[發(fā)明專利]晶片的加工方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810900302.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109411412A | 公開(公告)日: | 2019-03-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 森數(shù)洋司 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社迪思科 |
| 主分類號(hào): | H01L21/82 | 分類號(hào): | H01L21/82 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帥;喬婉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 盾構(gòu)隧道 晶片 單晶硅 等離子蝕刻 保護(hù)部件 激光光線 形成工序 波長 細(xì)孔 分割 背面 加工 蝕刻 單晶硅晶片 分割預(yù)定線 復(fù)合加工 器件芯片 區(qū)域照射 非晶質(zhì) 透過性 | ||
1.一種晶片的加工方法,將由交叉的多條分割預(yù)定線劃分而在單晶硅基板的正面上形成有多個(gè)器件的晶片分割成各個(gè)器件芯片,其中,該晶片的加工方法具有如下的工序:
保護(hù)部件配設(shè)工序,在晶片的正面上配設(shè)保護(hù)部件;
盾構(gòu)隧道形成工序,在實(shí)施了該保護(hù)部件配設(shè)工序之后,從晶片的背面對(duì)與分割預(yù)定線對(duì)應(yīng)的區(qū)域照射對(duì)于單晶硅具有透過性的波長的激光光線而連續(xù)地形成多個(gè)盾構(gòu)隧道,該盾構(gòu)隧道由從背面至正面的細(xì)孔和圍繞該細(xì)孔的非晶質(zhì)構(gòu)成;以及
分割工序,在實(shí)施了該盾構(gòu)隧道形成工序之后,通過等離子蝕刻對(duì)該盾構(gòu)隧道進(jìn)行蝕刻而將晶片分割成各個(gè)器件芯片,
將該盾構(gòu)隧道形成工序中所使用的激光光線的波長設(shè)定為1950nm以上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片的加工方法,其中,
在該盾構(gòu)隧道形成工序中,按照使會(huì)聚激光光線的聚光透鏡的數(shù)值孔徑除以單晶硅的折射率而得的值為0.05~0.2的范圍的方式設(shè)定該聚光透鏡的數(shù)值孔徑。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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