[發明專利]兩用可拆式測試針結構

有效

• 申請號: 201810732627.4
• 申請日: 2018-07-05
• 公開（公告）號: CN110687324B
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 蔡伯晨;陳威助;呂彥輝;鄭文瑛;謝健堉
• 申請（專利權）人: 臺灣中國探針股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;李林

本發明提供一種兩用可拆式測試針結構，供以針對待測物進行電性檢測，包含一本體及一檢測接頭。該本體一端具有至少一第一旋卡部，且該本體是中空，以供容置探針；檢測接頭是中空狀，且檢測接頭的一端對應第一旋卡部設有至少一第二旋卡部，以使本體與檢測接頭可以旋轉方式相互卡合組接或卸除，檢測接頭的另一端具有一電性接觸部及一穿孔，穿孔供探針穿出，電性接觸部則供與待測物接觸以形成導通，如此可有效提升更換速率，并于組裝后具備足夠剛性與準直度而利于測試結構下壓檢測待測物電性狀態。

技術領域

本發明涉及一種電性測試結構，尤其是一種可快速拆卸組裝，且利于依據檢測需求更換對應測試探頭，進而得以提升檢測速率與效能的兩用可拆式測試針結構。

背景技術

為利于得知各類電子產品制成后的電性狀態是否符合需求，一般可通過如電性檢測針等用品作為檢測用具。單一的電性檢測針本身即具有檢測功能，然實際的電子產品須檢測的電性接點數量繁多，是以往往需將大量電性檢測針安裝于檢測機臺以提升整體檢測速率。

一般來說，電性檢測針系指設置于機臺，供與待測電子產品接觸電性導通的裝置，整體是一體成型的結構，一端供與待測產品接觸，另一端則通過以導線焊接固定的方式安裝在機臺上，而可檢驗待測產品的電流狀態等電性參數。供以檢測電子產品的機臺依據不同的電性檢測需求，大多會分為諸多載區，于各載區中即設置有大量的電性檢測針，電子產品即可逐一移往各載區進行對應的檢測。

然，實際檢測應用上，基于檢測精確度與安全需求，電性檢測針于使用一定次數后即須加以更換，由于機臺各載區中都裝設有數量龐大的電性檢測接頭，少則數十多則數萬，而受限于電性檢測接頭一體成型的結構，因此于拆卸更換時需將焊接導線剪除或移除，再把電性檢測針取下，而后換上新的電性檢測針時，需再執行導線焊接接合作業，因此相當地不便，需要耗費大量人工成本與時間成本。另一方面，當檢測機臺各載區因應不同的待測產品而需更換至對應規格的電性檢測針時，同樣遭遇需耗費大量成本的窘境。

有鑒于此，本發明人系集結多年從事相關行業的經驗，構思一種兩用可拆式測試針結構，俾能解決目前于電性檢測方面仍存有的缺失。

發明內容

本發明的一目的，旨在提供一種兩用可拆式測試針結構，以有效減低更換作業所需時間，并可因應檢測物件的規格種類快速更替所需的接頭，大幅提升適用性。

為達上述目的，本發明揭示一種兩用可拆式測試針結構，供以針對待測物進行電性檢測，包含：一本體，其一端具有至少一第一旋卡部，且該本體是中空，以供容置探針；及一檢測接頭，是中空狀，且該檢測接頭的一端對應該第一旋卡部設有至少一第二旋卡部，以使該本體與該檢測接頭可以旋轉方式相互卡合組接或卸除，該檢測接頭的另一端具有一電性接觸部及一穿孔，該穿孔供探針穿出，該電性接觸部則供與待測物接觸以形成導通。如此，即可利用該第一旋卡部及該第二旋卡部有效達到快速拆裝的目的，大幅縮減更換接頭所需工時，并據此使得該兩用可拆式測試針結構得以快速地匹配各類待測物規格進行檢測。

于一實施例中，該第一旋卡部為一滑孔，該第二旋卡部為一凸柱，該第一旋卡部具有一卡固端及一連接端，且該卡固端的寬度小于該連接端的寬度，于組裝時該第二旋卡部自該連接端穿設于該第一旋卡部內并移動至該卡固端后，即使該本體與該檢測接頭相互組接固定，如此可快速穩固定組裝或拆卸該檢測接頭。

其中，該第二旋卡部的數量為N個時，呈等間隔環狀排列，且相鄰的該些第二旋卡部的夾設角度是360/N，該第一旋卡部則對應該第二旋卡部設置，如此以于組裝或拆卸時更為穩固地施力，且在檢測過程中也可更防止軸心偏移的現象發生。

于一實施例中，該電性接觸部是復數導電金屬條，該復數導電金屬條沿該穿孔周緣呈環狀排列設置，如此該兩用可拆式測試針結構可通過該復數導電金屬條達到分流功能，而可運用至大電流檢測范疇。