[發明專利]結構光模組標定方法、電子設備、計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201810737539.3
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN110689581B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 張弓
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 方高明

1.一種結構光模組標定方法，其特征在于，包括：

獲取結構光模組中的攝像頭的內參和外參，并根據所述內參和外參獲取所述攝像頭的畸變參數；

根據所述結構光模組的測距范圍、基線長度和攝像頭焦距得到參考視差范圍，所述基線長度表示結構光模組中的投射器和攝像頭之間的距離；

根據所述參考視差范圍及畸變參數獲取每個像元對應的第一畸變視差和第一參考視差，其中，第一畸變視差為考慮畸變影響情況下目標散斑圖與參考散斑圖中對應特征點在基線方向上的實際偏移值，第一參考視差為不考慮畸變影響情況下目標散斑圖與參考散斑圖中對應的特征點在基線方向上的參考偏移值；所述目標散斑圖是拍攝目標物體反射的散斑圖案得到；所述參考散斑圖是拍攝標定板反射的散斑圖案得到；

根據每個像元的第一畸變視差和第一參考視差進行擬合得到每個像元的第一視差校正系數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取至少2個與所述攝像頭不同距離的標定平板的深度圖得到多距離深度圖，根據所述多距離深度圖得到每個像元的第二參考視差，其中，至少2個與所述攝像頭不同距離包括一個與所述攝像頭之間的距離小于參考距離，一個與所述攝像頭之間的距離大于所述參考距離，所述參考距離為參考平面與所述攝像頭之間的距離，其中，第二參考視差為多距離深度圖對應的散斑圖與參考散斑圖中對應散斑點在基線方向上的參考偏移值；

根據每個像元的第一視差校正系數對所述多距離深度圖進行校正，得到校正后的多距離深度圖；

根據所述校正后的多距離深度圖得到第二畸變視差，其中，第二畸變視差為多距離深度圖所對應的散斑圖與參考散斑圖中對應的散斑點在基線方向上的實際偏移值；

根據每個像元的第一畸變視差、第一參考視差、第二畸變視差和第二參考視差進行擬合得到每個像元的第二視差校正系數，并根據每個像元的第二視差校正系數得到所述攝像頭的第二視差校正系數矩陣。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述第二視差校正系數矩陣對所述多距離深度圖進行校正；

根據校正后的多距離深度圖對所述基線長度進行校正。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述校正后的多距離深度圖得到第二畸變視差，包括：

采用攝像頭的內參將所述校正后的多距離深度圖轉化為點云；

選取所述多距離深度圖的預設區域所對應的點云進行擬合得到擬合平面；

根據所述攝像頭的內參和多距離深度圖得到每個像元在攝像頭坐標系的矢量，將所述像元在攝像頭坐標系的矢量與所述擬合平面的交點作為所述像元的目標深度，根據所述目標深度得到第二畸變視差。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述內參和外參獲取所述攝像頭的畸變參數，包括：

獲取所述攝像頭采集的標定圖像中的特征點，根據所述內參和外參及標定圖像中的特征點得到目標點點集和畸變點點集，采用分塊曲面函數對所述目標點點集和畸變點點集進行擬合得到所述攝像頭的畸變參數，其中，所述分塊曲面函數在塊與塊之間連續可導，且擬合結果連續。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述采用分塊曲面函數對所述目標點點集和畸變點點集進行擬合得到所述攝像頭的畸變參數，包括：

將目標點點集按照塊區間進行劃分，對劃分后的各塊的目標點點集與對應的畸變點點集采用分塊曲面函數擬合得到各塊的擬合系數，根據各塊的擬合系數得到所述攝像頭的畸變參數。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述塊區間的大小相同或不同。

8.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述分塊曲面函數為B樣條函數、自由曲面函數、zernike多項式函數中一種。