[發(fā)明專利]反應(yīng)腔室和半導(dǎo)體熱處理設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810826689.1 | 申請日: | 2018-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN110767567B | 公開(公告)日: | 2022-03-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郝琪;楊帥;孫志坤 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;姜春咸 |
| 地址: | 100176 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反應(yīng) 半導(dǎo)體 熱處理 設(shè)備 | ||
1.一種反應(yīng)腔室,包括腔室本體,其特征在于,還包括旋轉(zhuǎn)盤、套設(shè)在所述旋轉(zhuǎn)盤外周的導(dǎo)流板、以及位于所述旋轉(zhuǎn)盤下方的冷卻盤,其中,
所述冷卻盤上設(shè)有相連通的環(huán)形通道和第一進(jìn)氣通道,所述環(huán)形通道的靠近所述冷卻盤外邊緣的側(cè)壁與所述導(dǎo)流板的外周壁之間、所述導(dǎo)流板的頂壁與所述腔室本體的底壁之間共同形成邊緣導(dǎo)流結(jié)構(gòu),防腐蝕氣體能由所述第一進(jìn)氣通道經(jīng)所述邊緣導(dǎo)流結(jié)構(gòu)進(jìn)入所述腔室本體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,還包括定位件和位于所述腔室本體內(nèi)的保溫座,所述保溫座與所述旋轉(zhuǎn)盤連接,且所述保溫座在朝向所述導(dǎo)流板的一側(cè)邊緣處設(shè)有所述定位件,所述定位件上設(shè)有環(huán)形凹槽,其中,
所述導(dǎo)流板上設(shè)有能容納在所述環(huán)形凹槽中的環(huán)形凸起,所述冷卻盤的頂壁與所述旋轉(zhuǎn)盤的底壁之間、所述定位件與所述環(huán)形凸起之間共同形成輔助導(dǎo)流結(jié)構(gòu);
所述輔助導(dǎo)流結(jié)構(gòu)與第二進(jìn)氣通道連通,所述防腐蝕氣體能由所述第二進(jìn)氣通道經(jīng)所述輔助導(dǎo)流結(jié)構(gòu)進(jìn)入所述腔室本體。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述導(dǎo)流板包括環(huán)狀主體板、折邊板和所述環(huán)形凸起,其中,所述環(huán)狀主體板外邊緣向上彎折后再沿其徑向向外延伸形成所述折邊板,所述環(huán)狀主體板內(nèi)邊緣處設(shè)有所述環(huán)形凸起。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述冷卻盤上表面凹陷形成所述環(huán)形通道,所述環(huán)形通道包括通道底壁、靠近所述冷卻盤外邊緣的第一環(huán)形側(cè)壁以及與所述第一環(huán)形側(cè)壁相對的第二環(huán)形側(cè)壁,其中,
所述第一環(huán)形側(cè)壁與所述折邊板的外周壁之間形成第一導(dǎo)流通道,所述折邊板的頂壁對應(yīng)的與所述腔室本體的底壁之間形成第二導(dǎo)流通道,所述第一導(dǎo)流通道和所述第二導(dǎo)流通道相連通形成所述邊緣導(dǎo)流結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述第一進(jìn)氣通道的一端連接至所述通道底壁,另一端連接進(jìn)氣管路。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述定位件包括定位環(huán),所述定位環(huán)上設(shè)有所述環(huán)形凹槽,所述環(huán)形凹槽遠(yuǎn)離中心的一個(gè)槽側(cè)壁邊緣沿所述定位環(huán)徑向向外延伸形成第一延伸板,所述環(huán)形凹槽靠近中心的一個(gè)槽側(cè)壁邊緣沿所述定位環(huán)徑向向內(nèi)延伸形成第二延伸板,其中,
所述冷卻盤的部分頂壁與對應(yīng)的所述旋轉(zhuǎn)盤的底壁之間形成第三導(dǎo)流通道,所述第二延伸板與所述環(huán)狀主體板的頂壁形成第四導(dǎo)流通道,所述環(huán)形凹槽與所述環(huán)形凸起之間形成第五導(dǎo)流通道,所述第一延伸板與所述環(huán)狀主體板的頂壁形成第六導(dǎo)流通道;
所述第三導(dǎo)流通道、所述第四導(dǎo)流通道、所述第五導(dǎo)流通道以及所述第六導(dǎo)流通道依次連通形成所述輔助導(dǎo)流結(jié)構(gòu);
所述第三導(dǎo)流通道與所述第二進(jìn)氣通道相連通。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述腔室本體的底壁邊緣處設(shè)有第一進(jìn)氣縫隙,所述邊緣導(dǎo)流結(jié)構(gòu)與所述第一進(jìn)氣縫隙相連通。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述腔室本體的底壁邊緣處設(shè)有第二進(jìn)氣縫隙,所述輔助導(dǎo)流結(jié)構(gòu)與所述第二進(jìn)氣縫隙相連通。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任意一項(xiàng)所述的反應(yīng)腔室,其特征在于,所述冷卻盤上還設(shè)有容納槽,所述腔室本體通過位于所述容納槽內(nèi)的密封圈與所述冷卻盤密封連接。
10.一種半導(dǎo)體熱處理設(shè)備,其特征在于,包括權(quán)利要求1-9任意一項(xiàng)所述的反應(yīng)腔室。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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