[發(fā)明專利]一種基于多通道天線的電磁波室

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• 申請日: 2018-07-20
• 公開（公告）號: CN108574540A
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發(fā)明（設計）人: 李銀虎;巫新華;鐘盼希;王立強
• 申請（專利權）人: 深圳市中冀聯合技術股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;H04B7/0413
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 歐志明

本發(fā)明適用于無線通信設備檢測技術領域，提供了一種基于多通道天線的電磁波室。該電磁波室包括測試室、高速數據濾波接口、SMA接頭、測試板、至少兩個測試天線以及調節(jié)機構，SMA接頭與高速數據濾波接口分別安裝于測試室的相對兩側，測試板安裝于測試室內的下端，調節(jié)機構安裝于測試室內的上端，測試天線安裝于調節(jié)機構上，并且與SMA接頭連接，通過調節(jié)機構調節(jié)各個測試天線位置，使每個測試天線的輻射信號方向分別與測試板上的被測件每個位置的待測天線一一對應。本發(fā)明通過對被測件各個位置的待測天線分別單獨實現空口耦合測試，從而使各個測試天線的測試相互獨立互不干擾，保證測試結果的準確性，測試簡單，使用方便。

技術領域

本發(fā)明屬于無線通信設備檢測技術領域，尤其涉及一種基于多通道天線的電磁波室。

背景技術

近年來，隨著我國無線通信的迅速發(fā)展，對無線通信設備技術要求越來越高，而第五代移動通訊技術的發(fā)展要求數據傳輸速率更高，容量更大。同時，多種多樣的無線通訊設備此起彼伏，大規(guī)模大批量的無線通訊產品爭相占有市場，競爭激烈。如何確定其性能指標，快速高效的生產出高性能的產品和選擇性價比最高的產品成為設備生廠商與網絡運營商以及通信測試機構所共同關注的問題。

通常無線通訊產品的測試包括這幾種方法，起初是在微波暗室中進行的OTA(OverThe Air)測試。它提供人為空曠的“自由空間”條件。在暗室內做天線、雷達等無線通訊產品和電子產品測試可以免受雜波干擾，提高被測設備的測試精度和效率，正在成為手機、路由器、藍牙等無線終端產品廠家認可的有源測試。接著是橫電磁波傳輸室(TEM CELL)測試，它模擬理想空間的天線測試環(huán)境，金屬箱能夠提供足夠的屏蔽功能來消除外部干擾對天線的影響，而內部吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。TEM CELL結構封閉、不向外輻射能量，因而不干擾其他儀器，不危害測試人員健康且成本低廉。還有一種是耦合板測試，此方法是為適應大批量產品產測而設計出來的，為近場測試。近場測試是天線本身客觀存在的，一旦整個無線通信產品結構和天線確定，近場即可確定。因此可以根據測試結果是否在一定范圍內，判斷天線性能。一般是用耦合測試夾具與綜合測試儀相連，手機固定在夾具上。在生產前期根據幾只樣機的測試結果，給出一個合理的耦合補償值，確定一個功率標準，然后對無線終端產品的最大功率進行測試，高于這個功率標準則產品符合生產要求，低于這個要求則天線與相關器件不符合標準。

目前，OTA測試所用到的微波暗室體積龐大、費用昂貴，適合研發(fā)實驗室做精準調試使用而非產線上大規(guī)模生產。橫電磁波傳輸室(TEM CELL)不能測天線無源指標，只能進行有源測試。由于空間限制，TEM CELL吸波材料比較薄，對入射波的吸收都不是很充分，因此會導致測試的結果不精確。另外，TEM CELL高度也不夠。根據天線輻射的遠場測試分析，對于EGSM/DCS頻段的手機天線，被測無線終端設備與天線的距離至少大于1米，而TEM CELL比這個距離小一些，所以它相對于微波暗室來講測量不準。所以，TEM CELL只能對天線做定性分析而非定量分析，產線上用作測試不便與自動化產線協同作業(yè)，為自動化生產在提高效率、節(jié)約成本上帶來局限；耦合板式測試方法位置不固定，DUT每次測量需要調整位置，加上耦合能量不均勻，使得測試一致性較差，只能是產品一致性測試，并不是對產品性能進行測試并且只針對天線的最大功率進行測試，不進行其他項目的測試。

發(fā)明內容

本發(fā)明實施例所要解決的技術問題在于提供一種基于多通道天線的電磁波室，旨在解決現有的TEM CELL測試結構在產線批量生產的局限性，內部模擬電磁波在非均勻情況下，被測件上分布不同位置多個待測天線時，對被測件位置要求高，不同位置電磁波能量差異大，不同位置測試時相互干擾，導致被測件測試結果不準確的問題。

本發(fā)明實施例是這樣實現的，提供一種基于多通道天線的電磁波室，該電磁波室包括測試室、高速數據濾波接口、SMA接頭、用于放置被測件的測試板、用于測試被測件的天線性能的至少兩個測試天線以及用于移動所述測試天線位置的調節(jié)機構；