[發(fā)明專利]一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810776053.0
• 申請日: 2018-07-16
• 公開（公告）號: CN108562653A
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發(fā)明（設計）人: 趙永生;秦浩
• 申請（專利權）人: 趙永生
• 主分類號: G01N29/24
• 分類號: G01N29/24;G01N29/04;G01N21/17
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 馮子玲

1.一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測裝置，其特征在于：包括脈沖激光器(1)、透鏡系統(tǒng)(2)、超聲接收系統(tǒng)(3)和計算機(4)；

所述透鏡系統(tǒng)(2)包括分光鏡(201)、衰減片(202)、第一透鏡(203)和第二透鏡(204)；

其中，所述分光鏡(201)、衰減片(202)和第一透鏡(203)構成第一光路；所述分光鏡(201)和第二透鏡(204)構成第二光路；

所述脈沖激光器(1)產生的激光照射在透鏡系統(tǒng)(2)的分光鏡(201)上；

所述超聲接收系統(tǒng)(3)包括第一光電探測器(301)、自適應激光干涉儀(302)、第二光電探測器(303)、數據采集卡(304)和信號處理器(305)；所述第一光電探測器(301)、數據采集卡(304)和信號處理器(305)之間依次電性連接并構成一觸發(fā)通路；所述自適應激光干涉儀(302)、第二光電探測器(303)、數據采集卡(304)和信號處理器(305)之間依次電性連接并構成一檢測通路；

所述信號處理器(305)與計算機(4)電性連接；

所述觸發(fā)通路接收通過第一光路上傳導的激光；所述檢測通路接收第二光路的激光照射在支柱瓷絕緣子所產上的超聲信號。

2.如權利要求1所述的一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S001：脈沖激光器(1)產生的激光通過分光鏡(201)分成第一激光束和第二激光束；

S002：所述第一激光束依次經第一光路上的衰減片(202)衰減和第一透鏡(203)聚焦后，被第一光電探測器(301)接收；

S003：所述第一光電探測器(301)將接收到的第一激光束轉化為電信號送入數據采集卡(304)中，作為超聲信號的采集觸發(fā)；所述數據采集卡(304)將采集到的電信號輸送至信號處理器(305)處理后，送入計算機(4)中；

S004：所述第二激光束經第二光路上的第二透鏡(204)聚焦后，照射在支柱瓷絕緣子的表面上并激發(fā)出超聲信號；

S005：所述超聲信號經自適應激光干涉儀(302)接收，且所述自適應激光干涉儀(302)將接收到的超聲信號解調后以電壓的形式傳輸到第二光電探測器(303)；

S006：所述第二光電探測器(303)將電信號送入到數據采集卡(304)中；所述數據采集卡(304)將采集到的電信號輸送至信號處理器(305)處理后，送入計算機(4)中；所述計算機(4)通過分析軟件接收支柱瓷絕緣子的聲學響應，并判斷支柱瓷絕緣子是否存在缺陷。

3.根據權利要求2所述的一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測方法，其特征在于，所述脈沖激光器(1)所產生的激光波長為532nm，脈寬為10ns；且激光的重復頻率為10Hz；

其中所述脈沖激光器(1)所產生的單脈沖激光能量不超過180mJ。

4.根據權利要求2所述的一種基于激光誘振的支柱瓷絕緣子檢測方法，其特征在于，所述第一激光束的能量為脈沖激光器(1)所產生激光能量的5％。