[發明專利]檢測系統及其方法

在審

• 申請號: 201810726243.1
• 申請日: 2018-07-04
• 公開（公告）號: CN108709892A
• 公開（公告）日: 2018-10-26
• 發明（設計）人: 侯文峰;吳盛鈞
• 申請（專利權）人: 杭州智感科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 寧波理文知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 33244
• 代理人: 羅京;孟湘明

1.一檢測系統，供檢測某一被測物體，其特征在于，包括：

一圖像獲取單元，其中所述圖像獲取單元具有一視場；和

一反射單元，其中所述反射單元被設置于所述圖像獲取單元的所述視場，并當該被測物體處于所述圖像獲取單元的所述視場中的一預定位置時，所述反射單元將該被測物體的一表面的一不可視區域的至少一部分的影像反射至所述圖像獲取單元，使得所述圖像獲取單元獲取該被測物體的該表面的該不可視區域的至少一部分的圖像，以生成一圖像信息，其中所述圖像信息包括該被測物體的該表面的一可視區域和該被測物體的該表面的該不可視區域的至少一部分，其中該不可視區域為該被測物體的該表面上不能被所述圖像獲取單元直接拍攝到的區域。

2.如權利要求1所述的檢測系統，其中，所述反射單元包括至少一第一反射模塊，其中每所述第一反射模塊具有一第一反射面，當該被測物體處于所述預定位置時，所述第一反射模塊的所述第一反射面通過一次反射將該被測物體的該表面的該不可視區域的至少一部分的影像反射至所述圖像獲取單元。

3.如權利要求2所述的檢測系統，其中，所述圖像獲取單元和所述第一反射模塊分別被設置于一流水線的相對的兩側，其中當該被測物體處于所述預定位置時，所述圖像獲取單元、所述第一反射模塊以及該被測物體處于同一平面，以通過所述第一反射面將該被測物體的一外周表面的影像反射至所述圖像獲取單元。

4.如權利要求3所述的檢測系統，其中，所述反射單元還包括一第二反射模塊，并且所述第二反射模塊位于該流水線的上方，其中所述第二反射模塊具有一第二反射面，其中當該被測物體處于所述預定位置時，所述第二反射模塊的所述第二反射面位于該被測物體的上方，以通過所述第二反射面將該被測物體的一頂表面的影像反射至所述圖像獲取單元。

5.如權利要求2所述的檢測系統，其中，所述圖像獲取單元和所述第一反射模塊分別被設置于一流水線的相對的兩側，其中當該被測物體處于所述預定位置時，所述圖像獲取單元位于該被測物體的側上方，使得該被測物體的該表面的該可視區域包括該被測物體的一外周表面的一部分和該被測物體的一頂表面。

6.如權利要求2所述的檢測系統，其中，所述圖像獲取單元被設置于一流水線的正上方，所述第一反射模塊被設置于該流水線的一側，其中當該被測物體處于所述預定位置時，所述圖像獲取單元位于該被測物體的正上方，所述第一反射模塊位于該被測物體的周圍，以通過所述第一反射面將該被測物體的一外周表面的影像反射至所述圖像獲取單元。

7.如權利要求1所述的檢測系統，其中，所述反射單元包括至少一反射模塊組，其中所述反射模塊組和所述圖像獲取單元被設置于一流水線的同一側，當該被測物體處于所述預定位置時，每所述反射模塊組通過二次反射將該被測物體的該表面的該不可視區域的至少一部分的影像反射至所述圖像獲取單元。

8.如權利要求7所述的檢測系統，其中，每所述反射模塊組包括一第三反射模塊和一第四反射模塊，其中所述第三反射模塊有一第三反射面，所述第四反射模塊具有一第四反射面，并且所述第三反射面和所述第四反射面以面對面的方式被設置，其中當該被測物體處于所述預定位置時，先通過所述第三反射面將該被測物體的一外周表面的影像反射至所述第四反射面后，再通過所述第四反射面將該被測物體的該外周表面的影像反射至所述圖像獲取單元。

9.如權利要求8所述的檢測系統，其中，所述反射單元還包括至少一第一反射模塊，并且每所述第一反射模塊具有一第一反射面，其中所述圖像獲取單元和所述第一反射模塊分別被設置于該流水線的相對的兩側，當該被測物體處于所述預定位置時，所述第一反射模塊的所述第一反射面通過一次反射將該被測物體的該表面的該不可視區域的至少一部分的影像反射至所述圖像獲取單元。

10.如權利要求2至6中任一所述的檢測系統，其中，所述第一反射模塊為一平面反射鏡。