[發明專利]一種自動測試裝置

在審

• 申請號: 201810896271.8
• 申請日: 2018-08-08
• 公開（公告）號: CN108957045A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 胡輝輝;張靖;房濤;雷鵬;廖珂;胡建輝;康揚;劉爽
• 申請（專利權）人: 格力電器(武漢)有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/327
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種自動測試裝置，用于對光電開關的芯片進行自動檢測，其特征在于，包括檢測臺，所述檢測臺包括工作臺面，所述工作臺面具有上料空間、裝料空間、檢測工位、待裝料工位、下料工位；所述上料空間包括上料工位和用于存放卸載完芯片的空料管的第一料管存放工位，所述裝料空間包括裝料工位和用于存放裝載滿合格芯片的料管的第二料管存放工位；

用于將處于所述上料工位的料管內的芯片推動至所述檢測工位的推料組件；

用于將所述上料工位處卸完芯片的空料管轉移至所述第一料管存放工位的第一料管轉移組件；

用于對處于所述檢測工位處的芯片進行檢測的檢測組件；

用于將所述檢測工位處檢測合格的芯片轉移至所述待裝料工位、且將所述檢測工位處檢測不合格芯片轉移至所述下料工位的芯片轉移組件；

用于將處于所述待裝料工位的芯片推入處于所述裝料工位的料管內的裝料組件；

用于將所述裝料工位上裝滿芯片的料管轉移至所述第二料管存放工位的第二料管轉移組件；

控制模塊，與所述推料組件、第一料管轉移組件、檢測組件、芯片轉移組件、裝料組件、第二料管轉移組件信號連接，以控制所述推料組件、第一料管轉移組件、檢測組件、芯片轉移組件、裝料組件、第二料管轉移組件動作。

2.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，所述工作臺面上設置有沿第一方向排列且相對設置的第一限位板和第二限位板，所述第一限位板和第二限位板垂直于所述工作臺面，所述第一限位板朝向所述第二限位板的表面形成有延伸方向與所述工作臺面垂直、且排列方向與所述第一方向垂直的第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽和第四凹槽，所述第二限位板朝向所述第一限位板的表面形成有延伸方向與所述工作臺面垂直、且排列方向與所述第一方向垂直的第五凹槽、第六凹槽、第七凹槽和第八凹槽，所述第一凹槽與所述第五凹槽之間形成有所述第一料管存放工位，所述第二凹槽和所述第六凹槽之間形成有所述上料工位，所述第三凹槽與所述第七凹槽之間形成有所述裝料工位，所述第四凹槽和所述第八凹槽之間形成有所述第二料管存放工位；所述檢測工位位于所述第一限位板背離所述第二限位板的一側，且所述第二凹槽的槽底形成有貫穿所述第一限位板厚度的出料口，所述第三凹槽的槽底形成有貫穿所述第一限位板厚度的進料口。

3.根據權利要求2所述的自動測試裝置，其特征在于，所述第一凹槽和所述第二凹槽共用的槽壁與所述工作臺面之間、所述第三凹槽和所述第四凹槽共用的槽壁與所述工作臺面之間、所述第五凹槽和所述第六凹槽共用的槽壁與所述工作臺面之間、所述第七凹槽和所述第八凹槽共用的槽壁與所述工作臺面之間均設有用于料管轉移的料管轉移通道。

4.根據權利要求2所述的自動測試裝置，其特征在于，所述第六凹槽的槽底上設有推料口，所述推料組件包括：

設置于所述第二限位板背離所述第一限位板一側、且沿所述第一方向延伸的導軌；

可沿所述導軌滑動地設置于所述導軌的轉接臺；

安裝于所述轉接臺、且用于自所述推料口伸入所述上料工位內存放的料管內的第一推料尺；

驅動所述轉接臺動作的推料驅動組件。

5.根據權利要求4所述的自動測試裝置，其特征在于，所述推料驅動組件包括：

安裝于所述檢測臺的傳送鏈條，所述轉接臺安裝于所述傳送鏈條；

驅動所述傳送鏈條動作的步進電機。

6.根據權利要求4所述的自動測試裝置，其特征在于，所述第一推料尺與所述轉接臺連接的一端與所述轉接臺之間設有彈簧和用于檢測第一推料尺位置的光電開關。