[發明專利]一種自動測試裝置

在審

• 申請號: 201810896271.8
• 申請日: 2018-08-08
• 公開（公告）號: CN108957045A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 胡輝輝;張靖;房濤;雷鵬;廖珂;胡建輝;康揚;劉爽
• 申請（專利權）人: 格力電器(武漢)有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/327
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

本發明涉及光電開關技術領域，公開了一種自動測試裝置，該自動測試裝置包括檢測臺，檢測臺包括工作臺面，工作臺面具有上料空間、裝料空間、檢測工位、下料工位；上料空間包括上料工位和第一料管存放工位，裝料空間包括裝料工位和第二料管存放工位；該自動檢測裝置還包括推料組件、第一料管轉移組件、檢測組件、芯片轉移組件、裝料組件、第二料管轉移組件和控制模塊。上述自動測試裝置實現了對光電開關的芯片的自動檢測，提高了檢測效率，且對光電開關的芯片進行了無光電流檢測，同時有效防止了測試過程中光電開關的芯片的引腳變形的情況。

技術領域

本發明涉及光電開關技術領域，特別涉及一種自動測試裝置。

背景技術

光電開關作為各類運動部件限位、閉環反饋信號的有效傳感器之一，在各行各業運用廣泛。在空調中作為其滑動門是否滑動到位的關鍵傳感器，直接影響到整機的正常工作。其芯片的輸入、輸出的正向電流、反向電流、無光電流、集電極電流以及飽和電壓等參數，屬于出廠、入廠檢驗的必要內容和關鍵質量指標。目前對于此類參數測試，依靠晶體管特性圖示儀人工手動測試，存在測試效率低下、無光電流無法測試和測試導致引腳變形的情況。

發明內容

本發明提供了一種自動測試裝置，上述自動測試裝置實現了對光電開關的芯片的自動檢測，提高了檢測效率，且對光電開關的芯片進行了無光電流檢測，同時有效防止了測試過程中光電開關的芯片的引腳變形的情況。

為達到上述目的，本發明提供以下技術方案：

一種自動測試裝置，用于對光電開關的芯片進行自動檢測，包括檢測臺，檢測臺包括工作臺面，工作臺面具有上料空間、裝料空間、檢測工位、待裝料工位、下料工位；上料空間包括上料工位和用于存放卸載完芯片的空料管的第一料管存放工位，裝料空間包括裝料工位和用于存放裝載滿合格芯片的料管的第二料管存放工位；

用于將處于上料工位的料管內的芯片推動至檢測工位的推料組件；

用于將上料工位處卸完芯片的空料管轉移至第一料管存放工位的第一料管轉移組件；

用于對處于檢測工位處的芯片進行檢測的檢測組件；

用于將檢測工位處檢測合格的芯片轉移至待裝料工位、且將檢測工位處檢測不合格芯片轉移至下料工位的芯片轉移組件；

用于將處于待裝料工位、的芯片推入處于裝料工位的料管內的裝料組件；

用于將裝料工位上裝滿芯片的料管轉移至第二料管存放工位的第二料管轉移組件；

控制模塊，與所述推料組件、第一料管轉移組件、檢測組件、芯片轉移組件、裝料組件、第二料管轉移組件信號連接，以控制所述推料組件、第一料管轉移組件、檢測組件、芯片轉移組件、裝料組件、第二料管轉移組件動作。