[發明專利]平行平板波導測量裝置及方法

在審

• 申請號: 201810737509.2
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN108872268A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 閆煥磊;時西航;許弘毅;高振
• 申請（專利權）人: 深圳凌波近場科技有限公司
• 主分類號: G01N22/00
• 分類號: G01N22/00
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 鄭海峰

本發明公開了一種平行平板波導測量裝置及方法，平行平板波導測量裝置包括：可拆卸式上板束波裝置、二維平面移動系統、計算機、矢量網絡分析儀、升降臺、水平調節裝置和近場測量探頭?？刹鹦妒缴习迨ㄑb置包括上板和支撐上板的框架，上板上設有探測口；近場測量探頭在探測口內被夾持固定；所述升降臺固定在二維平面坐標移動系統上，水平調節裝置固定在升降臺上；所述的二維平面移動系統通過計算機控制帶動升降臺在X軸和Y軸方向移動；水平調節裝置的上表面和上板均為金屬材質且平行設置。本發明的裝置適用于測量平行平板的電磁場，適用于測量樣品在垂直電場中的電磁場分布，適用于對電磁束縛空間中的電磁場進行快捷而又高質量的成像。

背景技術

本發明屬于微波近場測量技術領域，具體涉及一種平行平板波導測量裝置及方法。

背景技術

微波近場測量技術對環境要求低，不需要造價昂貴的暗室環境，也不需要對射頻系統有很高的要求，對設備的要求較低，近場測量通過對樣品的表面做掃描運動，采集樣品近場區域輻射場的數據，然后通過近場遠場變換算法由計算機用近場數據推出遠場數據。只要保證測量精度就可得出較為準確的遠場特性。

然而現有技術還無法對平行平板波導測量獲得平行平板內部空間的電磁場的分布，對于平行平板的測量一般是用矩形波導來代替。對于矩形波導的測量現有技術是通過測量矩形波導開口兩端的數據，獲得腔內電磁波的S參數，但無法獲得內部電磁場數據。

對于電磁束縛空間(如波導或諧振器(腔)等)中的電磁場缺乏合適的方法進行快捷而又高質量的成像，目前的的技術方式是在矩形波導或諧振器(腔)的寬壁上面沿引導波方向開等距間隔的測量孔；讓微波探頭伸入矩形波導內部測量電磁場的場的分布，但是這種方式獲得的電磁場的場分布分辨率比較低，且分辨率不能隨意改動；探針每個點的測量都需要抬起-移動-下降，浪費時間導致實驗效率低下。

現有技術對于一些樣品(光子晶體、負折射材料等)在垂直電場中激發的出電磁場的測量獲得的電磁場幅度和相位數據分辨率比較低、精確度不高，且分辨率不能隨意改動，如果需要不同的分辨率就需要多個同規格樣品開不同間距規格的探測孔，實驗成本高、效率低。

發明內容

本發明的目的是克服已有技術的缺陷，提出了一種平行平板波導測量裝置及方法。

本發明的平行平板波導測量裝置包括：可拆卸式上板束波裝置、二維平面移動系統、計算機、矢量網絡分析儀、升降臺、水平調節裝置和近場測量探頭；

所述計算機與矢量網絡分析儀相連，矢量網絡分析儀的輸入端通過射頻連接線與近場測量探頭相連，矢量網絡分析儀的輸出端通過射頻連接線與樣品或激發探針相連，可拆卸式上板束波裝置包括上板和支撐上板的框架，上板上設有探測口；近場測量探頭在探測口內被夾持固定；所述升降臺固定在二維平面坐標移動系統上，水平調節裝置固定在升降臺上；所述的二維平面移動系統通過計算機控制帶動升降臺在X軸和Y軸方向的移動；水平調節裝置的上表面和上板均為金屬材質且平行設置。

作為本發明的優選方案，所述的水平調節裝置包括下平板、支撐限位板和若干水平調節件；所述的支撐限位板上表面設有與下平板形狀相同的凹陷部，所述的凹陷部用于安裝下平板；水平調節件固定在支撐限位板上，下平板底部由所述的若干水平調節件進行支撐。

作為本發明的優選方案，所述的水平調節件均勻分布在所述下平板邊緣的下方。所述的水平調節件為調節螺栓。