[發明專利]光路調試方法

在審

• 申請號: 201810874164.5
• 申請日: 2018-08-03
• 公開（公告）號: CN109030360A
• 公開（公告）日: 2018-12-18
• 發明（設計）人: 王少勇;顧建峰;董殿永
• 申請（專利權）人: 蘇州博維儀器科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/73
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.光路調試方法，包括光譜儀本體(1)和調試步驟，其特征在于：所述光譜儀本體(1)內腔的左側固定連接有光柵(2)，所述光柵(2)內腔右側的頂部固定連接有聚焦鏡(3)，所述光譜儀本體(1)內腔右側的底部固定連接有準直鏡(4)，所述聚焦鏡(3)和準直鏡(4)鏡面與光柵(2)相對，所述光譜儀本體(1)左側的底部設置有入射夾縫(5)，所述入射夾縫(5)的左側設置有鏡筒(6)，所述光譜儀本體(1)左側的頂部設置有出射夾縫(7)，所述出射夾縫(7)的左側設置有探測器(8)，所述探測器(8)的底部與光譜儀本體(1)固定連接；

所述光譜儀本體(1)包括石英透鏡(9)，所述石英透鏡(9)與準直鏡(4)相對，所述光柵(2)和鏡筒(6)之間設置有準直鏡光斑中心(10)，所述光柵(2)、準直鏡光斑中心(10)和鏡筒(6)的中心處設置有基準線(11)。

調試步驟如下：

步驟一：布置基準線：

以兩夾縫中心連線作為基準線；

步驟二：調平準直鏡；

在入射狹縫處放置粗狹縫，鎢燈光線經過鏡筒照亮粗入射狹縫后照滿準直鏡，調整準直鏡，將其所成光斑中心與基準線重合；

步驟三：調平光柵：

裝上光柵，轉動光柵，光線經光柵反射重新照在準直鏡上，聚焦在入射夾縫附近，通過調整光柵使光柵零級光斑中心與基準線重合；

步驟四：調平聚焦：

轉動光柵，光線經光柵反射打在聚焦鏡上后成像在出射夾縫附近，通過調整聚焦鏡使其所成光斑中心與基準線重合；

步驟五：調平色帶：

轉動光柵，讓衍射色帶出現在夾縫附近，通過調整光柵使色帶中心與基準線重合；

步驟六：安裝入射夾縫：

換用筆形汞燈，通過鏡筒成像再入射在夾縫，用顯微鏡在出射夾縫處觀察成像情況，調整顯微鏡看到清晰的入射夾縫像，固定細夾縫；

步驟七：調焦：

在出射夾縫放置粗夾縫，轉動光柵，讓零級光出現在粗夾縫中，用顯微鏡觀察成像情況，判斷入射夾縫所成像與粗夾縫的相對位置，細入射夾縫的角度為15度，粗入射夾縫的角度為20度；

步驟八：安裝出射夾縫：

出射狹縫處換用細狹縫，用顯微鏡觀察，調整細狹縫，使其對準入射狹縫所成的像，固定出射狹縫。

2.根據權利要求1所述的光路調試方法，其特征在于：所述換用筆形汞燈為較弱光源低壓筆形汞燈，成像在入射夾縫的成像比例為1：1，且入射夾縫換用細夾縫，轉動細入射夾縫至成像質量最好時，將細夾縫固定。

3.根據權利要求1所述的光路調試方法，其特征在于：所述調整細入射夾縫像和粗入射夾縫，并判斷細入射夾縫像和粗入射夾縫在同一面上。