[發明專利]一種數據讀取方法、裝置、設備及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201810784150.4
• 申請日: 2018-07-17
• 公開（公告）號: CN109032514B
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發明（設計）人: 韓國軍;李艷福;彭子帥;方毅;蔡國發
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種數據讀取方法，其特征在于，包括：

接收數據讀取請求，并利用預設有硬判決參考電壓的上限估算法獲取電壓信號；其中，所述電壓信號包括與所述數據讀取請求對應的各個閃存單元的閾值電壓；

計算各個閃存單元閾值電壓的偏移量，并利用各個閃存單元對應的偏移量對所述電壓信號進行補償，獲得補償電壓信號；

獲取各個閃存單元對應的偏移值，并利用各個閃存單元對應的偏移值對所述補償電壓信號進行修復，獲得修復電壓信號；

按照編碼規則，對所述修復電壓信號進行譯碼，獲得目標數據；

所述獲取各個閃存單元對應的偏移值，包括：

計算各個干擾單元的先驗信息；

利用各個干擾單元的先驗信息計算理論干擾量；

計算各個閃存單元閾值電壓的實際干擾量；

利用高斯擬合法，確定所述理論干擾量與所述實際干擾量的差值分布的概率密度函數；

利用所述概率密度函數，確定各個閃存單元對應的偏移值。

2.根據權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，所述利用所述概率密度函數，確定各個閃存單元對應的偏移值，包括：

將所述概率密度函數劃分為若干個區間；

確定各個區間的差值權重比例，并利用各個區間的差值權重比例分別計算各個閃存單元對應的偏移值。

3.根據權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，利用預設有硬判決參考電壓的上限估算法獲取電壓信號，包括：

將各個閃存單元的閾值電壓近似為相鄰硬判決參考電壓的上界值，得到包括各個干擾單元的閾值電壓的電壓信號。

4.根據權利要求3所述的數據讀取方法，其特征在于，當閃存單元為N比特/單元的NAND閃存單元時，硬判決參考電壓具有2^N等級硬判決參考電壓；其中N為正整數。

5.根據權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，利用各個閃存單元對應的偏移量對所述電壓信號進行補償，獲得補償電壓信號，包括：

將所述電壓信號中的各個閃存單元的閾值電壓分別減去對應的偏移量，獲得補償電壓信號。

6.根據權利要求1至5任一項所述的數據讀取方法，其特征在于，所述按照編碼規則，對所述修復電壓信號進行譯碼，獲得目標數據，包括：

按照編碼規則，對所述修復電壓信號進行糾錯譯碼，獲得目標數據。

7.一種數據讀取裝置，其特征在于，包括：

電壓信號獲取模塊，用于接收數據讀取請求，并利用預設有硬判決參考電壓的上限估算法獲取電壓信號；其中，所述電壓信號包括與所述數據讀取請求對應的各個閃存單元的閾值電壓；

電壓補償模塊，用于計算各個閃存單元閾值電壓的偏移量，并利用各個閃存單元對應的偏移量對所述電壓信號進行補償，獲得補償電壓信號；

電壓修復模塊，用于獲取各個閃存單元對應的偏移值，并利用各個閃存單元對應的偏移值對所述補償電壓信號進行修復，獲得修復電壓信號,其中，所述獲取各個閃存單元對應的偏移值，包括：

計算各個干擾單元的先驗信息；

利用各個干擾單元的先驗信息計算理論干擾量；

計算各個閃存單元閾值電壓的實際干擾量；

利用高斯擬合法，確定所述理論干擾量與所述實際干擾量的差值分布的概率密度函數；

利用所述概率密度函數，確定各個閃存單元對應的偏移值；

譯碼模塊，用于按照編碼規則，對所述修復電壓信號進行譯碼，獲得目標數據。

8.一種數據讀取設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至6任一項所述數據讀取方法的步驟。

9.一種可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述數據讀取方法的步驟。