[發明專利]接口擴展模組、老化測試系統、老化測試方法及存儲介質

在審

• 申請號: 201810765627.4
• 申請日: 2018-07-12
• 公開（公告）號: CN108919006A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 汝峰;徐曉東;裴聰健;馮宇飛
• 申請（專利權）人: 長江存儲科技有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 李梅香;張穎玲

本發明實施例公開了一種老化測試的接口擴展模組、老化測試系統、老化測試方法及存儲介質。老化測試的接口擴展模組，包括：擴展組件，用于將老化測試設備提供的一組測試信號轉換為N組控制信號，并將被測設備提供的N組第一狀態信號轉換為一組第二狀態信號，其中，一組所述控制信號用于一個所述被測設備的老化測試控制；所述第一狀態信號為所述被測設備基于老化測試的狀態產生的；N為不小于2的正整數；第一端口，與所述擴展組件連接，用于與所述老化測試設備的測試接口連接，并接收所述測試信號及向所述老化測試設備提交所述第二狀態信號；第二端口，與所述擴展組件連接，用于與所述被測設備連接，輸出所述控制信號及接收所述第一狀態信號。

技術領域

本發明涉及電子技術領域但不限于電子技術領域，尤其涉及一種老化測試的接口擴展模組、老化測試系統、老化測試方法及存儲介質。

背景技術

老化測試是一種利用高電壓和高溫來加速電氣故障和篩選邊緣設備的電應力測試。老化測試可由一般自動化測試設備(Automation Test Equipment，ATE)或特殊設計的老化測試設備(具有電壓和溫度應力能力)完成。

在相關技術中，利用老化測試設備對被測設備進行測試時(例如，對計算機閃存設備(NAND))，要不存在著測試效率低的問題，例如，單臺被測設備的平均測試時間長、測試成本高等；要不存在著測試精確率低的問題，例如，在測試過程中容易出現誤殺現象。

故提出一種同時能夠兼顧測試效率和測試精確度的老化測試設備，是現有技術亟待解決的問題。

發明內容

本發明實施例期望提供一種老化測試的接口擴展模組、老化測試系統、老化測試方法及存儲介質。

第一方面，本發明實施例提供一種老化測試的接口擴展模組，包括：

擴展組件，用于將老化測試設備提供的一組測試信號轉換為N組控制信號，并將被測設備提供的N組第一狀態信號轉換為一組第二狀態信號，其中，一組所述控制信號用于一個所述被測設備的老化測試控制；所述第一狀態信號為所述被測設備基于老化測試的狀態產生的；N為不小于2的正整數；

第一端口，與所述擴展組件連接，用于與所述老化測試設備的測試接口連接，并接收所述測試信號及向所述老化測試設備提交所述第二狀態信號；

第二端口，與所述擴展組件連接，用于與所述被測設備連接，輸出所述控制信號及接收所述第一狀態信號。

在一些技術方案中，所述第二端口至少包括N組測試接口；

一組所述測試接口與一個所述被測設備連接；

所述測試接口包括：

至少一個控制引腳，用于輸出所述控制信號；

至少一個狀態引腳，用于接收所述第一狀態信號。

在一些技術方案中，所述擴展組件，包括：

控制電路，分別與所述第一端口及所述第二端口連接，用于將一組所述測試信號轉換為控制N個所述被測設備老化測試的N組控制信號；

采集電路，分別與所述第一端口及所述第二端口連接，用于通過所述第二端口獲取N個所述被測設備的N組所述第一狀態信號，轉換所述第一狀態信號，并通過所述第二端口向所述老化測試設備提交轉換形成的所述第二狀態信號。

在一些技術方案中，所述擴展組件，還包括：

控制寄存器，與所述控制電路連接，用于寄存所述控制信號；

和/或，

狀態寄存器，與所述采集電路連接，用于寄存所述第一狀態信號。

在一些技術方案中，所述第一端口包括：串行接口，用于接收所述老化測試設備提供的串行的測試信號；