[發明專利]一種基于多通道天線的電磁波室

在審

• 申請號: 201810802240.1
• 申請日: 2018-07-20
• 公開（公告）號: CN108574540A
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 李銀虎;巫新華;鐘盼希;王立強
• 申請（專利權）人: 深圳市中冀聯合技術股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;H04B7/0413
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 歐志明

1.一種基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，包括測試室、高速數據濾波接口、SMA接頭、用于放置被測件的測試板、用于測試被測件的天線性能的至少兩個測試天線以及用于移動所述測試天線位置的調節機構；

所述SMA接頭與所述高速數據濾波接口分別安裝于所述測試室的相對兩側，所述測試板安裝于所述測試室內的下端，所述調節機構安裝于所述測試室內的上端，所述測試天線安裝于所述調節機構上，并且與所述SMA接頭連接，通過所述調節機構調節各個所述測試天線位置，使每個所述測試天線的輻射信號方向分別與所述測試板上的被測件每個位置的待測天線一一對應，使外部的測試儀器將激勵信號通過所述SMA接頭傳輸至所述測試室內，并分別激勵每個所述測試天線，每個所述測試天線分別激勵形成近場測試環境，對被測件各個位置的待測天線分別單獨實現空口耦合測試，并將被測件各個位置的待測天線的測試結果通過所述高速數據濾波接口傳輸至所述測試室外。

2.如權利要求1所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述測試天線為VIVALDI超寬帶天線，所述測試天線與放置于所述測試板上的被測件之間的高度R取決于被測件測試頻段符合近場耦合測試條件，即L≤R≤D，其中，L為測試天線的物理長度尺寸，λ為被測天線射頻點所對應的波長。

3.如權利要求1所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述測試天線為2個或3個。

4.如權利要求1至3中任意一項所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述調節機構為可沿X、Y、Z軸移動的移動模組。

5.如權利要求1所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述測試室內的四周均鋪設有吸波材料。

6.如權利要求5所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述吸波材料為泡沫吸波材料。

7.如權利要求1所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述測試室的側壁上設置有螺紋孔，所述SMA接頭與所述測試室的螺紋孔螺紋鎖緊連接。

8.如權利要求1所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述高速數據濾波接口包括DC、AC、USB2.0、USB3.0、RJ45、VGA、DB9、DB25、DB26、DB50、DB62接口中的至少一種。

9.如權利要求1所述的基于多通道天線的電磁波室，其特征在于，所述測試室為方形結構。