[發(fā)明專利]查找表生成方法、裝置及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810765167.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110780181B | 公開(公告)日: | 2022-02-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹松齡;林曉;陳軍;楊亞西 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京小米松果電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;H04B17/00 |
| 代理公司: | 北京英創(chuàng)嘉友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅寧 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 查找 生成 方法 裝置 系統(tǒng) | ||
本公開涉及一種查找表生成方法、裝置及系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)查找表LUT的自動(dòng)生成,提高LUT的生成效率。本公開查找表生成方法包括:獲取待測(cè)芯片的數(shù)據(jù)輸入接口的位寬;根據(jù)所述數(shù)據(jù)輸入接口的位寬,控制輸入輸出設(shè)備生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試電平信號(hào)并發(fā)送給所述待測(cè)芯片;根據(jù)所述待測(cè)芯片的測(cè)試輸出信號(hào),生成查找表LUT。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種查找表生成方法、裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
功率放大器是手機(jī)射頻前端設(shè)計(jì)中的核心部分,通過功率放大器能把較小的發(fā)射功率推送到天線空口上,以獲得較大的發(fā)射功率,非線性是功率放大器的特性之一,而在實(shí)際使用過程中,為了保證發(fā)射功率的準(zhǔn)確性,通常需要使功率放大器工作在線性區(qū)。
相關(guān)技術(shù)中,為了使功率放大器工作在線性區(qū),主要通過LUT(Look-Up-Table,顯示查找表)對(duì)功率放大器輸出的發(fā)射功率進(jìn)行補(bǔ)償。然而,制作LUT需要遍歷待測(cè)芯片的每一種基帶輸入幅度,獲得對(duì)應(yīng)的輸出情況,因此,手動(dòng)制作LUT的話,會(huì)耗費(fèi)測(cè)試人員大量的時(shí)間和精力,制作效率不高。
發(fā)明內(nèi)容
本公開的目的是提供一種查找表生成方法、裝置及系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)LUT的自動(dòng)生成,提高LUT的生成效率。
第一方面,本公開提供一種查找表生成方法,包括:
獲取待測(cè)芯片的數(shù)據(jù)輸入接口的位寬;
根據(jù)所述數(shù)據(jù)輸入接口的位寬,控制輸入輸出設(shè)備生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試電平信號(hào)并發(fā)送給所述待測(cè)芯片;
根據(jù)所述待測(cè)芯片的測(cè)試輸出信號(hào),生成查找表LUT。
可選地,所述根據(jù)所述數(shù)據(jù)輸入接口的位寬,控制輸入輸出設(shè)備生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試電平信號(hào)并發(fā)送給所述待測(cè)芯片,包括:
根據(jù)所述數(shù)據(jù)輸入接口的位寬,控制所述輸入輸出設(shè)備生成二進(jìn)制全0到二進(jìn)制全1對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試電平信號(hào)并發(fā)送給所述待測(cè)芯片;
根據(jù)所述待測(cè)芯片生成的測(cè)試輸出信號(hào),生成查找表LUT,包括:
根據(jù)所述待測(cè)芯片生成的多個(gè)測(cè)試輸出信號(hào),生成所述LUT。
可選地,所述根據(jù)所述待測(cè)芯片生成的多個(gè)測(cè)試輸出信號(hào),生成所述LUT,包括:
根據(jù)所述待測(cè)芯片生成的多個(gè)測(cè)試輸出信號(hào),確定對(duì)應(yīng)的多個(gè)功率輸出值;
根據(jù)所述多個(gè)功率輸出值,生成所述LUT。
可選地,所述根據(jù)所述多個(gè)功率輸出值,生成所述LUT,包括:
判斷所述多個(gè)功率輸出值中是否存在超過預(yù)設(shè)門限范圍的功率值;
當(dāng)所述多個(gè)功率輸出值中不存在超過所述預(yù)設(shè)門限范圍的功率值時(shí),根據(jù)所述多個(gè)功率輸出值,生成所述LUT;
當(dāng)所述多個(gè)功率輸出值中存在超過所述預(yù)設(shè)門限范圍的功率值時(shí),輸出錯(cuò)誤提示信息,并停止生成所述LUT。
可選地,所述根據(jù)所述多個(gè)功率輸出值,生成所述LUT,包括:
判斷所述多個(gè)功率輸出值中是否存在超過預(yù)設(shè)門限范圍的功率值;
當(dāng)所述多個(gè)功率輸出值中存在超過預(yù)設(shè)門限范圍的功率值時(shí),確定超過所述預(yù)設(shè)門限范圍的功率值的個(gè)數(shù)與所述多個(gè)功率輸出值總數(shù)的比例;
當(dāng)所述比例在預(yù)設(shè)比例范圍內(nèi)時(shí),根據(jù)所述多個(gè)功率輸出值,生成所述LUT。
可選地,所述獲取待測(cè)芯片的數(shù)據(jù)輸入接口的位寬,包括:
確定所述待測(cè)芯片的類型;
根據(jù)所述待測(cè)芯片的類型,確定所述待測(cè)芯片的數(shù)據(jù)輸入接口;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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