[發明專利]檢測中空零件泄露的方法和實施該方法的裝置有效
| 申請號: | 201810738910.8 | 申請日: | 2018-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN109211485B | 公開(公告)日: | 2022-07-26 |
| 發明(設計)人: | 讓·呂克·里杰夫;尤里·多爾戈魯基;布萊恩·布萊特 | 申請(專利權)人: | 亞得克 |
| 主分類號: | G01M3/20 | 分類號: | G01M3/20 |
| 代理公司: | 北京戈程知識產權代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽 |
| 地址: | 法國勒克*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 中空 零件 泄露 方法 實施 裝置 | ||
1.一種檢測中空零件(1,31)泄露的方法,所述方法包括以下步驟:密封所述中空零件(1,31),在所述中空零件(1,31)內部與相鄰的隔室或箱體(2,32)內部之間建立一個壓力差,所述中空零件(1,31)內部的第一壓力設定為P1,所述相鄰的隔室或箱體(2,32)內部的第二壓力設定為P2,將示蹤氣體注入由所述中空零件和所述隔室或所述箱體之一的內部形成的注入室中,等待積累時間T,然后進行濃縮步驟,包括提取由中空零件或所述隔室或所述箱體中的另一個的內部形成的控制室的至少部分內容物,其中所述中空零件或所述隔室或所述箱體中沒有注入示蹤氣體,以便將控制室內容物可能含有的示蹤氣體濃縮到可以取樣的體積,然后在所述可以取樣的體積中尋找是否存在所述示蹤氣體,其特征在于,所述取樣通過膨脹然后再壓縮的序列進行,包括膨脹所述控制室的所述內容物的第一個步驟,以便向濃縮室填充取樣體積,接著是再次壓縮所述取樣體積的第二個步驟,以便在所述取樣體積中識別所述示蹤氣體的步驟之前,保證所述取樣體積的濃度。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括用于膨脹然后再壓縮所述控制室的所述內容物的多個序列,包括所述序列的至少兩次連續迭代,所述迭代的目的是保證所述取樣體積均勻混合,以便確保示蹤氣體的測量可靠。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括混合所述控制室內容物的附加步驟,以防止所述控制室出現任何靜止區域,所述附加步驟利用屬于下列組的裝置,包括:
-控制室內容物突然膨脹和再次壓縮的裝置;
-由控制室腔室內風扇或所述腔室外部渦輪機組成的動態混合裝置;
-由所述腔室內部表面構造組成的靜態混合裝置。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,搜尋示蹤氣體的步驟在位于所述濃縮室下游處的檢測室中進行,所述濃縮室與所述檢測室之間的連通回路包含限制器(49)。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在所述濃縮室中使用與取樣體積接觸的氣體檢測器搜索所述示蹤氣體的步驟。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,搜索所述示蹤氣體的步驟在位于所述濃縮室下游的檢測室中進行,所述濃縮室與所述檢測室之間的連通回路包括膜過濾單元(6,7)。
7.一種檢測中空零件(1,31)泄露的方法,所述中空零件包括隔室A和與所述隔室A相鄰的隔室B,所述方法包括以下步驟:密封所述隔室A和所述中空零件(1,31)內的所述隔室B,在已經密封所述隔室之后,以第一壓力P1對所述隔室A或相鄰的所述隔室B中的一個內部的示蹤氣體加壓,在所述隔室A和所述相鄰隔室B中的另一個內部以小于P1的第二壓力P2對不同于所述示蹤氣體的另一種氣體加壓,等待積累時間T,然后進行濃縮步驟,包括提取由所述隔室A或所述隔室B中的另一個的內部形成的控制室的至少部分內容物,其中所述隔室A或所述隔室B中沒有注入示蹤氣體,以便將控制室內容物可能含有的示蹤氣體濃縮到可以取樣的體積,然后在所述可以取樣的體積中尋找是否存在所述示蹤氣體,其特征在于,所述取樣通過膨脹然后再壓縮的序列進行,包括膨脹所述控制室的所述內容物的第一個步驟,以便向濃縮室填充取樣體積,接著是再次壓縮所述取樣體積的第二個步驟,以便在所述取樣體積中識別所述示蹤氣體的步驟之前,保證所述取樣體積的濃度。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:將預先密封的所述中空零件放置在形成箱體的隔室中,在壓力P1下對所述中空零件和所述箱體之一內的所述示蹤氣體加壓,在壓力P2P1下對與所述中空零件和所述箱體中的另一個內的與所述示蹤氣體不同的另一種氣體加壓,等待積累時間T,收集并濃縮所述中空零件或所述箱體的全部或部分內容物,其中沒有注入所述示蹤氣體,以便在下游的體積中濃縮可能包含在沒有注入所述示蹤氣體的所述中空零件或所述箱體中的所述示蹤氣體。
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