[發(fā)明專利]光譜分析的測量裝置和在使用光譜分析的測量裝置的情況下用于分析介質(zhì)的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810897400.5
• 申請日: 2018-08-08
• 公開（公告）號: CN109387483A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: B.施泰因;C.舍林;F.米歇爾;M.胡斯尼克;R.諾爾特邁爾;M.赫默斯多夫
• 申請（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/27
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 梁冰;李雪瑩

光譜分析的測量裝置，測量裝置被設(shè)置用于檢測固體和流體的、光譜分析的數(shù)據(jù)，測量裝置包括接收裝置，接收裝置被設(shè)置用于接收待研究的介質(zhì)，其中，微型分光儀被設(shè)置用于檢測介質(zhì)的、光譜分析的數(shù)據(jù)，其中，微型分光儀?包括照射單元，照射單元被設(shè)置用于，以電磁輻射來輻射介質(zhì)，并且?包括檢測單元，檢測單元被設(shè)置用于，檢測電磁輻射的、來自介質(zhì)的方向的輻射份額，其中，?將微型分光儀布置在接收裝置的第一側(cè)處，微型分光儀包括照射單元和檢測單元，并且，?將射束偏轉(zhuǎn)裝置布置在接收裝置的、與第一側(cè)對置的第二側(cè)處，射束偏轉(zhuǎn)裝置被設(shè)置用于，將來自照射單元的電磁輻射的至少一部分偏轉(zhuǎn)到檢測單元的方向上。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光譜分析的測量裝置、一種在使用光譜分析的測量裝置的情況下用于分析介質(zhì)的方法和一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)

在US 5909280 A中描述了一種微分光儀，所述微分光儀包括整體集成的光源和整體集成的檢測器。微分光儀被作用傳感器系統(tǒng)的一部分，所述傳感器系統(tǒng)適用于研究固體和液體。微分光儀包括作為光譜元件的法布里-珀羅干涉儀和腔室，待研究的介質(zhì)能夠經(jīng)由通道進(jìn)入到所述腔室中。光源和檢測器被布置在腔室的、對置的側(cè)上。

發(fā)明內(nèi)容

介質(zhì)的光譜信息能夠從來自介質(zhì)的電磁輻射中（例如從由介質(zhì)發(fā)射、反射、透射（transmittiert）和/或散射的電磁輻射中）獲得，通過由分光儀接收并且評估這些電磁輻射的方式。在此，光譜元件（例如，光柵分光儀、法布里-珀羅干涉儀、透射濾波器（Transmissionsfilter）/線性可變?yōu)V波器或者傅立葉-變換分光儀）能夠被布置在光源和待研究的介質(zhì)之間，和/或，在介質(zhì)和檢測器之間。為了檢測待研究的介質(zhì)的、光譜分析的數(shù)據(jù)，能夠執(zhí)行透射測量（Transmissionsmessung）或者反射測量。在透射測量時，電磁輻射由待研究的介質(zhì)透射，其中，所透射的電磁輻射具有關(guān)于介質(zhì)的光譜信息。所透射的電磁輻射能夠波長選擇性地被檢測，并且，提供關(guān)于介質(zhì)的光譜成分的啟示。在反射測量時，電磁輻射由待研究的介質(zhì)反射，其中，所反射的電磁輻射具有關(guān)于介質(zhì)的光譜信息。所反射的電磁輻射能夠波長選擇性地被檢測，并且，提供關(guān)于介質(zhì)的光譜成分的啟示。

流體（即，液體、氣體以及液體和氣體的混合物）僅部分地反射入射到流體上的電磁輻射的較小的部分，并且入射到流體上的電磁輻射的較大部分由流體透射。

具有獨(dú)立權(quán)利要求的特征的本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是：為了檢測光譜分析的數(shù)據(jù)，能夠借助具有權(quán)利要求1的特征的、光譜分析的測量裝置來執(zhí)行透射測量和反射測量，并且，因此能夠以高的信號強(qiáng)度并且因此以高的精度以及可靠性來檢測固體和流體的光譜數(shù)據(jù)/信息。由此，能夠提高對介質(zhì)的光譜分析的結(jié)果的可靠性，并且，能夠擴(kuò)展光譜分析的測量裝置的應(yīng)用可能性。