[發(fā)明專利]焊盤的制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810840591.1 | 申請日: | 2018-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN109065459A | 公開(公告)日: | 2018-12-21 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉珊珊;廖漢忠;陳順利;丁逸圣 | 申請(專利權)人: | 大連德豪光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;H01L33/62 |
| 代理公司: | 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 郭瑋;李雙皓 |
| 地址: | 116051 遼寧省*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 焊盤 錫膏 掩膜層 孔槽 熱處理 預設 電化學 材料成本 固體狀態(tài) 合金材料 冷卻處理 熔融狀態(tài) 涂布錫膏 錫膏涂布 對孔槽 上表面 電鍍 電極 產能 濺射 晶圓 填滿 蒸鍍 去除 制備 制作 申請 制造 | ||
本發(fā)明涉及一種焊盤的制作方法。包括:在晶圓的電極的上表面形成掩膜層,掩膜層包括多個孔槽;在掩膜層上涂布錫膏,使得錫膏填滿多個孔槽;根據(jù)預設的第一溫度,對孔槽中的錫膏進行熱處理,使得孔槽中的錫膏呈熔融狀態(tài);根據(jù)預設的第二溫度,對熱處理后的錫膏進行冷卻處理,使得孔槽中的錫膏呈固體狀態(tài);去除掩膜層,得到焊盤。由于采用錫膏涂布的方式形成焊盤,相對采用蒸鍍、濺射、電鍍及電化學等方式,將合金材料制備成焊盤方法,工藝簡單,所用材料成本低,因此,本申請涉及的焊盤的制造方法,產能高,成本低。
技術領域
本發(fā)明涉及半導體技術領域,特別是涉及了一種焊盤的制作方法。
背景技術
隨著半導體技術的發(fā)展,半導體產品的尺寸越來越小,其對應的焊盤尺寸也隨之越來越小,因此,焊盤制作工藝顯得尤為重要。
傳統(tǒng)的焊盤制作工藝主要包括絲印固晶方式和共晶焊方式,尤其是在小焊盤的制作中,通常使用共晶焊方式。共晶焊方式一般采用蒸鍍、濺射、電鍍及電化學等方式,將能夠共晶焊的合金材料制備成焊盤。
但是,當焊盤厚度需求較高時,采用共晶焊方式會使得產能降低,且成本高。
發(fā)明內容
基于此,有必要針對小焊盤焊盤厚度需求較高時產能降低、成本高的問題,提供一種焊盤的制作方法。
一種焊盤的制作方法,所述方法包括:
在晶圓的電極的上表面形成掩膜層,所述掩膜層包括多個孔槽;
在所述掩膜層上涂布錫膏,使得所述錫膏填滿所述多個孔槽;
根據(jù)預設的第一溫度,對所述孔槽中的錫膏進行熱處理,使得所述孔槽中的錫膏呈熔融狀態(tài);
根據(jù)預設的第二溫度,對熱處理后的錫膏進行冷卻處理,使得所述孔槽中的錫膏呈固體狀態(tài);
去除所述掩膜層,得到所述焊盤。
在其中一個實施例中,對所述焊盤的固晶面進行研磨,使得所述焊盤的固晶面積最大。
在其中一個實施例中,所述去除所述掩膜層,得到所述焊盤之后,所述方法還包括:
對所述焊盤的固晶面進行研磨,使得所述焊盤的固晶面積最大。
在其中一個實施例中,所述在晶圓的電極的上表面形成掩膜層,包括:
通過貼膜的方式將薄膜材料粘合在所述晶圓上,形成薄膜層;
通過紫外線照射所述薄膜層,在所述薄膜層上形成所述多個孔槽,得到所述掩膜層。
在其中一個實施例中,所述在所述掩膜層上涂布錫膏,包括:
通過旋涂機將所述錫膏涂布在所述掩膜層上。
在其中一個實施例中,所述通過旋涂機將所述錫膏涂布在所述掩膜層上,包括:
根據(jù)預設的稀釋液和錫膏之間的比例,對所述錫膏進行稀釋,得到稀釋后的錫膏;
通過所述旋涂機將所述稀釋后的錫膏涂布在所述掩膜層上。
在其中一個實施例中,所述焊盤的徑向尺寸大于或者等于3μm,所述焊盤的厚度為4μm~120μm。
在其中一個實施例中,若焊點溫度小于預設的第三溫度,則所述錫膏包括錫元素、銀元素、錫元素和鉍元素;若所述焊點溫度大于或等于所述第三溫度,則所述錫膏包括錫元素、銅元素和金元素。
在其中一個實施例中,所述在晶圓的電極的上表面形成掩膜層之前,所述方法還包括:
采用沉積或濺射的方式,在所述晶圓上制備一金屬層,形成所述電極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





