[發明專利]一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置及檢測方法在審
| 申請號: | 201810776053.0 | 申請日: | 2018-07-16 |
| 公開(公告)號: | CN108562653A | 公開(公告)日: | 2018-09-21 |
| 發明(設計)人: | 趙永生;秦浩 | 申請(專利權)人: | 趙永生 |
| 主分類號: | G01N29/24 | 分類號: | G01N29/24;G01N29/04;G01N21/17 |
| 代理公司: | 上海精晟知識產權代理有限公司 31253 | 代理人: | 馮子玲 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 支柱瓷絕緣子 透鏡系統 脈沖激光器 超聲接收 透鏡 光電探測器 信號處理器 激光 超聲信號 檢測裝置 計算機 檢測 激光干涉儀 數據采集卡 電性連接 激光照射 檢測領域 破損檢測 分光鏡 衰減片 自適應 送入 照射 激發 勞動 | ||
本發明公開了一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置及檢測方法,涉及支柱瓷絕緣子檢測領域。本發明包括脈沖激光器、透鏡系統、超聲接收系統和計算機;透鏡系統包括分光鏡、衰減片、第一透鏡和第二透鏡;脈沖激光器產生的激光照射在透鏡系統上;超聲接收系統包括第一光電探測器、自適應激光干涉儀、第二光電探測器、數據采集卡和信號處理器;信號處理器與計算機電性連接。本發明通過將脈沖激光器產生的激光經透鏡系統后照射在支柱瓷絕緣子的表面上并激發出超聲信號,且此超聲信號經超聲接收系統后送入計算機中進行支柱瓷絕緣子破損檢測,有效的提高了支柱瓷絕緣子的檢測效率,并減輕了工作人員的勞動壓力。
技術領域
本發明屬于支柱瓷絕緣子檢測領域,特別是涉及一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置及檢測方法。
背景技術
高壓電氣設備作為電力系統的重要組成部分,其運行狀況直接關系著電網的安全穩定,而電網中斷路器又是高壓電氣設備的重要組成部分,一旦發生故障必然會對電網的可靠運行造成威脅;根據統計數據表明,60%-70%的斷路器故障都是由起支撐作用的支柱瓷絕緣子發生破損而引起的。近幾年輸變電設備的運行實踐表明,防止支柱絕緣子破損行之有效的方法是對支柱絕緣子進行檢查或檢測;這種方法能夠提前發現其外部和內部的缺陷,從而盡早排除事故隱患。
目前,常用的最有效的檢測方法是在絕緣子法蘭口附近進行超聲爬波檢測,此方法對發現鑄鐵法蘭內部裂紋的檢測非常有效;但超聲波檢測必須在停電狀態下進行,同時該檢測法比較費時、費力,難以實現對變電站絕緣子的普查工作,在一定程度上增加了工作人員的勞動壓力。
因此有待研究一種利用激光誘振來對支柱瓷絕緣子進行非接觸帶電檢測的方法來提高人們的檢測效率。
發明內容
本發明的目的在于提供一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置及檢測方法,通過將脈沖激光器產生的激光經透鏡系統后照射在支柱瓷絕緣子的表面上并激發出超聲信號,且此超聲信號經超聲接收系統后送入計算機中進行支柱瓷絕緣子破損檢測,解決了現有超聲波檢測方法不能夠在支柱瓷絕緣子帶電情況下進行檢測以及檢測效率低的問題。
為解決上述技術問題,本發明是通過以下技術方案實現的:
本發明為一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置,包括脈沖激光器、透鏡系統、超聲接收系統和計算機;所述透鏡系統包括分光鏡、衰減片、第一透鏡和第二透鏡;
其中,所述分光鏡、衰減片和第一透鏡構成第一光路;所述分光鏡和第二透鏡構成第二光路;
所述脈沖激光器產生的激光照射在透鏡系統的分光鏡上;
所述超聲接收系統包括第一光電探測器、自適應激光干涉儀、第二光電探測器、數據采集卡和信號處理器;所述第一光電探測器、數據采集卡和信號處理器之間依次電性連接并構成一觸發通路;所述自適應激光干涉儀、第二光電探測器、數據采集卡和信號處理器之間依次電性連接并構成一檢測通路;
所述信號處理器與計算機電性連接;
所述觸發通路接收通過第一光路上傳導的激光;所述檢測通路接收第二光路的激光照射在支柱瓷絕緣子所產上的超聲信號。
一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測方法,包括以下步驟:
S001:脈沖激光器產生的激光通過分光鏡分成第一激光束和第二激光束;
S002:所述第一激光束依次經第一光路上的衰減片衰減和第一透鏡聚焦后,被第一光電探測器接收;
S003:所述第一光電探測器將接收到的第一激光束轉化為電信號送入數據采集卡中,作為超聲信號的采集觸發;所述數據采集卡將采集到的電信號輸送至信號處理器處理后,送入計算機中;
S004:所述第二激光束經第二光路上的第二透鏡聚焦后,照射在支柱瓷絕緣子的表面上并激發出超聲信號;
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