[發(fā)明專利]一種提高N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片封裝良率的膠水在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810887472.1 | 申請日: | 2018-08-06 |
| 公開(公告)號: | CN109119381A | 公開(公告)日: | 2019-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王允;蔣騫苑;趙德益;蘇海偉;呂海鳳;張嘯;趙志方;馮星星;吳青青;張利明 | 申請(專利權(quán))人: | 上海長園維安微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/29 | 分類號: | H01L23/29 |
| 代理公司: | 上海諾衣知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31298 | 代理人: | 衣然 |
| 地址: | 201202 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 封裝 膠水 襯底 負(fù)阻 良率 改性環(huán)氧樹脂 產(chǎn)品穩(wěn)定性 成分配比 極限能力 浪涌沖擊 毛刺問題 新型膠水 溢膠問題 超低的 碳酸酯 短路 散熱 爆管 殘壓 刷膠 銀粉 阻抗 版面 芯片 側(cè)面 開發(fā) | ||
本發(fā)明公開了一種提高N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片封裝良率的膠水,其成分配比如下:銀粉70?85wt%;改性環(huán)氧樹脂7.5?15wt%;碳酸酯7.5?15wt%。本發(fā)明開發(fā)的新型膠水具有阻抗更小、散熱更好、流通性更低的優(yōu)點(diǎn),同時(shí)采用刷膠工藝,避免了側(cè)面溢膠問題,降低了短路風(fēng)險(xiǎn),避免了浪涌沖擊時(shí)爆管和毛刺問題,提高了產(chǎn)品穩(wěn)定性,同時(shí)大大提升了封裝極限能力,能夠達(dá)到芯片版面與載體尺寸比例為1:1的水平,使得產(chǎn)品具有超低的正負(fù)向殘壓,能夠超越目前市面上的所有同類產(chǎn)品。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體芯片封裝工藝技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種提高N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片封裝良率的膠水。
背景技術(shù)
目前手機(jī)及其附屬產(chǎn)品作為當(dāng)下最受關(guān)注的行業(yè),整個(gè)集成電路行業(yè)的中心都在朝著手機(jī)及其附屬產(chǎn)品行業(yè)偏移:最先進(jìn)的芯片工藝、最高端的制造工藝和最高效的組裝技術(shù)等都在向手機(jī)行業(yè)靠攏。隨著芯片工藝技術(shù)、高速快充技術(shù)、超薄超輕要求不斷提高,可靠性面臨著重大的挑戰(zhàn),EOS和ESD、surge的失效越來越多,返修率也在急劇增加,這樣就使得整個(gè)電路系統(tǒng)中過壓保護(hù)就變得至關(guān)重要。在手機(jī)等消費(fèi)電子充電電路中,電池容量原來越大,導(dǎo)致充電電流、充電電壓越來越高,各種版本的快充都在不斷提高充電功率和充電效率,為了保證充電的安全性和可靠性,對保護(hù)器件提出了更高的要求,要求浪涌殘壓超低的單向器件才能滿足保護(hù)需求,為了滿足正負(fù)向浪涌殘壓超低的要求,同時(shí)兼容市場主流的N襯底芯片的要求,可行的方案有兩種:1.增大芯片面積,可以降低芯片的導(dǎo)通電阻,提升浪涌能力,達(dá)到降低殘壓的目的;2.使用N襯底的單向驟回TVS器件,正向浪涌時(shí)由于具有負(fù)阻特性可以有效的拉低殘壓值,負(fù)向浪涌時(shí)則有器件VF方向全部泄放掉,殘壓可以保持很低的水平。為了能夠達(dá)到最優(yōu)的方案,需要結(jié)合1和2兩種優(yōu)勢,使用最大版面的N襯底的單向驟回TVS器件就成了最有效的方案。
現(xiàn)有DFN2020封裝技術(shù)采用點(diǎn)膠工藝上芯,圖1為N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片點(diǎn)膠上芯封裝結(jié)構(gòu)示意圖,N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片通過導(dǎo)電膠51與基島61粘合在一起,然后通過Cu線71將芯片正面與載體62連接在一起,框架61和框架62形成一個(gè)電路通道;由于載體61與62距離很近,因此在進(jìn)行傳統(tǒng)點(diǎn)膠工藝上芯時(shí),要求芯片邊緣距離載體邊緣要大于200um以上,保證橫向溢膠不會將框架61和62連接起來,導(dǎo)致短路;常規(guī)點(diǎn)膠工藝溢膠高度控制在芯片厚度的50%以下,如圖1中所示,導(dǎo)電膠水溢膠52溢出高度已經(jīng)超過芯片厚度50%以上,由于N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片的PN是有襯底22和背面N擴(kuò)散區(qū)31組成,PN結(jié)位于芯片底部,此時(shí)的溢膠高度已經(jīng)將襯底22通過溢膠52形成了短路通道。上述描述的操作標(biāo)準(zhǔn)均為點(diǎn)膠工藝正常卡控標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)實(shí)際封裝良率得出,常規(guī)的點(diǎn)膠工藝封裝N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片接近100%的短路不良。
為了實(shí)現(xiàn)最大版面N襯底的單向驟回TVS器件的最優(yōu)方案,將N襯底單向負(fù)阻型TVS芯片面積放大到與載體面積達(dá)到1:1的比例,封裝示意圖如圖2所示,由于點(diǎn)膠工藝上芯時(shí)需要卡控芯片的三個(gè)側(cè)面必須有溢膠出現(xiàn)(目的是為了防止大功率芯片在上芯時(shí)出現(xiàn)背面空洞的情況,空洞會導(dǎo)致成品的爆管和短路現(xiàn)象發(fā)生),由于最大版面N襯底的單向驟回TVS芯片與載體61一樣大,此時(shí)溢膠52溢出方向主要為向下溢膠和橫向溢膠,向上溢膠會小很多,而由于載體61與載體62距離很近,因此會出現(xiàn)膠水溢膠52溢到載體62上的情況發(fā)生,使載體61與載體62發(fā)生短路,整個(gè)產(chǎn)品出現(xiàn)短路不良現(xiàn)象,實(shí)際封裝中,此類情況失效比例大約在50%以上。
名稱解釋:
殘壓:浪涌沖擊時(shí)特定電流下的鉗位電壓。
點(diǎn)膠:將導(dǎo)電膠點(diǎn)在封裝框架上,使芯片與框架結(jié)合在一起。
刷膠:將膠水刷到芯片背面,使芯片與框架結(jié)合在一起,對應(yīng)點(diǎn)膠。
溢膠:點(diǎn)膠上芯時(shí),芯片下壓導(dǎo)致膠水溢出,爬到芯片側(cè)面。
單向驟回:一端為VF特性,一端為負(fù)阻特性的器件。
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