[發明專利]結構光模組標定方法、電子設備、計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201810737539.3
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN110689581B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 張弓
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 方高明

本申請涉及一種結構光模組標定方法、裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質。所述方法包括：獲取結構光模組中的攝像頭的內參和外參，并根據所述內參和外參獲取所述攝像頭的畸變參數；根據所述結構光模組的測距范圍、基線長度和攝像頭焦距得到參考視差范圍，所述基線長度表示結構光模組中的投射器和攝像頭之間的距離；根據所述參考視差范圍及畸變參數獲取每個像元對應的第一畸變視差和第一參考視差；根據每個像元的第一畸變視差和第一參考視差進行擬合得到每個像元的第一視差校正系數。

技術領域

本申請涉及影像技術領域，特別是涉及一種結構光模組標定方法和裝置、電子設備、計算機可讀存儲介質。

背景技術

隨著電子設備和影像技術的發展，越來越多的用戶使用電子設備的結構光模組采集圖像的深度信息。為了采集圖像的深度信息，結構光模組在出廠前需要進行標定。傳統結構光模組標定方法的深度計算精度低。

發明內容

本申請實施例提供一種結構光模組標定方法和裝置、電子設備、計算機可讀存儲介質，可以提高結構光模組的深度計算精度。

一種結構光模組標定方法，包括：

獲取結構光模組中的攝像頭的內參和外參，并根據所述內參和外參獲取所述攝像頭的畸變參數；

根據所述結構光模組的測距范圍、基線長度和攝像頭焦距得到參考視差范圍，所述基線長度表示結構光模組中的投射器和攝像頭之間的距離；

根據所述參考視差范圍及畸變參數獲取每個像元對應的第一畸變視差和第一參考視差，其中，第一畸變視差為目標散斑圖與參考散斑圖中對應特征點在基線方向上的實際偏移值，第一參考視差為目標散斑圖與參考散斑圖中對應的特征點在基線方向上的參考偏移值；

根據每個像元的第一畸變視差和第一參考視差進行擬合得到每個像元的第一視差校正系數。

一種結構光模組標定裝置，包括：

參數獲取模塊，用于獲取結構光模組中的攝像頭的內參和外參，并根據所述內參和外參獲取所述攝像頭的畸變參數；

視差范圍確定模塊，用于根據所述結構光模組的測距范圍、基線長度和攝像頭焦距得到參考視差范圍，所述基線長度表示結構光模組中的投射器和攝像頭之間的距離；

視差確定模塊，用于根據所述參考視差范圍及畸變參數獲取每個像元對應的第一畸變視差和第一參考視差，其中，第一畸變視差為目標散斑圖與參考散斑圖中對應特征點在基線方向上的實際偏移值，第一參考視差為目標散斑圖與參考散斑圖中對應的特征點在基線方向上的參考偏移值；

擬合模塊，用于根據每個像元的第一畸變視差和第一參考視差對進行擬合得到每個像元的第一視差校正系數。

一種電子設備，包括存儲器及處理器，所述存儲器中儲存有計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時，使得所述處理器執行所述的結構光模組標定方法的步驟。

一種非易失性計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現所述的結構光模組標定方法的步驟。

本申請實施例中結構光模組標定方法、裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質，根據結構光模組的基線長度、測距范圍、攝像頭焦距等確定參考視差范圍，根據畸變參數得到每個像元的第一參考視差和第一畸變視差，對第一參考視差和第一畸變視差進行擬合得到每個像元的第一視差校正系數，不需要對圖像進行校正，不會損失邊緣信息，提高了深度計算精度。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。