[發明專利]功率測量方法和電子設備

有效

• 申請號: 201810761175.2
• 申請日: 2018-07-12
• 公開（公告）號: CN108917923B
• 公開（公告）日: 2023-06-02
• 發明（設計）人: 陳業旺;阮雙琛;韓培剛;仇明俠;歐陽德欽;劉敏秋;陳燕平
• 申請（專利權）人: 深圳技術大學（籌）
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J3/28
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 歐志明

本發明公開了一種功率測量方法和電子設備，涉及光學領域，應用于電子設備，該電子設備包括：濾波單元、功率測量單元和多個光譜測量單元，該方法包括：通過多個該光譜測量單元，對來自超連續譜光源的光束進行測量，得到該光束的多個波段的光譜數據。將該多個波段的光譜數據進行拼接，得到該光束的總光譜數據。通過該濾波單元，對來自該超連續譜光源的光束進行濾波處理，得到預設波段的光束。通過該功率測量單元，對該預設波段的光束進行測量，得到該預設波段的光束的功率。根據該光束的總光譜數據和該預設波段的光束的功率，生成該光束的總功率。該方法可提高測量超連續譜光源的總功率的精確度。

技術領域

本發明涉及光學領域，尤其涉及一種功率測量方法和電子設備。

背景技術

隨著近年來科學技術的快速發展，超連續譜光源以其高亮度、高相干性和超帶寬等優點廣泛應用于光譜學、環境監測、化學傳感、生物化學以及紅外線對抗等民用和軍事領域。目前通常采用激光功率計測量超連續譜光源的總功率，但是超連續光譜光源的帶寬極寬，激光功率計的測量范圍有限，因此需采取多個激光功率計對超連續譜光源進行測量，而不同的激光功率計對于不同波段的激光功率的標定方法不同，因此存在超連續譜光源的總功率的測量不夠精確的問題。

發明內容

本發明實施例的主要目的在于提供一種功率測量方法和電子設備，可提高測量超連續譜光源的總功率的精確度。

本發明實施例第一方面提供了一種功率測量方法，應用于電子設備，所述電子設備包括：濾波單元、功率測量單元和多個光譜測量單元，所述方法包括：通過多個所述光譜測量單元，對來自超連續譜光源的光束進行測量，得到所述光束的多個波段的光譜數據；將所述多個波段的光譜數據進行拼接，得到所述光束的總光譜數據；通過所述濾波單元，對來自所述超連續譜光源的光束進行濾波處理，得到預設波段的光束；通過所述功率測量單元，對所述預設波段的光束進行測量，得到所述預設波段的光束的功率；根據所述光束的總光譜數據和所述預設波段的光束的功率，生成所述光束的總功率。

本發明實施例第二方面提供了一種電子設備，所述電子設備包括：多個光譜測量單元，用于對來自超連續譜光源的光束進行測量，得到所述光束的多個波段的光譜數據；拼接單元，與多個所述光譜測量單元相連，用于將所述多個波段的光譜數據進行拼接，得到所述光束的總光譜數據；濾波單元，用于對來自所述超連續譜光源的光束進行濾波處理，得到預設波段的光束；功率測量單元，與所述濾波單元相連，用于對所述預設波段的光束進行測量，得到所述預設波段的光束的功率；生成單元，與所述拼接單元和所述功率測量單元相連，用于根據所述光束的總光譜數據和所述預設波段的光束的功率，生成所述光束的總功率。

從上述實施例可知，通過多個光譜測量單元直接測量得到多個波段的光譜數據，通過濾波單元對光源進行濾波得到預設波段的光束，并通過功率測量單元直接測量該預設波段的光束，然后通過直接測量得到的多個波段的光譜數據和預設波段的功率計算得到光源的總功率，而不需利用不同波段的功率計對光源進行測量并求和得到光源的總功率，從而避免了不同波段的功率計的標定方法不同所引起的誤差，進而提高了測量超連續譜光源的總功率的精確度。

附圖說明

圖1是本發明提供的第一實施例中的功率測量方法的應用示意圖；

圖2是本發明提供的第一實施例中的功率測量方法的實現流程示意圖；

圖3是本發明提供的第二實施例中的功率測量方法的實現流程示意圖；

圖4是本發明提供的第三實施例中的電子設備的結構示意圖。

具體實施方式

為使得本發明的發明目的、特征、優點能夠更加的明顯和易懂，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而非全部實施例。基于本發明中的實施例，本領域技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。