[發明專利]一種位移偵測裝置及物體位移的測量方法

在審

• 申請號: 201810901563.6
• 申請日: 2018-08-09
• 公開（公告）號: CN109387148A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 徐志豪;林正軒
• 申請（專利權）人: 億光電子工業股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 文小莉;臧建明

1.一種位移偵測裝置，其特征在于，包括：

一發光元件，用于提供一光線；

一光學元件，設置于所述發光元件的一側，用于將所述光線轉換成一平行光束；

一分光元件，設置于所述光學元件的一側，用于將所述平行光束劃分為多個平行光線；

以及一感測元件，設置于所述分光元件的一側；

其中，當一物體位于所述分光元件及所述感測元件之間或位于所述分光元件及所述光學元件之間時，所述物體遮蔽一部分的該些平行光線，所述物體允許另一部分的該些平行光線投射至所述感測元件，所述感測元件產生一光線感測；

其中，當所述物體在所述分光元件及所述感測元件之間移動時或當所述物體在所述分光元件及所述光學元件之間移動時，所述感測元件會反應出不同的光線感測變化；其中，通過所述物體位移時所對應產生的所述感測元件的光線感測變化測量所述物體的位移。

2.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，所述發光元件為發光二極管、鐳射二極管、固態鐳射、液態鐳射、氣態鐳射、準分子鐳射及光纖鐳射的其中一者或至少二者以上所任意組合的群組。

3.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，還包括一固定架，其中所述發光元件、所述光學元件及所述分光元件設置在所述固定架的同一側，所述感測元件設置在所述固定架的另一同側面上，或者

所述發光元件、所述光學元件設置在所述固定架的同一側，所述分光元件和所述感測元件設置在所述固定架的另一同側面上。

4.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，還包括一固定架，其中所述固定架為U型結構。

5.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，還包括一固定架，其中所述固定架具有一出光面和一收光面，且所述出光面和所述收光面之間具有一物體位移測量空間。

6.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，還包括：

一處理元件，用于處理所述感測元件的光線感測變化，并產生所述物體的位移數值，以及，

一顯示元件，與所述處理元件電性連接，用于顯示所述物體的位移數值。

7.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，所述光學元件為單凸光學元件或透鏡，或者，所述光學元件為雙凸光學元件或透鏡。

8.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，所述分光元件包括一光柵、一分光鏡、一棱鏡、一分光光學膜、一光纖耦合器、一光子晶體元件的其中一者或至少二者以上所任意組合的群組。

9.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，所述分光元件包括多個透光口或透光窗。

10.根據權利要求1所述的位移偵測裝置，其特征在于，所述感測元件包括位置感測器PSD、光耦合感測元件CCD、場效應半導體感測元件CMOS、半導體感測元件的其中一者。

11.一種物體位移的測量方法，其特征在于，包括：

提供一發光元件，用于提供一光線；

提供一光學元件，用于將所述光線轉換成一平行光束；

提供一分光元件，用于將所述平行光束劃分為多個平行光線；

提供一感測元件；

當一物體位于所述分光元件及所述感測元件之間或位于所述分光元件及所述光學元件之間時，所述物體遮蔽一部分的該些平行光線，所述物體允許另一部分的該些平行光線投射至所述感測元件，所述感測元件產生一光線感測；

當所述物體在所述分光元件及所述感測元件之間移動時或當所述物體在所述分光元件及所述光學元件之間移動時，所述感測元件會反應出不同的光線感測變化；以及通過所述物體位移時所對應產生的所述感測元件的光線感測變化測量所述物體的位移。