[發明專利]用于補償圖像壞點的方法、裝置、系統及存儲介質

有效

• 申請號: 201810801494.1
• 申請日: 2018-07-20
• 公開（公告）號: CN110807731B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發明（設計）人: 陳瑋逸夫;蔡贊贊;毛之華;魏文燕
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號: G06T3/40
• 分類號: G06T3/40;G06T5/00;G06T7/40;H04N23/95
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;王艷春

1.一種用于補償圖像壞點的方法，所述圖像通過成像模組獲得，其特征在于，所述方法包括：

獲得所述成像模組中的模組壞點組群的位置信息，其中，所述模組壞點組群包括在所述成像模組中能夠通過至少一條路徑相連的多個模組壞點；

根據所述位置信息在所述圖像中定位圖像壞點組群的位置；

根據所述圖像壞點組群周圍預定范圍內的正常像素區域的紋理特征來對所述圖像壞點組群進行紋理填充；以及

根據每個圖像壞點的鄰近區域中正常像素的像素值來對所述圖像壞點組群中的圖像壞點進行插值補償。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

根據每個所述圖像壞點相對于所述圖像壞點組群的位置，調整每個圖像壞點處的紋理填充和插值補償的權重。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，

對于所述圖像壞點組群中的任意一個圖像壞點，該圖像壞點越靠近所述圖像壞點組群的中心，該圖像壞點處的紋理填充的權重越大。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述圖像壞點組群周圍預定范圍內的正常像素區域的紋理特征來對所述圖像壞點組群進行紋理填充包括：

根據包圍所述圖像壞點組群的第一正常像素區域的紋理特征，在所述圖像壞點組群周圍預定范圍內的多個第二正常像素區域中搜索紋理特征與所述第一正常像素區域的紋理特征最相近的第二正常像素區域，并利用搜索到的第二正常像素區域中像素的像素值填充所述圖像壞點組群中的相應圖像壞點。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述圖像壞點組群周圍的多個第二正常像素區域中搜索紋理特征與所述第一正常像素區域的紋理特征最相近的第二正常像素區域包括：

以所述第一正常像素區域的外邊界為搜索窗口，在所述圖像壞點組群周圍預定范圍內從所述圖像壞點組群以預定步進距離向多個方向移動所述搜索窗口，其中，所述搜索窗口中的區域為所述第二正常像素區域；

在每次移動后，將所述第一正常像素區域中的每個像素的像素值與所述搜索窗口中的對應像素的像素值進行比較，以獲得兩者之間的像素值差異；以及

選擇與所述第一正常像素區域的像素值差異最小的搜索窗口中的區域作為紋理特征與所述第一正常像素區域的紋理特征最相近的第二正常像素區域。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據每個圖像壞點的鄰近區域中正常像素的像素值來對所述圖像壞點組群中的圖像壞點進行插值補償包括：

在所述圖像壞點組群中，根據每個圖像壞點的鄰近區域中正常像素的像素值變化趨勢來調整每個圖像壞點處的像素值。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述根據每個圖像壞點的鄰近區域中正常像素的像素值變化趨勢來調整每個圖像壞點處的像素值包括：

對所述圖像壞點組群最外邊緣處的圖像壞點以預定順序進行遍歷補償；以及

對最外邊緣以內的圖像壞點，從外到內逐層進行調整，其中，在每層中，以所述預定順序對所述圖像壞點進行遍歷調整。

8.根據權利要求1和6-7中的任一個所述的方法，其特征在于，所述每個圖像壞點的鄰近區域包括位于每個圖像壞點的上側、下側、左側、右側、左上側、右上側、左下側以及右下側的區域。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述插值補償還包括：

在所述圖像壞點的所述鄰近區域中存在紋理特征時，根據該紋理特征對所述圖像壞點進行補償。

10.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

在定位所述圖像壞點組群之后，對所述圖像壞點組群進行擴展，使得所述圖像壞點組群包括其周圍預定范圍內的正常像素。

11.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲得所述成像模組中的模組壞點組群的位置信息包括：

從所述成像模組的存儲裝置中讀取所述成像模組中的模組壞點組群的位置信息。