[發明專利]磁盤生命周期分析方法及裝置

有效

• 申請號: 201810696875.8
• 申請日: 2018-06-29
• 公開（公告）號: CN108959028B
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 馬智昊;張平
• 申請（專利權）人: 北京奇虎科技有限公司
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開了一種磁盤生命周期分析方法及裝置，所述方法包括：獲取目標磁盤的監控指標信息；根據監控指標信息，生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線；根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間。采用本方案，可實現對磁盤失效時間的自動化預測，避免因磁盤故障造成的數據丟失或損壞問題，提高磁盤性能的測試效率，大大降低人力成本；并且，本方案實施過程簡單易行，適于大規模應用及實施。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，具體涉及一種磁盤生命周期分析方法及裝置。

背景技術

隨著信息化社會的不斷發展，各類數據呈現井噴式的增長，從而需大量的存儲介質來實現對數據的存儲。而磁盤以其存儲性能高、存儲容量大、存儲可靠性高等特點成為重要的存儲介質之一。

在使用磁盤對數據存儲過程中，由于磁盤的正常磨損、人為操作、及環境影響等會造成磁盤的失效，從而引發磁盤中存儲的數據的破壞或丟失，所以，磁盤性能的檢測尤為重要。

然而，目前在對磁盤性能的檢測過程中，通常是收集當前磁盤性能數據，確定當前磁盤的可用性，從而使得對磁盤性能的檢測具有較高的滯后性，提高數據的存儲風險；并且，現有技術中需運維或采購人員等以人工的方式判斷磁盤的失效時間，從而大大降低磁盤的性能測試效果，提高磁盤維護的人力成本。

發明內容

鑒于上述問題，提出了本發明以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的磁盤生命周期分析方法及裝置。

根據本發明的一個方面，提供了一種磁盤生命周期分析方法，包括：

獲取目標磁盤的監控指標信息；

根據所述監控指標信息，生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線；

根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間。

根據本發明的另一方面，提供了一種磁盤生命周期分析裝置，包括：

獲取模塊，適于獲取目標磁盤的監控指標信息；

生成模塊，適于根據所述監控指標信息，生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線；

分析模塊，適于根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間。

根據本發明的又一方面，提供了一種計算設備，包括：處理器、存儲器、通信接口和通信總線，所述處理器、所述存儲器和所述通信接口通過所述通信總線完成相互間的通信；

所述存儲器用于存放至少一可執行指令，所述可執行指令使所述處理器執行上述磁盤生命周期分析方法對應的操作。

根據本發明的再一方面，提供了一種計算機存儲介質，所述存儲介質中存儲有至少一可執行指令，所述可執行指令使處理器執行如上述磁盤生命周期分析方法對應的操作。

根據本發明提供的磁盤生命周期分析方法及裝置，通過獲取目標磁盤的監控指標信息；根據監控指標信息，生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線；最終根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間。采用本方案，可實現對磁盤失效時間的自動化預測，避免因磁盤故障造成的數據丟失或損壞問題，提高磁盤性能的測試效率，大大降低人力成本；并且，本方案實施過程簡單易行，適于大規模應用及實施。

上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和其它目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉本發明的具體實施方式。

附圖說明