[發明專利]兩用可拆式測試針結構

有效

• 申請號: 201810732627.4
• 申請日: 2018-07-05
• 公開（公告）號: CN110687324B
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 蔡伯晨;陳威助;呂彥輝;鄭文瑛;謝健堉
• 申請（專利權）人: 臺灣中國探針股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;李林

1.一種兩用可拆式測試針結構，供以針對待測物進行電性檢測，其特征是包含：

一本體，其一端具有至少一第一旋卡部，且該本體是中空，以供容置探針；及

一檢測接頭，是中空狀，且該檢測接頭的一端的端面位置對應該第一旋卡部設有至少一第二旋卡部，以使該本體與該檢測接頭能夠以旋轉方式相互卡合組接或卸除，該檢測接頭的另一端具有一電性接觸部及一穿孔，該穿孔供探針穿出，該電性接觸部則供與待測物接觸以形成導通；該檢測接頭具有一對位缺口，該本體具有一對位孔，當該檢測接頭組接至該本體后，該對位缺口與該對位孔相對應，而能夠通過一定位件插設固定；

其中，該檢測接頭具有一外殼體及一內基座，該外殼體套設于該內基座外側并具有復數溝槽，且該內基座具有該第二旋卡部及該電性接觸部；

該第一旋卡部為形成于該本體的端面上的一滑孔，該第二旋卡部為形成于該檢測接頭的端面上的一凸柱，該第一旋卡部具有一卡固端及一連接端，且該卡固端的寬度小于該連接端的寬度，在組裝時該第二旋卡部自該連接端穿設于該第一旋卡部內并移動至該卡固端后，能夠使該本體與該檢測接頭相互組接固定；

還具有一導電彈片，該導電彈片設于該電性接觸部，且該電性接觸部的表面具有復數凹槽及復數尖銳凸肋，該復數尖銳凸肋布設于未設置該復數凹槽的區域，該復數凹槽以該穿孔為中心呈放射狀排列設置；該導電彈片具有復數導腳部，該復數導腳部對應該復數凹槽呈放射狀設置，以對應位于該復數凹槽內，且在該電性接觸部與待測物接觸導通時，該復數導腳部能夠沿待測物表面向外滑移；

各該導腳部具有兩個上區段及一下區段，該下區段連接設于兩個該上區段之間且呈凹弧狀，進而使該復數導腳部與待測物接觸時，該下區段的弧面能夠沿待測物表面滑移。

2.根據權利要求1所述的兩用可拆式測試針結構，其特征在于，該第二旋卡部的數量為N個時，呈等間隔環狀排列，且相鄰的第二旋卡部的夾設角度是360/N，該第一旋卡部則對應該第二旋卡部設置。

3.根據權利要求1或2所述的兩用可拆式測試針結構，其特征在于，該檢測接頭外表面設有復數溝槽，以利于握持施力。

4.根據權利要求1或2所述的兩用可拆式測試針結構，其特征在于，該本體對應與該檢測接頭組裝的一端在與該檢測接頭旋轉組固后延伸至該檢測接頭內部。