[發明專利]一種位移偵測裝置及物體位移的測量方法在審
| 申請號: | 201810901563.6 | 申請日: | 2018-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN109387148A | 公開(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發明(設計)人: | 徐志豪;林正軒 | 申請(專利權)人: | 億光電子工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 文小莉;臧建明 |
| 地址: | 中國臺灣新*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 位移偵測裝置 物體位移 感測元件 分光元件 光線感測 光學元件 測量 位移檢測裝置 變化測量 發光元件 光元件 移動 采集 監測 | ||
本發明提供一種位移偵測裝置及物體位移的測量方法,位移偵測裝置包括:一發光元件、一光學元件、一分光元件以及一感測元件,其中,當所述物體在所述分光元件及所述感測元件之間移動時或當所述物體在所述分光元件及所述光學元件之間移動時,所述感測元件會反應出不同的光線感測變化;其中,通過所述物體位移時所對應產生的所述感測元件的光線感測變化測量所述物體的位移,本實施例提供的位移偵測裝置,實現了位移偵測裝置對物體位移變化的高精度及時采集監測的目的,解決了現有技術中位移檢測裝置對物體位移的測量精度不高的技術問題。
技術領域
本發明涉及一種發光感測領域,特別涉及一種位移偵測裝置及物體位移的測量方法。
背景技術
位置檢測傳感器是一種對物體位置進行檢測的裝置,通過對物體的位置的檢測從而獲得物體的狀態,進而根據物體的狀態執行相應的控制操作,位置檢測傳感器可以應用于工件的位移、尺寸、表面狀態及振動、偏心、間隙、沖程等運動狀態的在線檢測以及空間三維位移檢測和機器人測距等方面。
目前,位置檢測傳感器主要包括:發光元件和受光元件,受光元件具體為光電二級管(photodiode),其中,發光元件將電轉為光,光投射到受光元件,由受光元件將光轉為電信號,控制單元根據電信號判斷出外接物的存在或接近等狀態,具體的,當發光元件和受光元件之間沒有遮擋物體時,則發光元件發出的光線會全部射到受光元件上,當有一被測物體位于發光元件和受光元件之間時被測物體會擋住一部分光線,這時受光元件根據檢測到的光線感測出有物體通過,此時控制單元根據受光元件的信號判斷出發光元件和受光元件之間有物體通過或接近。
然而,上述位置檢測傳感器只能檢測出物體是否通過或接近等狀態,無法對物體移動過程中的位移變化進行檢測。
發明內容
鑒于上述問題,本發明的目的在于提供一種位移偵測裝置及物體位移的測量方法,實現了對物體位移變化的高精度測量目的。
為達上述目的,本發明提供一種位移偵測裝置,所述位移偵測裝置包括:
一發光元件,用于提供一光線;
一光學元件,設置于所述發光元件的一側,用于將所述光線轉換成一平行光束;
一分光元件,設置于所述光學元件的一側,用于將所述平行光束劃分為多個平行光線;
以及一感測元件,設置于所述分光元件的一側;
其中,當一物體位于所述分光元件及所述感測元件之間或位于所述分光元件及所述光學元件之間時,所述物體遮蔽一部分的該些平行光線,所述物體允許另一部分的該些平行光線投射至所述感測元件,所述感測元件產生一光線感測;
其中,當所述物體在所述分光元件及所述感測元件之間移動時或當所述物體在所述分光元件及所述光學元件之間移動時,所述感測元件會反應出不同的光線感測變化;其中,通過所述物體位移時所對應產生的所述感測元件的光線感測變化測量所述物體的位移。
較佳地,所述位移偵測裝置還包括一固定架。
較佳地,所述發光元件為發光二極管、鐳射二極管、固態鐳射、液態鐳射、氣態鐳射、準分子鐳射及光纖鐳射的其中一者或至少二者以上所任意組合的群組。
較佳地,所述位移偵測裝置還包括一固定架,其中所述發光元件、所述光學元件及所述分光元件設置在所述固定架的同一側。
較佳地,還包括一固定架,其中所述感測元件設置在所述固定架的另一同側面上。
較佳地,所述位移偵測裝置還包括一固定架,其中所述發光元件、所述光學元件及所述分光元件設置在所述固定架的同一側,所述感測元件設置在所述固定架的另一同側面上,或者
所述發光元件、所述光學元件設置在所述固定架的同一側,所述分光元件和所述感測元件設置在所述固定架的另一同側面上。
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