[發明專利]查找表生成方法、裝置及系統有效
| 申請號: | 201810765167.5 | 申請日: | 2018-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN110780181B | 公開(公告)日: | 2022-02-08 |
| 發明(設計)人: | 詹松齡;林曉;陳軍;楊亞西 | 申請(專利權)人: | 北京小米松果電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;H04B17/00 |
| 代理公司: | 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅寧 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 查找 生成 方法 裝置 系統 | ||
1.一種查找表生成方法,其特征在于,包括:
獲取待測芯片的數據輸入接口的位寬;
根據所述數據輸入接口的位寬,控制輸入輸出設備生成對應的測試電平信號并發送給所述待測芯片;
根據所述待測芯片的測試輸出信號,生成查找表LUT;
所述根據所述數據輸入接口的位寬,控制輸入輸出設備生成對應的測試電平信號并發送給所述待測芯片,包括:
根據所述數據輸入接口的位寬,控制所述輸入輸出設備生成二進制全0到二進制全1對應的多個測試電平信號并發送給所述待測芯片;
根據所述待測芯片生成的測試輸出信號,生成查找表LUT,包括:
根據所述待測芯片生成的多個測試輸出信號,生成所述LUT。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述待測芯片生成的多個測試輸出信號,生成所述LUT,包括:
根據所述待測芯片生成的多個測試輸出信號,確定對應的多個功率輸出值;
根據所述多個功率輸出值,生成所述LUT。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據所述多個功率輸出值,生成所述LUT,包括:
判斷所述多個功率輸出值中是否存在超過預設門限范圍的功率值;
當所述多個功率輸出值中不存在超過所述預設門限范圍的功率值時,根據所述多個功率輸出值,生成所述LUT;
當所述多個功率輸出值中存在超過所述預設門限范圍的功率值時,輸出錯誤提示信息,并停止生成所述LUT。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據所述多個功率輸出值,生成所述LUT,包括:
判斷所述多個功率輸出值中是否存在超過預設門限范圍的功率值;
當所述多個功率輸出值中存在超過預設門限范圍的功率值時,確定超過所述預設門限范圍的功率值的個數與所述多個功率輸出值總數的比例;
當所述比例在預設比例范圍內時,根據所述多個功率輸出值,生成所述LUT。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取待測芯片的數據輸入接口的位寬,包括:
確定所述待測芯片的類型;
根據所述待測芯片的類型,確定所述待測芯片的數據輸入接口;
獲取所述數據輸入接口的位寬。
6.一種查找表生成裝置,其特征在于,所述裝置包括:
獲取模塊,用于獲取待測芯片的數據輸入接口的位寬;
控制模塊,用于根據所述數據輸入接口的位寬,控制輸入輸出設備生成對應的測試電平信號并發送給所述待測芯片;
生成模塊,用于根據所述待測芯片的測試輸出信號,生成查找表LUT;
所述控制模塊用于根據所述數據輸入接口的位寬,控制所述輸入輸出設備生成二進制全0到二進制全1對應的多個測試電平信號并發送給所述待測芯片;
所述生成模塊用于根據所述待測芯片生成的多個測試輸出信號,生成所述LUT。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述生成模塊包括:
確定模塊,用于根據所述待測芯片生成的多個測試輸出信號,確定對應的多個功率輸出值;
生成子模塊,用于根據所述多個功率輸出值,生成所述LUT。
8.一種查找表生成系統,其特征在于,所述系統包括權利要求6或7所述的查找表生成裝置和輸入輸出設備:
所述查找表生成裝置,分別與待測芯片和所述輸入輸出設備連接,用于獲取所述待測芯片的數據輸入接口的位寬,并根據所述數據輸入接口的位寬,向所述輸入輸出設備發送控制指令,以控制所述輸入輸出設備生成測試電平信號;
所述輸入輸出設備,與所述查找表生成裝置和所述待測芯片分別連接,用于接收所述控制指令,以及根據所述控制指令,生成對應的測試電平信號并發送給所述待測芯片,以使所述查找表生成裝置根據所述待測芯片的測試輸出信號,生成查找表LUT。
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