[發(fā)明專利]一種銀鉭復(fù)合材料構(gòu)建的有序多孔陣列及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810797632.3 | 申請日: | 2018-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN109161849B | 公開(公告)日: | 2019-10-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋忠孝;陳東圳;井津域;黃劍;楊波;錢旦 | 申請(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號: | C23C14/16 | 分類號: | C23C14/16;C23C14/35;C23C14/54 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 姚詠華 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多孔陣列 復(fù)合材料 鉭元素 沉積 構(gòu)建 制備 薄膜表面 封堵 薄膜表面形貌 磁控濺射沉積 太陽能電池 有機(jī)化合物 單晶硅片 反應(yīng)壓力 復(fù)合薄膜 光電器件 濺射沉積 金屬催化 精確調(diào)控 納米探針 吸附材料 制備過程 鉭沉積 傳感 鉻膜 孔狀 腔室 光滑 清洗 生長 污染 應(yīng)用 | ||
本發(fā)明提供一種銀鉭復(fù)合材料構(gòu)建的有序多孔陣列及其制備方法,采用磁控濺射沉積銀、鉭復(fù)合薄膜,將清洗干凈的單晶硅片真空下并沉積鉻膜;然后控制電流強(qiáng)度,分別精確調(diào)控銀、鉭元素沉積速率,維持腔室反應(yīng)壓力,持續(xù)濺射沉積,鉭元素封堵銀在沉積過程中形成的間隙,在適當(dāng)?shù)你y、鉭元素沉積速率下形成銀鉭復(fù)合材料構(gòu)建的有序多孔陣列。隨著鉭沉積速率的增加,薄膜表面孔狀陣列會(huì)被鉭元素大量封堵,進(jìn)一步形成更為光滑的薄膜表面形貌。本發(fā)明所制備的銀鉭復(fù)合材料有序多孔陣列制備過程簡單,比表面積大,便于大面積生長,成本低,薄膜表面無有機(jī)化合物污染,能廣泛應(yīng)用于SERS傳感、金屬催化、納米探針、光電器件、太陽能電池,吸附材料等領(lǐng)域。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及先進(jìn)納米復(fù)合材料技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種銀鉭復(fù)合材料構(gòu)建的有序多孔陣列及其制備方法。
背景技術(shù)
介孔材料由于具有均一的孔徑,高比表面積的性質(zhì),在吸附、分離、催化、傳感、能量轉(zhuǎn)化等方面具有廣泛的應(yīng)用前景。介孔材料一般采用溶液相水熱和溶劑揮發(fā)誘導(dǎo)自組裝的方法來合成。傳統(tǒng)的介孔材料一般使用模板劑(如十六烷基三甲基溴化銨,P123等)進(jìn)行合成。采用這些常規(guī)的模板劑得到的介孔材料孔徑一般不超過12nm。這些方法大多制備過程復(fù)雜,不便于大量制備,成本較高,另外,這些方法制備的介孔材料表面覆蓋有大量有機(jī)化合物,嚴(yán)重限制吸附、分離、催化、傳感等方面的應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種銀鉭復(fù)合材料構(gòu)建的有序多孔陣列及其制備方法。通過精確調(diào)控磁控濺射中銀、鉭沉積速率實(shí)現(xiàn)銀鉭有序多孔陣列的制備。本發(fā)明所制備的有序多孔陣列具有獨(dú)特的仿生結(jié)構(gòu),大的比表面積,且能負(fù)載大量活性藥物及分子染料,因而在SERS傳感、催化、診斷治療以及吸附材料等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。且制備過程簡單、形貌的可控性高,且便于大規(guī)模批量制備。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案:
一種銀鉭復(fù)合材料構(gòu)建的有序多孔陣列的制備方法,包括以下步驟:
1)選用單晶硅片作為襯底,并進(jìn)行鍍膜前預(yù)處理;
2)在預(yù)處理后的單晶硅襯底上,采用Ar氣或氮?dú)庾鳛闉R射氣氛,在對襯底施加電壓的條件下,采用射頻對鉻靶進(jìn)行磁控濺射,在硅襯底上磁控濺射沉積一層厚度為100~2000nm的鉻膜;
3)Ar氣或氮?dú)庾鳛闉R射氣氛,對沉積有鉻膜的單晶硅襯底表面,在施加電壓的條件下,采用射頻或直流電源分別對銀靶和鉭靶進(jìn)行磁控共濺射,通過控制電流強(qiáng)度分別調(diào)控銀、鉭元素沉積速率,在沉積有鉻膜的硅襯底上形成銀鉭復(fù)合材料有序多孔陣列;
4)鍍膜完成后,原位進(jìn)行X射線光電子能譜檢測;
5)進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)和性能檢測。
優(yōu)選的,所述單晶硅片襯底選自Si(100)、Si(111)、SiO2硅片(Si/SiO2,氧化層的厚度為300nm)或石英玻璃。
優(yōu)選的,所述步驟1)中,單晶硅片襯底預(yù)處理為依次經(jīng)過去離子水、丙酮、無水乙醇各超聲清洗10-20min。
優(yōu)選的,所述步驟2)中,鉻靶純度為99.99%;本底真空度小于等于4×10-4Pa。
優(yōu)選的,所述步驟2)中,對單晶硅襯底施加60V的電壓,射頻頻率控制在250kHz。
優(yōu)選的,所述步驟3)中,銀靶和鉭靶純度均為99.99%;本底真空度小于等于4×10-4Pa。
優(yōu)選的,所述步驟3)中,控制銀靶和鉭靶施加電壓為60V,沉積時(shí)間15~60min;
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C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
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