[發明專利]接口擴展模組、老化測試系統、老化測試方法及存儲介質

在審

• 申請號: 201810765627.4
• 申請日: 2018-07-12
• 公開（公告）號: CN108919006A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 汝峰;徐曉東;裴聰健;馮宇飛
• 申請（專利權）人: 長江存儲科技有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 李梅香;張穎玲

1.一種老化測試的接口擴展模組，其特征在于，包括：

擴展組件，用于將老化測試設備提供的一組測試信號轉換為N組控制信號，并將被測設備提供的N組第一狀態信號轉換為一組第二狀態信號，其中，一組所述控制信號用于一個所述被測設備的老化測試控制；所述第一狀態信號為所述被測設備基于老化測試的狀態產生的；N為不小于2的正整數；

第一端口，與所述擴展組件連接，用于與所述老化測試設備的測試接口連接，并接收所述測試信號及向所述老化測試設備提交所述第二狀態信號；

第二端口，與所述擴展組件連接，用于與所述被測設備連接，輸出所述控制信號及接收所述第一狀態信號。

2.根據權利要求1所述的接口擴展模組，其特征在于，所述第二端口至少包括N組測試接口；

一組所述測試接口與一個所述被測設備連接；

所述測試接口包括：

至少一個控制引腳，用于輸出所述控制信號；

至少一個狀態引腳，用于接收所述第一狀態信號。

3.根據權利要求1或2所述的接口擴展模組，其特征在于，所述擴展組件，還包括：

控制電路，分別與所述第一端口及所述第二端口連接，用于將一組所述測試信號轉換為控制N個所述被測設備老化測試的N組控制信號；

采集電路，分別與所述第一端口及所述第二端口連接，用于通過所述第二端口獲取N個所述被測設備的N組所述第一狀態信號，轉換所述第一狀態信號，并通過所述第二端口向所述老化測試設備提交轉換形成的所述第二狀態信號。

4.根據權利要求3所述的接口擴展模組，其特征在于，

所述擴展組件，還包括：

控制寄存器，與所述控制電路連接，用于寄存所述控制信號；

和/或，

狀態寄存器，與所述采集電路連接，用于寄存所述第一狀態信號。

5.根據權利要求3所述的接口擴展模組，其特征在于，

所述第一端口包括：串行接口，用于接收所述老化測試設備提供的串行的測試信號；

所述控制電路，還包括：

串并轉換子電路，與所述第一端口連接，用于將所述串行的測試信號轉換為并行的測試信號；

譯碼子電路，與所述串并轉換子電路連接，用于根據所述并行的測試信號的第一部分確定出所述串行的測試信號作用的被測設備，根據所述并行的測試信號的第二部分確定控制所述老化測試的控制狀態，并根據所述串行的測試信號作用的被測設備及所述控制狀態，輸出所述控制信號。

6.根據權利要求3所述的接口擴展模組，其特征在于，

所述采集電路，包括：

接收子電路，與所述第二端口連接，用于接收被測設備并行提交的所述第一狀態信號；

并串轉換子電路，分別與所述第一端口及所述接收子電路連接，用于將并行的所述第一狀態信號轉換為串行的所述第二狀態信號，并將所述第二狀態信號通過所述第一端口傳輸給所述老化測試設備。

7.根據權利要求5所述的接口擴展模組，其特征在于，

所述第一端口為：

串行外設接口SPI；

或者，

集成電路總線I²C。

8.根據權利要求1或2所述的接口擴展模組，其特征在于，

所述第一端口包括：并行接口；

所述并行接口包括：

至少一個地址引腳，用于傳輸所述測試信號中的尋址信號，其中，所述尋址信號用于指示所述測試信號作用的被測設備；

至少一個數據引腳，用于傳輸所述測試信號中的數據信號，其中，所述數據信號用于供所述接口擴展模組產生控制所述老化測試的控制信號。

9.根據權利要求1或2所述的接口擴展模組，其特征在于，

所述擴展組件包括：

可編程邏輯電路；

數字集成電路。