[發明專利]顯示面板的測試裝置及測試方法

在審

• 申請號: 201810831300.2
• 申請日: 2018-07-24
• 公開（公告）號: CN108877613A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 王美紅;童培謙
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發明提供一種顯示面板的測試裝置及測試方法，所述測試裝置包括：MCU模塊；分別與所述MCU模塊連接的電性監測模塊、電源模塊、FPGA模塊；UI顯示模塊；與所述UI顯示模塊連接的光學監測模塊；分別與所述FPGA模塊連接的GOA信號處理模塊、DAC模塊；所述電源模塊、GOA信號處理模塊、DAC模塊、所述電性監測模塊以及所述光學監測模塊分別與顯示面板連接。有益效果：本發明通過集成FPGA芯片和MCU芯片，既能快速、有效地驅動面板，也能對面板的電學和光學特性進行采集，分析面板的發光品質。

技術領域

本發明涉及顯示器的測試領域，尤其涉及一種顯示面板的測試裝置及測試方法。

背景技術

平板顯示技術是現代生活中不可或缺的一部分，應用領域十分廣泛。目前，平板顯示技術主要的應用領域包括智能手機、平板電腦、筆記本電腦、電視等，并且未來有可能在汽車電子、工業控制、電子標簽、智慧醫療等新興領域扮演重要角色。隨著互聯網的普及，智能化趨勢的不斷推進，顯示屏作為人機交互的界面，其市場規模正在隨著智能手機等終端設備數量的增加而不斷擴大，面板需求量和出貨面積逐年遞增。

隨著面板產量的逐年遞增，在面板產出后，如何更加快捷、有效地檢測面板的發光品質，是面板市場普遍關注的話題。目前的檢測設備通常需要各種線材進行連接，操作過程較為繁瑣，且由于測試系統需采用各種線材連接，容易導致接口接觸不良，造成測試結果的不可靠。

綜上所述，現有的面板測試裝置存在操作過程繁瑣，導致測試時間長，進而導致面板檢測的效率低下，不利于大規模生產的面板檢測。

發明內容

本發明提供一種顯示面板的測試裝置，能夠集成FPGA芯片和MCU芯片，快速、有效的驅動顯示面板，利用MCU對面板的電學和光學性能參數進行采集，分析面板的發光品質，極大地縮短了面板檢測的時間，以解決現有的顯示器的檢測裝置，由于需要連接多個線材，導致操作過程繁瑣，進而影響檢測的效率問題。

為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種顯示面板的測試裝置，包括：

MCU(微處理器)模塊；

分別與所述MCU模塊連接的電性監測模塊、電源模塊、FPGA(現場可編程門陣列)模塊、UI(用戶界面)顯示模塊；

與所述UI顯示模塊連接的光學監測模塊；

分別與所述FPGA模塊連接的GOA(陣列基板行驅動)信號處理模塊、DAC(數模轉換器)模塊；所述電源模塊、GOA信號處理模塊、DAC模塊、所述電性監測模塊以及所述光學監測模塊分別與顯示面板連接；

所述電源模塊接收來自所述MCU模塊發送的電源配置信息，向所述顯示面板供電；

所述GOA信號處理模塊接收來自所述FPGA模塊的GOA時序信號，向所述顯示面板輸出相應的GOA時序；

所述MCU模塊將DATA電壓信號或圖片信息發送至所述FPGA模塊，再經過所述DAC模塊，向所述顯示面板輸出相應的DATA(數據)電壓或像素電壓；

所述MCU模塊分別通過所述電性監測模塊和所述光學監測模塊，對所述顯示面板的電學特性和光學特性進行實時監測。

根據本發明一優選實施例，所述FPGA模塊包括時鐘模塊、SPI(串行外設接口)通訊模塊、GOA時序模塊、DAC控制模塊。

根據本發明一優選實施例，所述GOA信號處理模塊包括模擬開關和GOA輸出單元，所述模擬開關分別與所述電源模塊、所述FPGA模塊以及所述GOA輸出單元連接，所述GOA輸出單元與所述顯示面板連接。

根據本發明一優選實施例，所述DAC模塊包括數模轉換器、運算放大器以及DAC輸出單元。