[發明專利]功率測量方法和電子設備有效
| 申請號: | 201810761175.2 | 申請日: | 2018-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN108917923B | 公開(公告)日: | 2023-06-02 |
| 發明(設計)人: | 陳業旺;阮雙琛;韓培剛;仇明俠;歐陽德欽;劉敏秋;陳燕平 | 申請(專利權)人: | 深圳技術大學(籌) |
| 主分類號: | G01J1/00 | 分類號: | G01J1/00;G01J3/28 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 歐志明 |
| 地址: | 518000 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 功率 測量方法 電子設備 | ||
1.一種功率測量方法,其特征在于,應用于電子設備,所述電子設備包括:濾波單元、功率測量單元和多個光譜測量單元,所述方法包括:
通過多個所述光譜測量單元,對來自超連續譜光源的光束進行測量,得到所述光束的多個波段的光譜數據,所述多個波段的光譜數據中若干波段的光譜數據為對數光譜數據,剩余波段的光譜數據為線性光譜數據;
將所述多個波段的光譜數據進行拼接,得到所述光束的總光譜數據,包括:
將所述線性光譜數據轉換為轉換對數光譜數據,并在所述對數光譜數據和所述轉換對數光譜數據中選取任意一個光譜數據作為基準對數光譜數據;
在剩下的所述對數光譜數據和所述轉換對數光譜數據中,選取對應的波段與所述基準對數光譜數據的波段有重合的光譜數據,作為待拼接對數光譜數據;
基于所述基準對數光譜數據和所述待拼接對數光譜數據的重合波段,按照預設算法計算得到連接波長;
在所述基準對數光譜數據和所述待拼接對數光譜數據中,分別獲取與所述連接波長相應的基準對數強度值和待拼接對數強度值;
將所述待拼接對數強度值減去所述基準對數強度值,得到偏差值,并根據所述偏差值,將所述待拼接對數光譜數據中的全部對數強度值減去所述偏差值,以將所述待拼接對數光譜數據和所述基準對數光譜數據在所述連接波長處拼接在一起;
將拼接后的所述基準對數光譜數據和所述待拼接對數光譜數據作為新的基準對數光譜數據,并基于所述新的基準對數光譜數據,執行所述在剩下的所述對數光譜數據和所述轉換對數光譜數據中,選取對應的波段與所述基準對數光譜數據的波段有重合的光譜數據,作為待拼接對數光譜數據的步驟,直至將所述多個波段的光譜數據全部拼接在一起,得到所述光束的總對數光譜數據;
將所述光束的總對數光譜數據進行轉換,得到所述光束的總線性光譜數據;
通過所述濾波單元,對來自所述超連續譜光源的光束進行濾波處理,得到預設波段的光束;
通過所述功率測量單元,對所述預設波段的光束進行測量,得到所述預設波段的光束的功率;
根據所述光束的總光譜數據和所述預設波段的光束的功率,生成所述光束的總功率,包括:
將所述光束的總線性光譜數據進行求和,得到所述光束的光譜總強度;
在所述光束的總線性光譜數據中選取所述預設波段的光譜數據并進行求和,得到所述預設波段的光束的光譜強度;
根據所述光束的光譜總強度、所述預設波段的光束的光譜強度和所述預設波段的光束的功率,生成所述光束的總功率。
2.如權利要求1所述的功率測量方法,其特征在于,所述方法還包括:
將所述光束的光譜總強度除以所述光束的總功率,得到所述光束的光譜總強度和所述光束的總功率之間的比例值;
將所述光束的光譜總強度中的全部的強度值除以所述比例值,得到所述光束的光譜功率密度數據;
根據所述光束的總對數光譜數據、所述光束的總線性光譜數據和所述光束的光譜功率密度數據進行繪制,分別得到所述光束的總對數光譜圖、所述光束的總線性光譜圖和所述光束的功率密度分布圖。
3.如權利要求1所述的功率測量方法,其特征在于,按照如下公式根據所述光束的光譜總強度、所述預設波段的光束的光譜強度和所述預設波段的光束的功率,生成所述光束的總功率:
式中,表示所述光束的總功率,表示所述光束的光譜總強度,表示所述預設波段的光束的光譜強度,表示所述預設波段的光束的功率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳技術大學(籌),未經深圳技術大學(籌)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810761175.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種激光功率的量子測量方法
- 下一篇:UV紫外線檢測與計時電子鎮流器





