子上面的精米占總精米的質量百分數,表示整精米率。由于受秈稻谷含水率高低、籽粒長度的影響,偏低含水率的秈稻加工的秈精米破碎率高,絕大多數秈精米穿過了圓形鋁篩。而粳米呈現短圓形狀,穿過圓形鋁篩的比例極低。此方法是粗放型的檢測方法,檢測精度低。
第二種是采用大米外觀品質測定儀的圖像檢測法:通過對500~600粒精米掃描成像,按照國家標準GB1354規定,對粳稻和秈稻加工的精米統計整精米率。大米品質外觀掃描儀用于測定整精米率、白堊度、不完善粒等指標,目前主要用于實驗室研究,尚未實現產業應用。此方法同樣存在檢測精度低的問題,例如大米籽粒的斷裂面如果位于掃描成像的背面或側面,則從掃描成像的圖像中無法準確檢測出該斷裂面。另外,該方法的設備成本較高,且針對我國糧食生產中大米類型和品種多的情況有待完善。
因此,需要提供一種快速精確的大米籽粒破碎情況的檢測方法。
發明內容
本發明的目的在于提供一種可對大米在儲藏、加工及流通過程中的大米籽粒的破碎情況,進行快速精確地檢測的大米籽粒破碎情況的檢測方法。
為達到上述目的,本發明采用下述技術方案:
本發明提供了一種大米破碎情況的檢測方法,包括:
對待測大米樣品依次進行染色、洗滌和洗脫,得到洗脫液;
分別測定所述洗脫液在610nm和690nm波長處的吸光值OD610和OD690;
將△OD=OD610-OD690定義為所述待測大米樣品的大米籽粒破碎指數。
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