[發明專利]檢測中空零件泄露的方法和實施該方法的裝置

有效

• 申請號: 201810738910.8
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN109211485B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 讓·呂克·里杰夫;尤里·多爾戈魯基;布萊恩·布萊特
• 申請（專利權）人: 亞得克
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 北京戈程知識產權代理有限公司 11314
• 代理人: 程偉;王錦陽

一種檢測中空零件泄露的方法，所述方法包括以下步驟：密封所述中空零件，在所述中空零件內部與相鄰的隔室或箱體之間建立一個壓差P1和P2，將示蹤氣體注入由所述中空零件和所述隔室或所述箱體之一的內部形成的注入室中，等待積累時間T，然后進行濃縮階段，至少提取部分所述中空部分和所述隔室或所述箱體中的另一個的內部形成的控制室的內容物，其中沒有注入示蹤氣體，以便將控制室內容物可能含有的示蹤氣體濃縮到可以取樣的體積，然后在所述可以取樣的體積中尋找是否存在示蹤氣體。

技術領域

本發明涉及中空零件的泄漏檢測，其密封性是必須檢測的。

更加確切而言，本發明涉及使用示蹤氣體來檢測類似的泄漏。

本發明主要應用于工業用途零件的生產領域，比如汽車工業，為了檢測各種部件的泄漏，其操作需要完全密封。

背景技術

在使用示蹤氣體來檢測泄漏的技術當中，某些技術是用這種氣體對需要檢測的零件內部加壓，將其置于一個房間內，以便檢測從零件向房間泄露的微量的氣體數量。其他技術，相反，將需要檢測的零件置于富含示蹤氣體的環境中，尋找待檢測零件內部是否存在這種氣體。

還有已知的技術，特別是針對微量泄露，將待檢測零件內部置于非常高的真空下，然后檢測可能進入零件的示蹤氣體的分子。

以及，美國專利US-A-5,661,229，描述了一種檢測方法，在氦氣檢測空間內，通過一層石英玻璃，設計成只允許這種氣體通過。

專利申請WO-1-2017012904描述了一種密封產品密封性的檢測工藝方法，也使用氦氣作為示蹤氣體，根據這種方法，利用質譜儀來測量氦氣的濃度。

這些技術的一個缺點是，需要首先創建高真空度環境，這就增加了這些技術應用的成本。實際上類似高真空度環境需要使用價格昂貴的材料和大量的維護工作。光譜儀的使用也增加了成本。

其他的技術，不需要利用高真空度的，是對待檢測示蹤氣體的零件加壓，利用嗅探器型探測器尋找泄漏。此外，類似方法還可以定位泄露的部位。然而，采用這些技術，不能對零件整體進行檢測，由于嗅探器不能足夠接近泄漏處，不能檢測到泄漏。有時候，泄露點根本無法進入。

其他的技術，也不需要采用高真空度的，是將待檢測零件密封，將其置于一個箱體中，對房間加壓并使箱體處于大氣壓下，然后等待足夠長的時間，然后使用對這種氣體敏感的探測器檢測可能存在的示蹤氣體。

類似技術，所謂的積累型，其缺點是應用需要較長時間，這不太符合待檢測零件生產效率的要求。

此外，積累以后的示蹤氣體濃度較低，市場上現有檢測器無法檢測。

因此，需要對以前檢測泄露的工藝方法進行替代，以便降低成本，同時縮短檢測時間并可以檢測微量的泄露。

發明內容

本發明目的是提出一種檢測中空零件泄露的方法，其克服了上述工藝的至少某些缺點。

特別是，本發明的一個目的是描述不需要高真空度環境的工藝方法。

本發明的另一個目的是提出需要較短時間檢測示蹤氣體的一種工藝方法。

再者，本發明的另一個目的是，提出一種方法，該方法允許由相同的市售示蹤氣體檢測器檢測較小的泄漏。。

由于本發明將得以實現下文中出現的這些和其他目的，本發明涉及一種中空零件泄露檢測工藝方法，包括所述中空零件需要密封階段，在該中空零件內部與檢測室或箱體之間建立一個壓差P1和P2，將示蹤氣體注入由中空零件和所述隔室或所述箱體之一的內部形成的注入室中，等待積累時間T，然后進行濃縮階段，至少部分提取所述中空零件和所述隔室或所述隔室中的另一個的內部形成的控制室的內容物，其中沒有注入示蹤氣體，以便將控制室內容物可能含有的示蹤氣體濃縮到可以取樣的體積，然后在該取樣體積中尋找是否存在示蹤氣體。